[發(fā)明專利]一種光纖長度測量方法

在審

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• 申請日: 2020-08-19
• 公開（公告）號: CN111947579A
• 公開（公告）日: 2020-11-17
• 發(fā)明（設計）人: 徐杰;方洋;緒海波
• 申請（專利權）人: 昂納信息技術（深圳）有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02;G01M11/00
• 代理公司: 深圳市道臻知識產權代理有限公司 44360
• 代理人: 陳琳

本發(fā)明涉及光纖長度測量技術領域，具體涉及一種光纖長度測量方法。所述光纖長度測量方法用于對待測光纖的長度進行測量，所述光纖長度測量方法包括步驟：將ASE光源的光束分束為經待測光纖的相干光路和經標準光纖的參考光路；調節(jié)參考光路光束的光程；相干光路的光束和參考光路的光束光程匹配產生白光干涉；監(jiān)測相干光路和參考光路的光束合束后的光功率；獲取合束后最大光功率對應的光程差；根據光程差獲取待測光纖的長度。本發(fā)明的光纖長度測量方法成本低，測量精度高。

技術領域

本發(fā)明涉及光纖長度測量技術領域，具體涉及一種光纖長度測量方法。

背景技術

光纖傳輸具有抗干擾能力強、損耗低、傳輸可靠性強等優(yōu)點，因此光纖通信已成為現(xiàn)代通信網絡的主要傳輸手段，被應用在日常生活的各個領域。一般情況下，光纖測試、光纖熔接、折射率測試等方面，都會涉及到光纖長度測量，可以說，光纖長度測量是實現(xiàn)光纖通信的一個重要的技術基礎。

目前，大多采用光纖長度測量儀來測量光纖長度，如，通過光學時域反射計OTDR、光學頻域反射計OFDR、光學相干反射計OCDR等測量光纖長度，這些測量方式存在測量成本高、測量精度差等諸多缺陷，致使這些測量方式在實際應用中存在一定的局限性，因此，目前亟需一種新的光纖長度測量方案。

干涉型光纖傳感系統(tǒng)主要包括兩部分：傳感器和信號解調儀器。干涉型光纖傳感器有：Fabry-Perot、Mach-Zehnder、Michelson、Sagnac等，待測量作用在干涉儀上時將對干涉儀產生相位調制，從干涉儀的輸出干涉信號中解調出干涉儀的相位或相位變化，從而實現(xiàn)對被測物理量的測量。但光纖光路中使用單點光源極易導致噪聲、且偏振態(tài)極易受到影響，從而降低測試信號解調器的精度。

發(fā)明內容

本發(fā)明要解決的技術問題在于，針對現(xiàn)有技術的上述缺陷，提供一種光纖長度測量方法，解決現(xiàn)有光纖長度測量方案測量成本高、測量精度低的問題。

本發(fā)明解決其技術問題所采用的技術方案是：提供一種光纖長度測量方法，用于對待測光纖的長度進行測量，所述光纖長度測量方法包括步驟：

將ASE光源的光束分束為經待測光纖的相干光路和經標準光纖的參考光路；

調節(jié)參考光路光束的光程；

相干光路的光束和參考光路的光束光程匹配產生白光干涉；

監(jiān)測相干光路和參考光路的光束合束后的光功率；

獲取合束后最大光功率對應的光程差；

根據光程差獲取待測光纖的長度。

本發(fā)明的更進一步優(yōu)選方案是：所述光纖長度測量方法還包括步驟：

同步監(jiān)測相干光路和參考光路光束的光功率；

調節(jié)相干光路與參考光路同保偏耦合器的雙纖端的熔接角度，使相干光路和參考光路的光束能量相等合束后輸出。

本發(fā)明的更進一步優(yōu)選方案是：所述光纖長度測量方法還包括步驟：

在接入待測光纖和標準光纖前校準相干光路和參考光路的光程相等；

調節(jié)光程調節(jié)單元校準零光程點，獲取光功率最大時對應的位置。