[發(fā)明專利]可指定邏輯區(qū)塊地址的掃描SSD方法、裝置、計算機設(shè)備及存儲介質(zhì)

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• 申請日: 2020-08-24
• 公開（公告）號: CN112000591A
• 公開（公告）日: 2020-11-27
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 沈榮娟;楊錦平;孫成昆;韓道靜;吳嫻
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳憶聯(lián)信息系統(tǒng)有限公司
• 主分類號: G06F12/10
• 分類號: G06F12/10;G06F11/22
• 代理公司: 深圳市精英專利事務(wù)所 44242
• 代理人: 曹祥波

本發(fā)明涉及可指定邏輯區(qū)塊地址的掃描SSD方法、裝置、計算機設(shè)備及存儲介質(zhì)；其中，方法，包括：讀取主機端下發(fā)的命令行參數(shù)；判斷命令行參數(shù)是否正確；若正確，根據(jù)命令行參數(shù)對SSD進行數(shù)據(jù)掃描讀取，每一次掃描讀取設(shè)定個數(shù)的邏輯區(qū)塊地址，需要掃描讀取的數(shù)據(jù)中邏輯區(qū)塊地址數(shù)量減去設(shè)定個數(shù)，即為剩余邏輯區(qū)塊地址數(shù)量；判斷剩余邏輯區(qū)塊地址數(shù)量是否小于等于設(shè)定值；若是，讀取剩余邏輯區(qū)塊地址數(shù)量，直至讀取結(jié)束。本發(fā)明通過對于已經(jīng)明了可能出問題的邏輯區(qū)塊地址的區(qū)間范圍時，不需要進行全盤讀寫測試或掃描的方式，通過指定邏輯區(qū)塊地址區(qū)間的方式進行SSD掃描，可減少重復與不必要的操作，提高測試效率，降低維護成本。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及固態(tài)硬盤掃描技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說是指可指定邏輯區(qū)塊地址的掃描SSD方法、裝置、計算機設(shè)備及存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)

近些年，隨著SSD(Solid State Disk,固態(tài)硬盤)的發(fā)展，眾多廠家投入了大量的人力和精力來做SSD產(chǎn)品，對于SSD的性能要求也越來越高，為了保證產(chǎn)品的質(zhì)量，需要經(jīng)過一系列的測試與驗證。其中，關(guān)于閃存顆粒的物理Block(區(qū)塊)本身由于顆粒特性的緣故會存在一些原廠壞塊以及后續(xù)新增壞塊，對于壞塊的管理尤其需要謹慎，否則會出現(xiàn)機器藍屏等嚴重的質(zhì)量問題。

其中，LBA(Logical Block Address，邏輯區(qū)塊地址)是指經(jīng)過FTL(FlashTranslation Layer閃存轉(zhuǎn)換層)將閃存顆粒的物理Block映射到邏輯Block的地址，SSD在經(jīng)過一系列測試后，可能會存在一部分Block有問題，但又沒記錄到壞塊表中，需要再進行全盤的讀寫測試再標記壞塊，但由于完整的讀寫測試過程耗時較長，影響測試效率，因此，無法滿足需求。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供可指定邏輯區(qū)塊地址的掃描SSD方法、裝置、計算機設(shè)備及存儲介質(zhì)。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：

可指定邏輯區(qū)塊地址的掃描SSD方法，包括以下步驟：

讀取主機端下發(fā)的命令行參數(shù)；

判斷命令行參數(shù)是否正確；

若正確，則根據(jù)命令行參數(shù)對SSD進行數(shù)據(jù)掃描讀取，每一次掃描讀取設(shè)定個數(shù)的邏輯區(qū)塊地址，需要掃描讀取的數(shù)據(jù)中邏輯區(qū)塊地址數(shù)量減去設(shè)定個數(shù)，即為剩余邏輯區(qū)塊地址數(shù)量；

判斷剩余邏輯區(qū)塊地址數(shù)量是否小于等于設(shè)定值；

若不是，則返回執(zhí)行步驟“若正確，則根據(jù)命令行參數(shù)對SSD進行數(shù)據(jù)掃描讀取，每一次掃描讀取設(shè)定個數(shù)的邏輯區(qū)塊地址，需要掃描讀取的數(shù)據(jù)中邏輯區(qū)塊地址數(shù)量減去設(shè)定個數(shù)，即為剩余邏輯區(qū)塊地址數(shù)量”；

若是，則讀取剩余邏輯區(qū)塊地址數(shù)量，直至讀取結(jié)束。

其進一步技術(shù)方案為：所述步驟“讀取主機端下發(fā)的命令行參數(shù)”中，命令行參數(shù)包括：read-lba，start-lba，及l(fā)ba-count，其中，read-lba為功能關(guān)鍵字，表示讀邏輯區(qū)塊地址；start-lba為起始邏輯區(qū)塊地址的位置；lba-count為需要讀取的邏輯區(qū)塊地址數(shù)量。

其進一步技術(shù)方案為：所述步驟“若正確，則根據(jù)命令行參數(shù)對SSD進行數(shù)據(jù)掃描讀取，每一次掃描讀取設(shè)定個數(shù)的邏輯區(qū)塊地址，需要掃描讀取的數(shù)據(jù)中邏輯區(qū)塊地址數(shù)量減去設(shè)定個數(shù)，即為剩余邏輯區(qū)塊地址數(shù)量”中，每一次讀取的滿額讀取量為128K，即設(shè)定個數(shù)為256個。

其進一步技術(shù)方案為：所述步驟“判斷剩余邏輯區(qū)塊地址數(shù)量是否小于等于設(shè)定值”中，設(shè)定值為256。

可指定邏輯區(qū)塊地址的掃描SSD裝置，包括：第一讀取單元，第一判斷單元，掃描讀取單元，第二判斷單元，及第二讀取單元；

所述第一讀取單元，用于讀取主機端下發(fā)的命令行參數(shù)；