[發明專利]一種凹槽芯片嵌入工藝有效
| 申請號: | 202010855312.6 | 申請日: | 2020-08-24 |
| 公開(公告)號: | CN111952243B | 公開(公告)日: | 2023-04-07 |
| 發明(設計)人: | 馮光建;黃雷;高群;郭西;顧毛毛 | 申請(專利權)人: | 浙江集邁科微電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/768 | 分類號: | H01L21/768;H01L23/367;H01L23/373 |
| 代理公司: | 無錫市大為專利商標事務所(普通合伙) 32104 | 代理人: | 曹祖良 |
| 地址: | 313100 浙江省湖州市長興縣經濟技術開發*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 凹槽 芯片 嵌入 工藝 | ||
本發明提供一種凹槽芯片嵌入工藝,包括以下步驟:(a)提供硅片,并在硅片上表面刻蝕多個TSV孔,形成TSV區,然后形成第一鈍化層,在第一鈍化層和種子層;(b)電鍍金屬,使金屬充滿TSV孔形成金屬柱;(c)將硅片下表面做減薄處理,刻蝕凹槽;(d)在硅片下表面形成第三鈍化層,在第三鈍化層上涂布光刻膠;(e)去除金屬柱表面第三鈍化層、金屬柱和光刻膠;(f)在凹槽底部填焊錫,嵌入芯片,拆臨時鍵合得到芯片嵌入結構。本發明的技術方案通過在銅柱腐蝕的時候在銅柱表面增加金屬層,做硬罩幕層,在銅柱底部增加保護介質做高度控制層,使銅柱被腐蝕后能停在保護介質中,去除保護介質,使銅柱露出,精確控制銅柱的高度。
技術領域
本發明涉及半導體技術領域,尤其涉及一種凹槽芯片嵌入工藝。
背景技術
毫米波射頻技術在半導體行業發展迅速,其在高速數據通信、汽車雷達、機載導彈跟蹤系統以及空間光譜檢測和成像等領域都得到廣泛應用,預計2018年市場達到11億美元,成為新興產業,新的應用對產品的電氣性能、緊湊結構和系統可靠性提出了新的要求,對于無線發射和接收系統,目前還不能集成到同一顆芯片上(SOC),因此需要把不同的芯片包括射頻單元、濾波器、功率放大器等集成到一個獨立的系統中實現發射和接收信號的功能。
傳統封裝工藝把各種功能芯片和無源器件安裝在基板上,占用面積大,可靠性差,不能滿足封裝系統越來越小型化的趨勢,而基于標準硅工藝的三維異構封裝技術(系統級封裝SIP)運用TSV技術和空腔結構將不同襯底不同功能的芯片集成在一起,能在較小的區域內實現芯片的堆疊和互聯,大大減小了功能件的面積并增加了其可靠性,越來越成為該產業未來發展的方向。
射頻芯片需要對其底部進行散熱和接地互聯,這樣就要求芯片底部需要有TSV金屬柱做接觸,但是對于要把射頻芯片埋入到硅空腔的結構來講,如果先做TSV,則需要在轉接板的背部做空腔,TSV的底部做空腔的底部,然后做互聯,TSV深度會有差異,這樣做出來的底部會不平,不利于芯片的接地互聯;如果是把TSV做長柱子,然后通過干法刻蝕的方式把TSV金屬柱露出,最后通過濕法腐蝕的方式把金屬柱去除,只留下底部金屬柱,則可以不必考慮TSV平整性的問題,是未來此類結構的主要實現方式,但是在實際應用中,因為金屬柱的腐蝕是一種各向同性的行為,因此如果空腔底部的金屬柱被腐蝕掉,那么金屬柱周邊先被腐蝕掉的部分就會深入到空腔底部,這樣不利于后續的底部互聯和散熱。
發明內容
本發明的目的在于克服現有技術中存在的不足,提供一種凹槽芯片嵌入工藝,其具有占用面積小,可靠性高,可精確控制金屬柱的高度。本發明采用的技術方案是:
一種凹槽芯片嵌入工藝,其中,包括以下步驟:
(a)、提供硅片,并在硅片上表面刻蝕多個TSV孔,形成TSV區,然后在硅片上表面形成第一鈍化層,在第一鈍化層上形成至少一層種子層;
(b)、在種子層上電鍍金屬,使金屬充滿TSV孔形成金屬柱,拋光去除硅片表面的金屬和種子層,在設置TSV孔的硅片上表面臨時鍵合載片,保護硅片的TSV區;
(c)、將硅片下表面做減薄處理,使得金屬柱在硅片下表面露出,并在硅片下表面形成第二鈍化層,拋光使得硅片下表面的金屬柱露出,在硅片下表面刻蝕凹槽,其中凹槽設置在TSV區,使金屬柱豎立在凹槽內;
(d)、去除金屬柱表面的第一鈍化層,然后在硅片下表面形成第三鈍化層,在第三鈍化層上涂布光刻膠,曝光顯影,使金屬柱頂部露出;
(e)、去除金屬柱表面第三鈍化層,并去除金屬柱,然后去除上一步第三鈍化層上涂布的光刻膠;
(f)、在凹槽底部填焊錫,嵌入芯片,回流完成芯片焊接,在凹槽和芯片之間的縫隙填充材料,然后在硅片下表面形成第四鈍化層和RDL,使芯片信號PAD引出,拆臨時鍵合得到芯片嵌入結構。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





