[發(fā)明專利]一種狹縫型光譜儀全月相周期月盤輻照度獲取方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010849696.0
• 申請日: 2020-08-21
• 公開（公告）號: CN112129407B
• 公開（公告）日: 2021-09-14
• 發(fā)明（設計）人: 王爽;王一豪;劉歡;武俊強;李娟;張耿;胡炳樑
• 申請（專利權）人: 中國科學院西安光學精密機械研究所
• 主分類號: G01J3/28
• 分類號: G01J3/28;G06T7/136;G06T7/13;G06T7/60
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 趙逸宸

1.一種狹縫型光譜儀全月相周期月盤輻照度獲取方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1，對狹縫型光譜儀的掃描數(shù)據(jù)進行預處理，通過組幀得到月球光譜數(shù)據(jù)立方體；

S2，從月球光譜數(shù)據(jù)立方體中選取高響應特征波段，得到特征波段灰度圖；

S3，通過閾值分割法從特征波段灰度圖中提取月球二值化圖像；

S4，通過積分運算獲取月球二值化圖像邊界點；

S5，通過對比月球二值化圖像最左側邊界點和最右側邊界點到最長垂線的距離，判斷月相周期；

S6，根據(jù)月相周期，通過月球二值化圖像邊界點，對特征波段灰度圖采用三點法獲得月球輪廓；

S7，對月球輪廓內(nèi)區(qū)域進行全月輻照度積分，得到月盤輻照度。

2.如權利要求1所述一種狹縫型光譜儀全月相周期月盤輻照度獲取方法，其特征在于：步驟S1中，所述預處理包括暗電平校正、壞像元校正和輻射校正。

3.如權利要求2所述一種狹縫型光譜儀全月相周期月盤輻照度獲取方法，其特征在于：步驟S1中，

所述暗電平校正具體為，采集所述掃描數(shù)據(jù)中未掃描到月球前的100幀數(shù)據(jù)，求取平均值作為暗電平。

4.如權利要求1至3任一所述一種狹縫型光譜儀全月相周期月盤輻照度獲取方法，其特征在于：步驟S2中，所述高響應特征波段具體為，波長為1000-1200nm的波段。

5.如權利要求4所述一種狹縫型光譜儀全月相周期月盤輻照度獲取方法，其特征在于：步驟S3中，所述閾值分割法以0.1*DN_max為分割閾值；其中，DN_max為特征波段灰度圖中的最大DN值。

6.如權利要求5所述一種狹縫型光譜儀全月相周期月盤輻照度獲取方法，其特征在于：所述步驟S4具體為，對月球二值化圖像分別進行水平方向積分和垂直方向積分，得到水平方向積分向量和垂直方向積分向量，將水平方向積分向量中第一個大于零的點位置P_left和最后一個大于零的點位置P_right分別作為月球二值化圖像的最左邊界點位置和最右邊界點位置，將垂直方向積分向量中第一個大于零的點位置P_top和最后一個大于零的點位置P_bottom分別作為月球二值化圖像的最上邊界點和最下邊界點。

7.如權利要求6所述一種狹縫型光譜儀全月相周期月盤輻照度獲取方法，

其特征在于，所述步驟S6具體為：

S6.1，根據(jù)當前月相周期，通過月球二值化圖像邊界點，對特征波段灰度圖采用三點法確定全月區(qū)域的圓心和半徑

若當前月相周期為上玄月到滿月，則選取P_left、P_top和P_bottom三點確定全月區(qū)域的圓心和半徑；若當前月相周期為滿月到下玄月，則選取P_right、P_top和P_bottom三點確定全月區(qū)域的圓心和半徑；若當前月相周期為滿月，則選取P_top和P_bottom，以及P_left和P_right中的一個點確定全月區(qū)域的圓心和半徑；

S6.2，根據(jù)全月區(qū)域的圓心和半徑，獲得月球輪廓。