[發(fā)明專利]一種低頻電源紋波干擾測試儀

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010835656.0
• 申請日: 2020-08-19
• 公開（公告）號: CN111856312B
• 公開（公告）日: 2023-06-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 穆晨晨;袁巖興;康寧;劉陽;張磊;王淞宇;唐元貴;韓玉峰;齊萬泉
• 申請（專利權(quán)）人: 北京無線電計量測試研究所
• 主分類號: G01R31/40
• 分類號: G01R31/40
• 代理公司: 中國航天科工集團公司專利中心 11024
• 代理人: 張國虹

本發(fā)明公開一種低頻電源紋波干擾測試儀，包括殼體和集成式測試系統(tǒng)；集成式測試系統(tǒng)包括控制單元、信號發(fā)生單元、信號放大單元、信號耦合單元、信號采集單元和弱小信號提取單元，信號耦合單元的信號輸入端分別與電源接口和信號放大單元相接，信號放大單元與信號產(chǎn)生單元連接，信號耦合單元的信號輸出端分別與受試設(shè)備連接接口和弱小信號提取單元相接，弱小信號提取單元與信號采集單元相連，信號采集單元與控制單元相接。本發(fā)明集成了控制單元、信號發(fā)生單元、信號放大單元、信號耦合單元、信號采集單元、弱小信號提取單元以及輸出/顯示單元，可實現(xiàn)全自動化測試功能，控制模塊可實現(xiàn)修正系數(shù)、限值曲線添加與調(diào)用，功率比較功能。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種測試儀，尤其涉及一種低頻電源紋波干擾測試儀。

背景技術(shù)

紋波是由于電源的電壓波動而造成的一種現(xiàn)象。通常與輸出電源頻率或內(nèi)部產(chǎn)生的變換頻率有關(guān)的周期性與隨機性成分的雜波信號，就稱為紋波。

紋波對電子系統(tǒng)帶來的危害主要有兩方面，一方面紋波干擾信號通過主電路的輸入輸出傳播出去，通過電子系統(tǒng)內(nèi)部的線纜傳遞到敏感部件造成干擾。另一方面，紋波信號引起的諧波以及高頻噪聲在電路周圍產(chǎn)生一定的電場和磁場，通過電磁輻射產(chǎn)生輻射干擾。

紋波干擾對電子產(chǎn)品的影響，反映在電子產(chǎn)品內(nèi)部的自兼容狀態(tài)與電子系統(tǒng)間的兼容狀態(tài)，因此，紋波干擾的測試分屬于電磁兼容測試領(lǐng)域。目前國內(nèi)外的電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)對紋波干擾測試項目都做出了具體的要求與規(guī)定，主要目的就是為了確保設(shè)備在電源波形失真允許紋波電壓作用下性能不發(fā)生下降。

電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了紋波干擾施加的限值，并且要求對施加的紋波干擾進(jìn)行監(jiān)測，實時監(jiān)測施加在電子設(shè)備中的紋波干擾的頻率與電壓信息，這樣在被測電子產(chǎn)品出現(xiàn)敏感時可以確定電子產(chǎn)品的敏感度門限電平，為電子設(shè)備的抗紋波干擾確定試驗依據(jù)。

結(jié)合電磁兼容實驗室現(xiàn)狀，傳統(tǒng)電磁兼容實驗室中開展電源線紋波干擾測試項目通常使用的儀器是信號發(fā)生器、功率放大器、示波器等儀器組合。這種分立式的測量儀器，由于相關(guān)聯(lián)的設(shè)備較多，不易移動，不能滿足調(diào)試廠房、故障排除現(xiàn)場、外部測試場的診斷測試需求，不僅無法作為電源紋波干擾的診斷測試設(shè)備，還有可能會帶給電子產(chǎn)品新的不必要的干擾。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種設(shè)計合理，同時滿足現(xiàn)場診斷需求，實現(xiàn)外場電磁兼容診斷測試的移動和便攜性的低頻電源紋波干擾測試儀，還解決電子系統(tǒng)設(shè)計和試驗過程中遇到的電源紋波干擾問題，滿足設(shè)計者對電源線紋波干擾診斷需求，便于設(shè)計者對電子系統(tǒng)從板級、設(shè)備級、分系統(tǒng)和系統(tǒng)中的電纜進(jìn)行診斷。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：

本發(fā)明是一種低頻電源紋波干擾測試儀，其特點是，包括殼體和裝在殼體內(nèi)的集成式測試系統(tǒng)，殼體上設(shè)有受試設(shè)備連接接口和電源接口；所述集成式測試系統(tǒng)包括控制單元、信號發(fā)生單元、信號放大單元、信號耦合單元、信號采集單元和弱小信號提取單元，信號耦合單元的信號輸入端分別與電源接口和信號放大單元相接，信號放大單元與信號產(chǎn)生單元連接，信號耦合單元的信號輸出端分別與受試設(shè)備連接接口和弱小信號提取單元相接，弱小信號提取單元與信號采集單元相連，信號采集單元與控制單元相接，控制單元與顯示器和控制面板相接。

優(yōu)選地，所述信號采集單元包括A/D模塊和數(shù)字信號處理器，A/D模塊的輸入端與弱小信號提取單元相接，A/D模塊的輸出端通過數(shù)字信號處理器與控制單元相接。

優(yōu)選地，所述控制單元包括帶有控制模塊的集成電路板，所述信號發(fā)生單元、信號放大單元、信號耦合單元、信號采集單元和弱小信號提取單元均設(shè)在集成電路板上。

優(yōu)選地，所述殼體上裝有顯示單元和控制面板，顯示單元和控制面板均與控制單元相接。

優(yōu)選地，所述殼體上設(shè)有網(wǎng)口接口、信號注入端口以及強信號抑制端口，網(wǎng)口接口、信號注入端口以及強信號抑制端口均與控制單元相接。