[發明專利]一種近似點光源的激光的y向線性探測的光強測試裝置

在審

• 申請號: 202010850246.3
• 申請日: 2020-08-21
• 公開（公告）號: CN112082643A
• 公開（公告）日: 2020-12-15
• 發明（設計）人: 楊鵬程;王兆輝;王小磊;熊玲玲
• 申請（專利權）人: 西安工程大學
• 主分類號: G01J1/00
• 分類號: G01J1/00;G01J1/04;G01B11/27
• 代理公司: 西安弘理專利事務所 61214
• 代理人: 寧文濤

本發明公開了一種近似點光源的激光的y向線性探測的光強測試裝置，具體包括激光準直部分和激光測試部分；激光準直部分，是固定激光器和準直透鏡發生位移的傳動裝置，能夠保證準直裝置的位移精確，使實驗誤差減小，末端連接上步進電機，使準直結構發生位移，可以更好的測量激光器的光強；激光測試部分讓測試探頭在準直之后的垂直截面光斑上沿光斑的長軸和短軸移動，達到測試光強分布的目的；設備簡單，而且測試系統在測試時間快、測試誤差小且測試精度高。

技術領域

本發明屬于機械設計技術領域，涉及一種近似點光源的激光的y向線性探測的光強測試裝置。

背景技術

現有激光器光強測試方法有分布式光度計：點式亮度計或者光譜輻射度計放在光源的遠場采集遠場光強數據。光源在水平和豎直兩軸方向上轉動，所以它周圍整個空間內的數據都能收集到，最后生成光強分布配光曲線數據。成像亮度計：將待測燈打在遠場的屏幕上，用成像亮度計抓取待測燈打在屏幕的光照度分布，并通過軟件計算得到在此距離下待測燈的光強分布配光曲線。以上測試方式缺少自動化控制部分的設計，會影響測試精度，使誤差偏大。

發明內容

本發明的目的是提供一種近似點光源的激光的y向線性探測的光強測試裝置，解決了現有的激光器光強測試系統普遍存在測試時間緩慢、測試誤差較大且測試精度不高的問題。

本發明所采用的技術方案是，一種近似點光源的激光的y向線性探測的光強測試裝置，具體包括激光準直部分和激光測試部分；

激光準直部分包括框架，框架內設置絲杠，絲杠的一端連接有步進電機，絲杠上套接有平臺，平臺內設置有與絲杠配合的螺紋通孔，還包括兩個導桿，兩個導桿穿過平臺位于絲杠的兩側，且導桿與平臺活動連接，導桿與絲杠平行且固定于框架兩端，平臺上位于絲杠的軸向依次設置有激光器與準直透鏡；

激光測試部分包括底板，底板一端與框架固定連接，且底板位于絲杠端部，底板兩側對稱設置有方塊，方塊之間連接有絲杠A，絲杠A一端連接有電機，絲杠A與絲杠垂直，絲杠A上套接有與絲杠A配合的滑塊，滑塊緊貼底板，滑塊遠離框架的一側的上表面設置有導桿結構，導桿結構包括與滑塊垂直的絲杠B，絲杠B端部連接有電機，以及位于絲杠B兩側的平行導桿A，還包括套接在絲杠B與導桿A上的測試探頭，測試探頭內設置有與絲杠B配合的螺紋。

本發明的特點還在于：

其中平臺上設置有凸臺，凸臺一側設置有凹槽，激光器固定于凹槽內，與凸臺凹槽相對的一側設置有圓環，準直透鏡嵌入圓環內；

其中激光器的光源和準直透鏡的中心在同一水平線上；

其中激光器位于準直透鏡的焦距處；

其中滑塊為工字型滑塊，滑塊腹板與絲杠A垂直，且滑塊兩側的凹槽在滑塊位移時與方塊嵌合；

其中滑塊一側表面開設有三個圓孔，三個圓孔位于同一條直線上，且與絲杠A平行，導桿結構固定于三個圓孔內，絲杠B位于中間圓孔，導桿A分別伸入兩側圓孔，且絲杠B直徑大于導桿A；

其中測試探頭通過測試探頭固定裝置與導桿結構相連，測試探頭固定裝置包括滑塊A，滑塊A穿過絲杠B與導桿A，且滑塊A上還設置有與絲杠B配合的螺紋通孔，滑塊A與激光器相對的一側設置有測試探頭框，測試探頭位于測試探頭框內；

其中準直透鏡位于激光器與測試探頭之間。

本發明的有益效果是：

本發明設計的激光器光強測試系統通過設計測試系統的激光準直部分和光強測試部分的機械結構，采用AT89C51單片機設計控制兩個步進電機的正反轉實現光強的自動化測試，該自動測試系統的反饋精度在12μm左右，整個系統機械結構簡單，不僅提高了測試效率而且對上述問題得到了一定程度的改善。

附圖說明