[發明專利]一種低功率液晶屏Gamma高阻抗測量方法

在審

• 申請號: 202010831959.5
• 申請日: 2020-08-18
• 公開（公告）號: CN112086047A
• 公開（公告）日: 2020-12-15
• 發明（設計）人: 林子謙;袁文廣;解效民
• 申請（專利權）人: 中科泓泰電子有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種低功率液晶屏Gamma高阻抗測量方法，涉及高阻抗測量領域，低功率液晶屏包括終端和測試端，終端包括至少兩個終端陣列點，測試端包括至少四個測試陣列點；測量方法包括：提供若干第一導線，將終端的至少兩個終端陣列點依次串聯成串聯電路，導線在與各個終端結合處形成結合點；提供一自制電路，將自制電路包括：Gamma PAD、運算放大器、LM324、牛角以及NI采集卡；提供一導電板，將測試端與PAD通過導電板電性連接；提供若干第二導線，將Gamma PAD與LM324通過第二導線電性連接；NI采集卡采集阻抗數值。本發明通過在牛角與Gamma PAD連接中間增加運算放大器，將高阻抗轉換為低阻抗進行采集測試，增加了精確度，使量測數據不低于Spec。

技術領域

本發明涉及高阻抗測量技術領域，特別涉及一種低功率液晶屏Gamma高阻抗測量方法。

背景技術

液晶屏是以液晶材料為基本組件，由于液晶是介于固態和液態之間，液晶屏不但具有固態晶體光學特性，又具有液態流動特性，這些特性也會有產生較高阻抗，所以對液晶屏高阻抗測量越來越受到研究學者的興趣。

現有的測試Gamma通過牛角連接NI測試，由于電器產品越來越節能，液晶面板部分也是小功耗，要求液晶需求電流小，線路設計GMA電阻部分阻值變大，由原有的幾百歐姆到現在千歐級，NI采集時內阻為1M歐姆，在量測時VGMA 電阻達到千歐姆以上時，NI會消耗耗一部分功率，導致量測數據低于Spec，從而造成測量的不精確，存在一定的局限性，為此，我們提出一種低功率液晶屏Gamma高阻抗測量方法。

發明內容

本發明的目的在于提供一種低功率液晶屏Gamma高阻抗測量方法，現有現有的測試Gamma通過牛角連接NI測試，由于電器產品越來越節能，液晶面板部分也是小功耗，要求液晶需求電流小，線路設計GMA電阻部分阻值變大，由原有的幾百歐姆到現在千歐級，NI采集時內阻為1M歐姆，在量測時VGMA 電阻達到千歐姆以上時，NI會消耗耗一部分功率，導致量測數據低于Spec，從而造成測量的不精確，存在一定的局限性的問題。

為解決上述技術問題，本發明是通過以下技術方案實現的：

本發明為一種低功率液晶屏Gamma高阻抗測量方法，所述低功率液晶屏包括終端和測試端，所述終端包括至少兩個終端陣列點，所述測試端包括至少四個測試陣列點；

所述測量方法包括：

提供若干第一導線，將所述終端的至少兩個終端陣列點依次串聯成串聯電路，所述導線在與各個所述終端結合處形成結合點；

提供一自制電路，將所述自制電路包括：Gamma PAD、運算放大器、LM324、牛角以及NI采集卡；

提供一導電板，將所述測試端與PAD通過導電板電性連接：

提供若干第二導線，將所述Gamma PAD與LM324通過第二導線電性連接；

提供若干第三導線，將所述LM324與牛角通過第三導線電性連接，所述牛角包括牛角線，將LM324與NI采集卡通過牛角線連接；

所述NI采集卡采集阻抗數值。

優選地，所述第一導線以及第二導線均為標準導線，兩條所述第一導線的長度之和等于兩條所述的長度之和。

優選地，待測板測試的所述Gamma PAD為PCB GMA。

優選地，所述運算放大器為高阻抗輸入，低阻抗輸出。

優選地，所述LM324通過Layout PCB然后固定在治具一表面，所述LM324一顆可以支援個Gamma點，所述Layout的板子最多支援個通道。

優選地，所述牛角的絕緣電阻為10MΩ，機械操作的最大速度為10mm/s，間隔時間不插合時為30s。