[發明專利]制孔垂直度測量方法、裝置、設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202010843774.6
• 申請日: 2020-08-20
• 公開（公告）號: CN114076577A
• 公開（公告）日: 2022-02-22
• 發明（設計）人: 石海林;侯繼軍;郭西軒;樓小波;莫敬龍;方偉杰;花磊;盛軍
• 申請（專利權）人: 中國商用飛機有限責任公司;上海飛機制造有限公司
• 主分類號: G01B11/26
• 分類號: G01B11/26
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

1.一種制孔垂直度測量方法，其特征在于，包括：

獲取待制孔位置所在曲面上的至少四個特征點坐標；其中，所述特征點坐標通過非接觸測量得到，且所述至少四個特征點坐標不在同一條直線上；

根據所述至少四個特征點坐標確定所述待制孔位置的法向量；

根據所述法向量和制孔刀具的軸線方向確定制孔垂直度。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，獲取待制孔位置所在曲面上的至少四個特征點坐標，包括：

通過設置在制孔刀具上的至少四個激光位移傳感器獲取待制孔位置所在曲面上的至少四個特征點坐標。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，在通過設置在制孔刀具上的至少四個激光位移傳感器獲取待制孔位置所在曲面上的至少四個特征點坐標之前，還包括：

對所述設置在制孔刀具上的至少四個激光位移傳感器進行位置標定和方向標定，以得到所述激光位移傳感器在制孔刀具坐標系下的位置參數和方向參數。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，對所述設置在制孔刀具上的至少四個激光位移傳感器進行位置標定和方向標定，包括：

獲取所述至少四個激光位移傳感器在標定曲面上的至少四個參考坐標點；

根據所述至少四個參考坐標點確定所述標定曲面的基準平面；

根據所述基準平面對激光位移傳感器進行位置標定和方向標定。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述至少四個特征點坐標確定所述待制孔位置的法向量，包括：

根據所述至少四個特征點坐標確定所述曲面表達式；

根據所述曲面表達式確定所述待制孔位置的法向量。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述法向量和制孔刀具的軸線方向確定制孔垂直度，包括：

確定所述法向量和制孔刀具的軸線方向之間的偏移量；

若所述偏移量大于預先設置的偏移誤差，則調整所述制孔刀具，以使得所述制孔刀具的軸線方向與所述法向量之間的偏移量小于所述偏移誤差。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待制孔位置所在曲面為雙曲率曲面。

8.一種制孔垂直度測量裝置，其特征在于，包括：

特征點獲取模塊，用于獲取待制孔位置所在曲面上的至少四個特征點坐標；其中，所述特征點坐標通過非接觸測量得到，且所述至少四個特征點坐標不在同一條直線上；

法向量確定模塊，用于根據所述至少四個特征點坐標確定所述待制孔位置的法向量；

垂直度確定模塊，用于根據所述法向量和制孔刀具的軸線方向確定制孔垂直度。

9.一種設備，其特征在于，包括：

一個或多個處理器；

存儲裝置，用于存儲一個或多個程序，

當所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執行，使得所述一個或多個處理器實現如權利要求1-7中任一所述的制孔垂直度測量方法。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被處理器執行時實現如權利要求1-7中任一所述的制孔垂直度測量方法。