[發(fā)明專利]一種磁環(huán)RLC電路等效建模方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010839523.0
• 申請日: 2020-08-19
• 公開（公告）號: CN111985178B
• 公開（公告）日: 2023-09-22
• 發(fā)明（設計）人: 王毅釗;常仲學;豆敏娜;權立;張維;張志華;宋國兵
• 申請（專利權）人: 國網(wǎng)陜西省電力公司電力科學研究院;西安交通大學
• 主分類號: G06F30/367
• 分類號: G06F30/367
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 高博

1.一種磁環(huán)RLC電路等效建模方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、測量任意尺寸磁環(huán)的阻抗頻變特性，得到磁環(huán)阻抗Z(s)隨頻率變化的規(guī)律，確定不同頻點對應磁環(huán)阻抗的幅值和相位特征；

S2、對步驟S1得到的磁環(huán)阻抗數(shù)據(jù)進行擬合得到磁環(huán)阻抗Z(s)的特性等效系數(shù)，確定最終阻抗表達式的參數(shù)，磁環(huán)阻抗Z(s)的特性等效形式如下：

其中，d和e為實數(shù)，r_i為零點，p_i為極點，N為擬合階數(shù)，s為拉氏算子；

參數(shù)計算具體為：根據(jù)步驟S1中測量得到的磁環(huán)阻抗Z(s)隨頻率變化的規(guī)律，采用最小二乘的方法得到，對N個極點賦初值；第i個極點為定義函數(shù)令d和e為實數(shù)，r_i為零點，p_i為極點，N為擬合階數(shù)；采用所有頻點對應阻抗值，通過最小二乘的方法求解d，e，r_i和最后計算當err＜E_err時求得的d，e和N個零點r_i和極點p_i為最終阻抗表達式的參數(shù)，否則繼續(xù)迭代直至滿足err＜E_err；

S3、將擬合的磁環(huán)阻抗數(shù)據(jù)各項等效成RLC電路，將磁環(huán)阻抗Z(s)特性等效形式的常數(shù)項d等效為一個電阻，R＝d；將磁環(huán)阻抗Z(s)特性等效形式的se項等效為一個電感，L＝e；將磁環(huán)阻抗Z(s)的特性等效形式中極點為實數(shù)的項，等效為電容C和電阻R的并聯(lián)，將磁環(huán)阻抗Z(s)的特性等效形式中極點為復數(shù)的項，等效為電容C、電導G以及電阻R和電感L串聯(lián)后三者的并聯(lián)電路，

S4、得到各項的等效電路后，將所有電路串聯(lián)得到磁環(huán)的RLC等效電路模型。

2.根據(jù)權利要求1所述的磁環(huán)RLC電路等效建模方法，其特征在于，當需要建立同種材料不同尺寸和個數(shù)下磁環(huán)的模型時，對步驟S2中得到的阻抗表達式系數(shù)進行修正，得到系數(shù)后再根據(jù)步驟S3重新計算各項等效電路的參數(shù)。

3.根據(jù)權利要求2所述的磁環(huán)RLC電路等效建模方法，其特征在于，修正方法為：當不同尺寸和個數(shù)下磁環(huán)阻抗變?yōu)椴襟ES1中測試磁環(huán)的β倍時，對于磁環(huán)阻抗Z(s)特性等效形式的常數(shù)項d、se項以及有理分式項的零點同時乘以β，極點保持不變。