[發(fā)明專利]針對(duì)動(dòng)態(tài)耦合故障模擬極端環(huán)境下的測(cè)試方法和裝置

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010844307.5
• 申請(qǐng)日: 2020-08-20
• 公開（公告）號(hào): CN112098770A
• 公開（公告）日: 2020-12-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李斌
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市宏旺微電子有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/01
• 分類號(hào): G01R31/01
• 代理公司: 深圳市諾正鑫澤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44689
• 代理人: 林國(guó)友

1.一種針對(duì)動(dòng)態(tài)耦合故障模擬極端環(huán)境下的測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試方法包括：

S1，調(diào)用數(shù)據(jù)寄存器，對(duì)存儲(chǔ)芯片中各個(gè)邏輯地址對(duì)應(yīng)的單元寫入第一數(shù)據(jù)值，并對(duì)應(yīng)讀取所述第一數(shù)據(jù)值，以進(jìn)行AF測(cè)試；

S2，按照所述存儲(chǔ)芯片的地址遞增順序或者地址遞減順序，以3*3矩陣為間隔向矩陣中心對(duì)應(yīng)的邏輯地址中寫入第二數(shù)據(jù)值、讀取所述第二數(shù)據(jù)值、再寫入第三數(shù)據(jù)值，并實(shí)時(shí)進(jìn)行動(dòng)態(tài)耦合故障測(cè)試；

S3，遍歷各個(gè)地址讀取所述第三數(shù)據(jù)值，判斷從各個(gè)地址對(duì)應(yīng)的單元中讀取的第三數(shù)據(jù)值與寫入時(shí)的第三數(shù)據(jù)值是否一致，若是，則所述存儲(chǔ)芯片無故障。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的針對(duì)動(dòng)態(tài)耦合故障模擬極端環(huán)境下的測(cè)試方法，其特征在于，所述調(diào)用數(shù)據(jù)寄存器的步驟之前，包括：

遍歷各個(gè)單元，確認(rèn)存儲(chǔ)芯片的所有單元對(duì)應(yīng)的邏輯地址，以形成地址遞增順序和地址遞減順序。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的針對(duì)動(dòng)態(tài)耦合故障模擬極端環(huán)境下的測(cè)試方法，其特征在于，所述按照存儲(chǔ)芯片的地址遞增順序或者地址遞減順序，以3*3矩陣為間隔向矩陣中心對(duì)應(yīng)的邏輯地址中寫入第二數(shù)據(jù)值、讀取所述第二數(shù)據(jù)值、再寫入第三數(shù)據(jù)值，并實(shí)時(shí)進(jìn)行動(dòng)態(tài)耦合故障測(cè)試的步驟，包括：

實(shí)時(shí)檢測(cè)所述寫入第二數(shù)據(jù)值、讀取所述第二數(shù)據(jù)值、再寫入第三數(shù)據(jù)值的過程中是否造成周圍地址的存儲(chǔ)單元數(shù)據(jù)值的變化；

若是，則所述存儲(chǔ)芯片存在動(dòng)態(tài)耦合故障。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的針對(duì)動(dòng)態(tài)耦合故障模擬極端環(huán)境下的測(cè)試方法，其特征在于，所述按照存儲(chǔ)芯片的地址遞增順序或者地址遞減順序，以3*3矩陣為間隔向矩陣中心對(duì)應(yīng)的邏輯地址中寫入第二數(shù)據(jù)值、讀取所述第二數(shù)據(jù)值、再寫入第三數(shù)據(jù)值的步驟，包括：

實(shí)時(shí)檢測(cè)所述寫入第二數(shù)據(jù)值、讀取所述第二數(shù)據(jù)值的過程中，判斷各個(gè)單元所讀取的數(shù)值與寫入的數(shù)值是否一致；

若否，則所述存儲(chǔ)芯片的對(duì)應(yīng)單元存在固定故障。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的針對(duì)動(dòng)態(tài)耦合故障模擬極端環(huán)境下的測(cè)試方法，其特征在于，所述按照存儲(chǔ)芯片的地址遞增順序或者地址遞減順序，以3*3矩陣為間隔向矩陣中心對(duì)應(yīng)的邏輯地址中寫入第二數(shù)據(jù)值、讀取所述第二數(shù)據(jù)值、再寫入第三數(shù)據(jù)值的步驟，包括：

實(shí)時(shí)檢測(cè)所述讀取所述第二數(shù)據(jù)值、寫入第三數(shù)據(jù)值的過程中，判斷各個(gè)單元所讀取的數(shù)值與寫入的數(shù)值是否一致；

若是，則所述存儲(chǔ)芯片的對(duì)應(yīng)單元存在轉(zhuǎn)換故障。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的針對(duì)動(dòng)態(tài)耦合故障模擬極端環(huán)境下的測(cè)試方法，其特征在于，在所述步驟S3中，判定所述存儲(chǔ)芯片無故障的步驟之后，還包括：

對(duì)所述第一數(shù)據(jù)值、第二數(shù)據(jù)值以及第三數(shù)據(jù)值均進(jìn)行寫反處理，并根據(jù)寫反處理后的第一數(shù)據(jù)值、第二數(shù)據(jù)值以及第三數(shù)據(jù)值再循環(huán)一次S1～S3。

7.一種針對(duì)動(dòng)態(tài)耦合故障模擬極端環(huán)境下的測(cè)試裝置，其特征在于，包括：

第一讀寫單元，用于調(diào)用數(shù)據(jù)寄存器，對(duì)存儲(chǔ)芯片中各個(gè)邏輯地址對(duì)應(yīng)的單元寫入第一數(shù)據(jù)值，并對(duì)應(yīng)讀取所述第一數(shù)據(jù)值，以進(jìn)行AF測(cè)試；

第二讀寫單元，用于按照所述存儲(chǔ)芯片的地址遞增順序或者地址遞減順序，以3*3矩陣為間隔向矩陣中心對(duì)應(yīng)的邏輯地址中寫入第二數(shù)據(jù)值、讀取所述第二數(shù)據(jù)值、再寫入第三數(shù)據(jù)值，并實(shí)時(shí)進(jìn)行動(dòng)態(tài)耦合故障測(cè)試；

第三讀寫單元，用于遍歷各個(gè)地址讀取所述第三數(shù)據(jù)值，判斷從各個(gè)地址對(duì)應(yīng)的單元中讀取的第三數(shù)據(jù)值與寫入時(shí)的第三數(shù)據(jù)值是否一致，若是，則所述存儲(chǔ)芯片無故障。