[發明專利]被覆切削工具

有效

• 申請號: 202010844346.5
• 申請日: 2020-08-20
• 公開（公告）號: CN112439935B
• 公開（公告）日: 2023-03-31
• 發明（設計）人: 西澤普賢
• 申請（專利權）人: 株式會社泰珂洛
• 主分類號: B23C5/16
• 分類號: B23C5/16;B23B51/00;B23P15/28
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 郝傳鑫;柯夢云

1.一種被覆切削工具，其具備由立方晶氮化硼燒結體形成的基材、以及形成于該基材上的被覆層，其中，

所述被覆層具有由下述式(i)所表示的組成形成的Ti的碳氮化物層，

Ti(C_xN_1-x) (i)

式中，x表示在所述Ti的碳氮化物層中，從基材側開始的厚度50％的位置中的C元素相對于C元素和N元素的總量的原子比，并滿足0.1x0.5，

所述Ti的碳氮化物層的平均厚度為0.5μm以上5.0μm以下，

在所述Ti的碳氮化物層中，從基材側開始的厚度75％的位置的C元素相對于C元素和N元素的總量的原子比R75高于從基材側開始的厚度25％的位置的C元素相對于C元素和N元素的總量的原子比R25，

在所述Ti的碳氮化物層中，下述式(1)所表示的(111)面的織構系數TC(111)為1.0以上2.0以下，

在所述Ti的碳氮化物層的X射線衍射測定中，當將ψ角度設為0°、30°、50°以及70°而分別進行測定時，下述式(2)所表示的2θ的最大值與最小值之差的絕對值在(111)面中為0.1°以下，

[數學式1]

式(1)中，I(h k l)表示所述Ti的碳氮化物層的X射線衍射中的(h k l)面的峰強度，I₀(h k l)表示ICDD卡片編號00-042-1488中的(h k l)面的標準衍射強度，(h k l)是指(111)、(200)、(220)、(311)、(420)以及(422)六個晶面，

2θ的最大值與最小值之差的絕對值＝|2θmax-2θmin| (2)

式(2)中，2θmax表示當ψ角度為0°、30°、50°以及70°時的晶面的峰的位置2θ中的最大值，2θmin表示當ψ角度為0°、30°、50°以及70°時的晶面的峰的位置2θ中的最小值。

2.如權利要求1所述的被覆切削工具，其中，

在所述Ti的碳氮化物層的X射線衍射測定中，當將ψ角度設為0°、30°、50°以及70°而分別進行測定時，所述式(2)所表示的2θ的最大值與最小值之差的絕對值在(200)面中為0.1°以下。

3.如權利要求1或2所述的被覆切削工具，其中，

在所述Ti的碳氮化物層中，從基材側開始的平均厚度的25％的位置中的C元素相對于C元素和N元素的總量的原子比R25、與從基材側開始的平均厚度的75％的位置中的C元素相對于C元素和N元素的總量的原子比R75之差(R75-R25)為0.1以上0.3以下。

4.如權利要求1～3中任一項所述的被覆切削工具，其中，

所述被覆層在所述基材和所述Ti的碳氮化物層之間具有下部層，

所述下部層為選自由下述金屬層以及下述化合物層所組成的群組中的至少一種的單層或疊層，

該金屬層由選自Ti、Zr、Hf、V、Nb、Ta、Cr、Mo、W、Al、Si以及Y所組成的群組中的至少一種金屬元素形成，

該化合物層由選自Ti、Zr、Hf、V、Nb、Ta、Cr、Mo、W、Al、Si以及Y所組成的群組中的至少一種金屬元素和選自C、N、O以及B所組成的群組中的至少一種元素形成，

所述下部層的平均厚度為0.1μm以上5.0μm以下。