[發明專利]模擬液體在薄膜表面成膜及潤濕情況的裝置及模擬方法

在審

• 申請號: 202010833823.8
• 申請日: 2020-08-18
• 公開（公告）號: CN112067507A
• 公開（公告）日: 2020-12-11
• 發明（設計）人: 羅東浩;陳能穎;謝勝杰;黃可;田雪靜;陳鵬;王宜金
• 申請（專利權）人: 澳中新材料科技（韶關）有限公司
• 主分類號: G01N13/00
• 分類號: G01N13/00;G01B11/30
• 代理公司: 東莞市科安知識產權代理事務所(普通合伙) 44284
• 代理人: 曾毓芳

本發明屬于薄膜檢測技術領域，尤其涉及一種模擬液體在薄膜表面成膜及潤濕情況的裝置及模擬方法。該裝置，包括：一噴霧裝置，噴霧裝置具有若干噴霧噴頭，噴霧噴頭用于在薄膜表面上噴霧。該模擬方法包括以下步驟：1)將薄膜放置在與噴霧噴頭相距25～35cm的位置；2)開啟噴霧裝置，噴霧量為1000～1400mL/h，噴霧20～40秒；噴霧結束，完成模擬。本發明通過在薄膜表面噴霧的方式模擬液態物質在薄膜材料表面的潤濕及成膜情況，可一定程度上評估膠水等有機物在薄膜材料表面的成膜均勻性，進而保障電子膠帶涂布膠面外觀均勻性和性能穩定性，提高生產良率。

技術領域

本發明屬于薄膜檢測技術領域，尤其涉及一種模擬液體在薄膜表面成膜及潤濕情況的裝置及模擬方法。

背景技術

隨著電子領域的快速發展，電子膠帶發揮越來越重要的作用，而作為基材的薄膜材料也備受關注。在電子膠帶制作過程中，為了進一步提高電子膠帶涂布膠面外觀及性能，對薄膜基材的性能要求越來越高，尤其是薄膜材料表面平整度及表面潤濕均勻性這些指標?，F有技術中，薄膜材料表面平整度及表面潤濕均勻性檢測現階段仍屬于實驗室檢測水平，主要采用原子力顯微鏡(AFM)和薄膜干涉法，上述方法不夠簡便、直觀，難以廣泛應用于企業生產中。

目前，電子膠帶制作領域迫切需求開發一種新的、簡便而直觀的評估薄膜材料表面平整度及表面潤濕均勻性的檢測方法，間接表征薄膜材料表面微觀形貌及潤濕性能，以一定程度上評估膠水等有機物在薄膜材料表面的成膜均勻性，進而保障電子膠帶涂布膠面外觀均勻性和性能穩定性，提高生產良率。

發明內容

本發明的目的在于提供一種模擬液體在薄膜表面成膜及潤濕情況的裝置及模擬方法，旨在解決現有技術中的薄膜表面平整度及表面潤濕均勻性檢測方法不夠簡便、直觀，難以廣泛應用于企業生產中的技術問題。

為實現上述目的，本發明實施例提供的一種模擬液體在薄膜表面成膜及潤濕情況的裝置，包括：

一噴霧裝置，所述噴霧裝置具有若干噴霧噴頭，所述噴霧噴頭用于在所述薄膜表面上噴霧。

較優地，該模擬液體在薄膜表面成膜及潤濕情況的裝置還包括：一拍照裝置，所述拍照裝置用于拍攝所述薄膜噴霧后的外觀照片。

較優地，所述噴霧噴頭與所述薄膜之間的距離為25～35cm。

較優地，所述噴霧裝置的噴霧量為1000～1400mL/h。

較優地，所述噴霧裝置為加濕器。

本發明實施例提供的模擬液體在薄膜表面成膜及潤濕情況的裝置中的上述一個或多個技術方案至少具有如下技術效果之一：該裝置工作時，噴霧噴頭在薄膜表面上噴霧，然后觀察薄膜上的噴霧成膜狀態；通過在薄膜表面噴霧的方式模擬液態物質在薄膜材料表面的潤濕及成膜情況，可一定程度上評估膠水等有機物在薄膜材料表面的成膜均勻性，進而保障電子膠帶涂布膠面外觀均勻性和性能穩定性，提高生產良率。該裝置采用的噴霧裝置為常見設備，能夠簡便、直觀地表征薄膜材料表面微觀形貌及潤濕性能，適用于企業生產。

為實現上述目的，本發明實施例還提供一種模擬液體在薄膜表面成膜及潤濕情況的模擬方法，包括以下步驟：

1)將所述薄膜放置在與噴霧噴頭相距25～35cm的位置；

2)開啟噴霧裝置，噴霧量為1000～1400mL/h，噴霧20～40秒；噴霧結束，完成模擬。

較優地，該模擬液體在薄膜表面成膜及潤濕情況的模擬方法還包括以下步驟：

3)用拍照裝置拍攝所述薄膜噴霧結束后的外觀照片作為噴霧圖片。

較優地，噴霧的環境為溫度23～27℃，相對濕度52～57％。

較優地，所述薄膜的材質選自PET、BOPET、PVC、PE、PS、PP、PA或ABS中的任意一種。