[發明專利]濾波器、調諧結構、以及可調雙工器在審
| 申請號: | 202010842441.1 | 申請日: | 2020-08-20 |
| 公開(公告)號: | CN114079133A | 公開(公告)日: | 2022-02-22 |
| 發明(設計)人: | 趙青;王輝;田偉;胡海平 | 申請(專利權)人: | 華為技術有限公司 |
| 主分類號: | H01P1/208 | 分類號: | H01P1/208 |
| 代理公司: | 北京龍雙利達知識產權代理有限公司 11329 | 代理人: | 時林;王君 |
| 地址: | 518129 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 濾波器 調諧 結構 以及 可調 雙工器 | ||
本申請提供了一種濾波器、調諧結構、以及可調雙工器。該濾波器可以包括:N個諧振腔和至少一個調諧結構,N為大于1的整數;調諧結構包括N個介質棒;其中,每個介質棒可在一個諧振腔內沿著諧振腔的中心線的方向移動,至少一個介質棒偏離其所在的諧振腔的中心線。本申請中,通過調整介質棒在諧振腔體中的位置,可以改變濾波器的中心工作頻率。此外,每個諧振腔對應一個介質棒,即介質棒的數量與諧振腔的數量相同,且通過設計至少一個介質棒偏離其所在的諧振腔的中心線,增強回波穩定性,來實現更寬的調節范圍。因此可以大大減少介質棒的數量,降低成本,降低對電機調節驅動裝置的要求,簡化操作的同時,擴展調頻范圍。
技術領域
本申請涉及微波通信技術領域,尤其涉及一種濾波器、調諧結構、以及可調雙工器。
背景技術
隨著微波點對點通信技術的發展,自由靈活調節頻點是一種發展趨勢,也是設備商搶占的技術高地之一。由于微波點對點通信頻率可以覆蓋6吉赫(GHz)~100GHz,在每個大頻段中的子頻段眾多,現網配置復雜,如果頻點配置出錯或者出現干擾,對現網交付影響很大。通過現網中能夠自由靈活調節頻點的設備,如濾波器和介質棒,可以解決上述問題。
在現有技術中,濾波器上設置有多個諧振腔,通過為每個諧振腔配置多根介質棒,從而使得該多根介質棒在諧振腔體內部通過改變電磁場能量的分布同時調諧諧振腔的頻率和兩個諧振腔之間的耦合。這種方式需要的介質棒數量過多,進而對電機調節驅動裝置的要求較高,提高了電機調節驅動裝置的成本。
發明內容
本申請提供一種濾波器、調諧結構、以及可調雙工器,用于減少介質棒的數量,降低對電機調節驅動裝置的要求和成本,并擴展調頻范圍。
第一方面,提供了一種濾波器。該濾波器可以包括:N個諧振腔和至少一個調諧結構,N為大于1的整數,所述調諧結構包括N個介質棒,其中,每個介質棒可在一個諧振腔內沿所述諧振腔的中心線移動,至少一個介質棒偏離其所在的諧振腔的中心線。
示例地,諧振腔的中心線可以理解為諧振腔各個橫截面中點所連成的線,或者諧振腔的頂面的中點和底面的中點所連成的線。介質棒可在一個諧振腔內沿所述諧振腔的中心線移動,即表示,介質棒可在一個諧振腔內沿諧振腔的中心線方向移動,或者也可以理解為,介質棒可在一個諧振腔內沿諧振腔腔壁的方向移動,或者說,介質棒可在一個諧振腔內沿諧振腔高度的方向移動,或者說,介質棒可在一個諧振腔內伸入或拔出。
示例地,介質棒可在一個諧振腔內沿所述諧振腔的中心線移動,包括:在濾波器處于工作狀態時,介質棒可在一個諧振腔內沿平行于電場的方向移動。
基于上述技術方案,不僅可以減少介質棒數量,還可以通過設計介質棒在諧振腔中的位置,實現更寬的調頻范圍。具體地,每個諧振腔對應一個介質棒,減少了介質棒數量;通過調整介質棒在諧振腔體中的位置,即介質棒在諧振腔內沿諧振腔的中心線移動,可以改變濾波器的中心工作頻率;且至少一個介質棒偏離其所在的諧振腔的中心線,可以增強回波穩定性,擴展相對帶寬調節范圍。也就是說,相比于通過一個諧振腔對應多個介質棒來獲得更寬的調節范圍,本申請實施例中每個諧振腔對應一個介質棒,通過設計至少一個介質棒偏離其所在的諧振腔的中心線,增強回波穩定性,來實現更寬的調節范圍。因此,可以大大減少介質棒的數量,降低成本,降低對電機調節驅動裝置的要求,簡化操作的同時,擴展調頻范圍。
結合第一方面,在第一方面的某些實現方式中,所述N個諧振腔包括第一諧振腔和第二諧振腔中,所述第一諧振腔為信號輸入的諧振腔,所述第二諧振腔為所述信號輸出的諧振腔,可在所述第一諧振腔內移動的介質棒偏離所述第一諧振腔的中心線,可在所述第二諧振腔內移動的介質棒偏離所述第二諧振腔的中心線。
信號輸入、信號輸出,可以相對于整個濾波器來說。第一諧振腔為信號輸入的諧振腔,第二諧振腔為信號輸出的諧振腔,對于濾波器中的多個諧振腔來說,將信號輸入的諧振腔可以記為第一諧振腔或者也可以記為首諧振腔,將信號輸出的諧振腔可以記為第二諧振腔或者也可以記為尾諧振腔。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于華為技術有限公司,未經華為技術有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010842441.1/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:定量稱重設備的能效測量方法
- 下一篇:一種雙層大米色選機





