[發明專利]一種硅整流裝置自飽和電抗器鐵心用鐵餅的分組選配方法有效
| 申請號: | 202010842524.0 | 申請日: | 2020-08-20 |
| 公開(公告)號: | CN112067880B | 公開(公告)日: | 2023-04-07 |
| 發明(設計)人: | 胡旭初 | 申請(專利權)人: | 廣西柳州特種變壓器有限責任公司 |
| 主分類號: | G01R19/10 | 分類號: | G01R19/10;G01R19/30;G01R33/12 |
| 代理公司: | 柳州市榮久專利商標事務所(普通合伙) 45113 | 代理人: | 李志華 |
| 地址: | 545006 廣西壯族*** | 國省代碼: | 廣西;45 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 整流 裝置 飽和 電抗 鐵心 鐵餅 分組 選配 方法 | ||
一種硅整流裝置自飽和電抗器鐵心用鐵餅的分組選配方法,包括下述步驟:編號并進行伏安特性試驗;按空載電流從大到小排列并分組;將排列好的鐵餅按正順序從第一組分到第p組、再按反順序從第p組分到第一組,再按正順序從第一組分到第p組,如此循環直至將n個鐵餅全部分至p組內,每組m個鐵餅;計算鐵餅的空載電流確定選配結果:計算各組鐵餅電流和及二者的電流和差值D1,如D1小于偏差控制值D時,本次分組滿足設定要求即為選配結果。用該方法分組選配時,可使每組鐵餅電流和之差最小或滿足設定要求,確保各個支路的鐵心的磁導率接近一致,使硅整流裝置中每個支路輸出電壓平衡、整流變壓器內對應支路交流功率輸出一致,降低損耗、提高壽命。
技術領域
本發明涉及一種硅整流裝置構件的選配方法,具體涉及一種硅整流裝置自飽和電抗器鐵心用鐵餅的分組選配方法。
背景技術
選配方法或的支路對應的變壓器繞組、而影響整個整流系統的性能,導致在硅整流裝置中,為了在有載開關的級差范圍內獲得細調功能,或為了在較大范圍內實現連續平滑調壓,減少有載開關的動作次數,以延長其壽命和檢修周期,常常在整流裝置中加入自飽和電抗器,自飽和電抗器一般由鐵心、工作繞組、控制繞組、偏移繞組、支架等構成,硅整流裝置中一般有多個支路,其對應的自飽和電抗器也有多個支路,為方便生產制造,每個支路的自飽和電抗器鐵心一般采用多個環形鐵餅疊裝而成,工作繞組、控制繞組和偏移繞組均貫穿其中;存在的問題是:
(1)單個鐵餅須經轉繞、退火等工藝制造而成,鐵餅制造過程中,受退火工藝等因素影響,導致硅鋼片晶格重新恢復時狀態不一致,每個鐵餅的磁導率會發生變化,使疊裝到每個支路上的鐵心導磁性能出現差別,(因自飽和電抗器的基本原理是利用鐵磁材料的交流有效導磁率隨直流磁場大小而變化的特征,以改變交流繞組的電抗值,從而實現調壓的目的),因此,當不同支路鐵心的磁導率不一致時,不同支路調節的電抗值也會不一致,硅整流裝置中每個支路輸出的電壓也會出現不平衡,從而影響整個整流系統的性能,導致整流變壓器內對應支路交流功率輸出不一致,損耗增加;
(2)硅整流裝置各支路輸出電壓不一致引起環流損耗增加,高功率輸出的支路對應的變壓器繞組、整流元件壽命降低;
(3)現有的解決方法是通過不斷改進退火爐的性能,使退火后的單個鐵餅性能接近,但仍然難以保證硅整流裝置中每個支路輸出的電壓不平衡。
發明內容
本發明針對硅整流裝置中采用自飽和電抗器進行調壓后直流輸出不平衡的問題,提供一種硅整流裝置自飽和電抗器鐵心用鐵餅的分組選配方法,以克服已有技術所存在的上述不足。
為解決以上技術問題,本發明采取的技術方案是:
一種硅整流裝置自飽和電抗器鐵心用鐵餅的分組選配方法,其特征在于:包括下述步驟:
S1.編號測試
S11.將退火合格的自飽和電抗器鐵心用的鐵餅進行編號;
S12.對每個鐵餅進行伏安特性試驗,測量并記錄對應鐵餅的空載電流;
S2.分組
S21.將滿足要求的n個鐵餅按其空載電流從大到小排列:T1、T2、T3…Tn,其中T1代表空載電流最大的鐵餅,Tn代表空載電流最小的鐵餅;
S22.將n個鐵餅分為p組,平均每組m個鐵餅;
S23.分配原則:按空載電流從大到小的排序,每次每組分配一個;
S24.具體分配步驟:
S241.取第一批(第1個~第p個)鐵餅按正順序從第一組分到第p組:T1分到第一組,T2?分到第二組,…Tp-1分到第p-1組,Tp分到第p組;
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