[發明專利]形狀匹配方法、計算機設備及存儲裝置在審
| 申請號： | 202010859368.9 | 申請日： | 2020-08-24 |
| 公開（公告）號： | CN112101379A | 公開（公告）日： | 2020-12-18 |
| 發明（設計）人： | 李玥 | 申請（專利權）人： | 北京配天技術有限公司 |
| 主分類號： | G06K9/46 | 分類號： | G06K9/46;G06K9/62 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 黎堅怡 |
| 地址： | 100085 北京市海*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 形狀 匹配 方法 計算機 設備 存儲 裝置 | ||
1.一種形狀匹配方法，其特征在于，所述方法包括：
獲取第一梯度角，所述第一梯度角為模板邊緣點的梯度角，所述模板邊緣點為模板圖像中的邊緣像素點；
獲取第二梯度角，所述第二梯度角為比對點的梯度角，所述比對點為待搜索圖像的搜索區域圖像中與所述模板邊緣點對應的像素點，其中，所述第二梯度角與所述第一梯度角之差的絕對值小于360度；
計算所述第一梯度角在所述模板邊緣點中的分布規律與所述第二梯度角在所述比對點中的分布規律之間的匹配參數。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，
所述計算所述第一梯度角在所述模板邊緣點中的分布規律與所述第二梯度角在所述比對點中的分布規律之間的匹配參數包括：
利用以下公式計算每個所述第一梯度角與對應的所述第二梯度角之間的差值：
Δθ(ik,jk)＝θt(ik,jk)-θf(μ+ik,ν+jk)
其中，ik為所述模板邊緣點在所述模板圖像中的橫坐標，jk為所述模板邊緣點在所述模板圖像中的縱坐標，θt(ik,jk)為所述第一梯度角，μ為所述模板圖像的原點在所述待搜索圖像中的橫坐標，ν為所述模板圖像的原點在所述待搜索圖像中的縱坐標，θf(μ+ik,ν+jk)為所述第一梯度角對應的所述第二梯度角，Δθ(ik,jk)為所述第一梯度角與對應所述第二梯度角之間的差值；
當所述差值的絕對值小于或等于180度時，利用以下公式計算偏差：
Cθ(ik,jk)＝|Δθ(ik,jk)|
其中，μ為所述模板圖像的原點在所述待搜索圖像中的橫坐標，ν為所述模板圖像的原點在所述待搜索圖像中的縱坐標，ik為所述模板邊緣點在所述模板圖像中的橫坐標，jk為所述模板邊緣點在所述模板圖像中的縱坐標，Cθ(ik,jk)為所述偏差，Δθ(ik,jk)為所述第一梯度角與對應的所述第二梯度角之間的差值；
當所述差值的絕對值大于180度時，利用以下公式計算偏差：
Cθ(ik,jk)＝360°-|Δθ(ik,jk)|
其中，ik為所述模板邊緣點在所述模板圖像中的橫坐標，jk為所述模板邊緣點在所述模板圖像中的縱坐標，Cθ(ik,jk)為所述偏差，Δθ(ik,jk)為所述第一梯度角與對應的所述第二梯度角之間的差值；
利用以下公式計算所述匹配參數：
其中，ik為所述模板邊緣點在所述模板圖像中的橫坐標，jk為所述模板邊緣點在所述模板圖像中的縱坐標，所述γ為所述匹配參數，Cθ(ik,jk)為所述偏差，Ek為所述模板邊緣點的集合，n為模板邊緣點的集合的元素個數。
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