[發明專利]膜材料的平整度測試方法

有效

• 申請號: 202010825392.0
• 申請日: 2020-08-17
• 公開（公告）號: CN112097722B
• 公開（公告）日: 2022-04-08
• 發明（設計）人: 李曉;楊淼坤;孫芙榮;張江山;張永明
• 申請（專利權）人: 山東東岳高分子材料有限公司
• 主分類號: G01B21/30
• 分類號: G01B21/30
• 代理公司: 濟南竹森知識產權代理事務所(普通合伙) 37270
• 代理人: 朱家富

本發明屬于膜材料技術領域，具體涉及一種膜材料的平整度測試方法。本發明所述的膜材料的平整度測試方法，包括膜的樣品選取、定域裁切、定寬標記、定寬裁切、尺寸測定以及數據處理步驟。本發明通過簡單的器具和操作，實現了對膜材料表觀平整度的大致描繪和數字化評價，填補了膜材料因質地較軟、透明度較高而導致平整度難以準確測試的技術空白，為其平整度的優化改善提供了有力支持。

技術領域

本發明屬于膜材料技術領域，具體涉及一種膜材料的平整度測試方法。

背景技術

膜材料品類繁多，應用也遍及各行各業，在近三十年來膜技術更是獲得了極其迅速的發展，已經廣泛而有效地應用于石油化工、制藥、生化、環境、能源、電子、冶金、輕工、食品、航天、海水淡化以及醫療保健等領域，形成了獨立的高新技術產業。膜材料的加工技術發展日新月異，然而，制約膜材料發展的瓶頸之一-平整度的優化控制卻依然困擾著技術人員，且長久以來平整度測試方法缺失，生產者多以經驗、感觀評估膜材料是否平整，這顯然與膜行業高精尖的技術要求不匹配。

目前市面上有許多行業具備成熟的平整度測試評價方法和儀器，如瓷磚制造業、電池制造業、路面整修行業、汽車機械行業等等，從而誕生了關于各種材料平整度測試方法的國家標準。在國標GB/T 11337-2004中，以平面度誤差表示材料的平整度，即實際平面對理想平面的變動量，文件中共列舉了十種平面度誤差檢測方法，分別是適用于低精度、小平面材料的間隙法，適用于硬質材料的指示器法、干涉法、液面法、水平儀法、自準直儀、跨步儀法、表橋法、反向消差法以及適用于大平面、精度一般的光軸法，這其中大部分方法都需要被測材料具有一定的硬度，而膜材料由于其自身質地較為柔軟，無法適用于上述國標方法。

研究人員為了解決平整度測試儀器與材料必須接觸這一短板，也研發出許多非接觸式測試儀，例如光學坐標三維測量儀、雙色激光掃描儀、跟蹤式三維掃描儀等等，此類儀器的工作原理是依靠內部裝載的定位相機、光線發射器和接收器對材料表面進行光學掃描，但這類儀器費用較高，一般價格在一百萬左右，且要求被測材料透光性低，由于膜材料一般透光性較好，所以用這類儀器進行平整度評價難度也較大。

發明內容

針對現有技術的不足，本發明的目的是提供一種膜材料的平整度測試方法，其能夠不受到膜質地柔軟、透光性高特性的影響，準確、高效地將材料的平整度數據化，便于后期膜工藝的提高與優化，使用的器具簡單，成本低廉，操作簡易。

本發明所述的膜材料的平整度測試方法，包括膜的樣品選取、定域裁切、定寬標記、定寬裁切、尺寸測定以及數據處理步驟，具體包括以下步驟：

1)樣品選取：選取膜材料樣品；

2)定域裁切：沿鼓包方向的垂直方向對膜材料樣品進行裁切，制備一個或多個定域裁切樣；

3)定寬標記：隨機選取一個或多個定域裁切樣，沿定域裁切方向的垂直方向將定域裁切樣等距離平均分為多份，完成定寬標記；

4)定寬裁切：按照定寬標記，將定域裁切樣裁剪為測量條，并進行編號；

5)尺寸測定：精確測定測量條的長度值；

6)數據處理：將測量條的長度值進行分布分析或波動分析，定量評價膜材料的平整度。

其中：

所述的膜材料為纖維素衍生物類膜材料、聚砜類膜材料、聚酰胺類膜材料、聚酰亞胺類膜材料、聚酯類膜材料、聚烯烴類膜材料、乙烯類膜材料、含硅聚合物類膜材料、含氟聚合物類膜材料或甲殼素類膜材料中的一種或幾種材料的復合膜材料。

所述的樣品選取，膜材料樣品縱向邊尺寸范圍為100～1000mm，橫向邊尺寸為膜材料的整幅寬度或5～5000mm。根據膜樣品的大小將膜進行區域劃分，再針對一個或多個區域進行裁切。