[發(fā)明專利]一種基于RCLED的傳感器及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010849279.6 | 申請日: | 2020-08-21 |
| 公開(公告)號: | CN114076739B | 公開(公告)日: | 2023-09-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉文杰;劉怡俊;卓青霞 | 申請(專利權(quán))人: | 廣東工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/25 | 分類號: | G01N21/25;G01N21/01;B82Y15/00;B82Y40/00 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 沈闖 |
| 地址: | 510060 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 rcled 傳感器 及其 制造 方法 | ||
本申請公開了一種基于RCLED的傳感器及制造方法,通過將金屬孔陣列的微納米結(jié)構(gòu)陣列置于具有諧振腔的發(fā)光二極管表面,發(fā)光二極管發(fā)光經(jīng)過諧振腔選模作用,形成具有較高Q值的腔模,同時,較高Q值的腔模與微納米結(jié)構(gòu)陣列相互作用,需通過外置光源驅(qū)動工作,就可以直接用于探測金屬納米孔陣周圍折射率的微小變化,從而可以實(shí)現(xiàn)便捷的裸眼觀測。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及傳感器技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種基于RCLED的傳感器。
背景技術(shù)
隨著微納米結(jié)構(gòu)技術(shù)的發(fā)展,基于微納米結(jié)構(gòu)的表面等離子共振受到廣泛關(guān)注,因?yàn)楸砻娴入x子體能夠把光局域在金屬微納米結(jié)構(gòu)的表面,使金屬表面的場得到極大增強(qiáng)。利用這種特性,可以探測局部折射率的微小變化,而近年來,表面等離子共振傳感器主要應(yīng)用于藥物篩選、疾病診斷與環(huán)境檢測等領(lǐng)域。
隨著日益增長的即時檢測和個人疾病診斷的需求下,新一代傳感器被要求具備高靈敏度,小型化,廉價和快速檢測等特點(diǎn),而傳統(tǒng)的傳感器一般基于金屬薄膜和棱鏡耦合設(shè)備,存在設(shè)備復(fù)雜,成本高,便攜性差。
為了克服上述問題,研究者提出基于局域等離子共振的折射率傳感器,例如基于金屬顆粒或其陣列,但是一般通過外置光源,難以實(shí)現(xiàn)微型化的集成傳感器。
發(fā)明內(nèi)容
本申請?zhí)峁┝艘环N基于RCLED的傳感器及其制造方法,用于解決現(xiàn)有的傳感器仍需通過外置光源驅(qū)動工作的技術(shù)問題。
有鑒于此,本申請第一方面提供了一種基于RCLED的傳感器,包括諧振腔發(fā)光二極管,所述諧振腔發(fā)光二極管表面設(shè)有微納米結(jié)構(gòu)陣列;
所述諧振腔發(fā)光二極管包括襯底以及設(shè)在所述襯底上方的諧振腔與半導(dǎo)體外延層,所述半導(dǎo)體外延層設(shè)于所述諧振腔內(nèi);
所述微納米結(jié)構(gòu)陣列包括介質(zhì)層以及設(shè)于所述介質(zhì)層上的金屬孔陣列。
優(yōu)選地,基于RCLED的傳感器還包括第一金屬層,所述半導(dǎo)體外延層由下至上依次設(shè)有n型導(dǎo)電層、有源區(qū)與p型導(dǎo)電層,所述第一金屬層與所述n型導(dǎo)電層之間歐姆接觸,所述p型導(dǎo)電層上設(shè)有第二金屬層,所述第二金屬層與所述p型導(dǎo)電層之間歐姆接觸。
優(yōu)選地,所述微納米結(jié)構(gòu)陣列的陣列周期為300~800nm,所述金屬孔陣列中的金屬孔的半徑為60~300nm,所述微納米結(jié)構(gòu)陣列的金屬厚度為20~160nm。
優(yōu)選地,所述諧振腔由兩塊上下對應(yīng)設(shè)置的反射鏡組成,其中,相對所述襯底較近的所述反射鏡的反射率大于相對所述襯底較遠(yuǎn)的所述反射鏡的反射率。
優(yōu)選地,所述反射鏡采用金屬反射鏡和分布式拉格反射鏡中的一種或兩種。
優(yōu)選地,所述介質(zhì)層采用氮化硅、氧化硅、ITO或其它氧化物或其它氮化物介質(zhì)材料。
優(yōu)選地,所述第一金屬層與所述第二金屬層均采用金、銀、鋁、銅、鉑、鈀、鎂之一或合金。
另一方面,本申請實(shí)施例還提供了一種基于RCLED的傳感器的制造方法,包括以下步驟:
S101:在襯底上形成諧振腔;
S102:在所述諧振腔內(nèi)形成半導(dǎo)體外延層,具體為所述諧振腔內(nèi)由下至上依次形成n型導(dǎo)電層、有源區(qū)與p型導(dǎo)電層;
S103:在所述襯底或所述n型導(dǎo)電層上形成第一金屬層,所述第一金屬層與所述n型導(dǎo)電層之間導(dǎo)電;
S104:在所述p型導(dǎo)電層上形成第二金屬層,所述第二金屬層與所述p型導(dǎo)電層之間歐姆接觸;
S105:在所述諧振腔上形成微納米結(jié)構(gòu)陣列,所述微納米結(jié)構(gòu)陣列包括介質(zhì)層與設(shè)置在所述介質(zhì)層上的金屬孔陣列。
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G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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