[發明專利]基于動態鏈接庫的儀器集成控制封裝方法、介質和裝置在審
| 申請號: | 202010836611.5 | 申請日: | 2020-08-19 |
| 公開(公告)號: | CN112100057A | 公開(公告)日: | 2020-12-18 |
| 發明(設計)人: | 陳鑫友;郭海帆;劉勇;王悅;陳茜;郭苗苗;吳瓊;吳家賢 | 申請(專利權)人: | 中國電子科技集團公司第二十九研究所 |
| 主分類號: | G06F11/36 | 分類號: | G06F11/36 |
| 代理公司: | 成都九鼎天元知識產權代理有限公司 51214 | 代理人: | 徐靜 |
| 地址: | 610036 四川*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 動態 鏈接 儀器 集成 控制 封裝 方法 介質 裝置 | ||
本發明公開了一種基于動態鏈接庫的儀器集成控制封裝方法、介質及裝置,包括:步驟1,基于輸入裝置在計算機系統中錄入儀器集成控制封裝庫的函數設計需求;步驟2,基于函數設計需求編程實現儀器集成控制封裝庫函數程序,儀器集成控制封裝庫函數程序包括固有能力函數程序模塊、基本能力函數程序模塊和擴展能力函數程序模塊等;基于步驟2中設計的儀器集成控制封裝庫函數和動態鏈接庫,生成儀器集成控制封裝庫等;本發明提高了編程效率,封裝效率,軟件可讀性和測試效率,實現了儀器的可互換性和軟件的共享性,解決了儀器程控的通用性和規范性,增強了自動測試系統軟件擴展的便捷性。
技術領域
本發明涉及自動測試系統中儀器自動控制領域,更為具體的,涉及一種基于動態鏈接庫的儀器集成控制封裝方法、介質和裝置。
背景技術
目前,自動測試系統已廣泛應用于國內各個行業科研生產,如工業自動化中的信號產生、測量和分析等,都摻雜著自動測試系統,而自動測試系統硬件的搭建大都借助各類通用儀器。
在設計、組建基于通用通信總線:GPIB(General Purpose Interface Bus), LAN(Local Area Network)和COM(Serial Interface)等的自動測試系統時,儀器的編程是系統開發過程中最費時費力的部分。這是因為:1)通用儀器可能由多個儀器制造商提供,各制造商之間的儀器程控方式不盡相同,同一個制造商儀器不同型號的儀器程控方式也不盡相同。而且,現在各大儀器制造商還在不斷推陳出新,每年都有多款新產品上市。這就要求當涉及到儀器程控時,開發自動測試系統的設計人員,需要學習集成到系統中不同儀器的編程手冊,并根據系統的需要逐條加以驗證調試,占據了大量的時間和精力;2)在程序中如果直接采用程控命令碼對儀器進行控制,由于設計人員的編程風格不一樣,會造成程序的可讀性和二次開發性大打折扣; 3)現有自動測試系統基本是針對特定型號的儀器編寫,系統中任意一臺儀器都無法被同類型其他型號替換,這種自動測試程序與儀器型號一一綁定的方式,在很大程度上影響了儀器的使用效率和調配能力,給科研生產帶來了極大的不便。
對于未來自動測試系統來說,涉及多種類、多型號的儀器,同時還要考慮到儀器資源的調配和保障情況,上述原因導致儀器編程效率低,調試時間長,可互換性和通用性差。因此,基于動態鏈接庫的儀器集成控制封裝方法將會是自動測試系統中解決高效和可互換的關鍵手段。
發明內容
本發明的目的在于克服現有技術的不足,提供一種基于動態鏈接庫的儀器集成控制封裝方法、介質和裝置,提高了編程效率,封裝效率,軟件可讀性和測試效率,實現了儀器的可互換性和軟件的共享性,解決了儀器程控的通用性和規范性,增強了自動測試系統軟件擴展的便捷性。
本發明的目的是通過以下方案實現的:
一種基于動態鏈接庫的儀器集成控制封裝方法,包括:
步驟1,基于輸入裝置在計算機系統中錄入儀器集成控制封裝庫的函數設計需求;
步驟2,基于函數設計需求編程實現儀器集成控制封裝庫函數程序,所述儀器集成控制封裝庫函數程序包括固有能力函數程序模塊、基本能力函數程序模塊和擴展能力函數程序模塊,所述固有能力函數程序模塊用于規定基本配置功能,所述基本能力函數程序模塊用于規定基礎功能,所述擴展能力函數程序模塊用于規定復雜測試功能;所述儀器集成控制封裝庫函數包括函數名、函數參數和函數返回值;其中,函數名由前綴及函數功能描述字兩部分組成;函數參數包括自動測試系統軟件設計師根據實際測試需求程控的儀器型號、設置的參數或讀取的測試數據;函數的返回值,用于反映當前函數是否執行成功;
步驟3,基于步驟2中設計的儀器集成控制封裝庫函數和動態鏈接庫,生成儀器集成控制封裝庫。
進一步地,其特征在于,所述封裝庫文件包括硬件通信接口和軟件接口。
進一步地,所述硬件通信接口包括GPIB接口模塊、LAN接口模塊和 COM接口模塊中的任一種。
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