[發明專利]一種檢測搪瓷層形變量與瓷層開裂關系的裝置在審
| 申請號: | 202010823810.2 | 申請日: | 2020-08-17 |
| 公開(公告)號: | CN111948060A | 公開(公告)日: | 2020-11-17 |
| 發明(設計)人: | 陳昌中;譚德強;王成根;陳煥煥;王星瑞;唐登峰 | 申請(專利權)人: | 格力電器(武漢)有限公司;珠海格力電器股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N3/12 | 分類號: | G01N3/12;G01N3/06;G01N3/02;G01B21/32;G01N21/88 |
| 代理公司: | 北京細軟智谷知識產權代理有限責任公司 11471 | 代理人: | 秦瓊 |
| 地址: | 430000 湖北省武漢*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 檢測 搪瓷 形變 開裂 關系 裝置 | ||
本發明涉及一種檢測搪瓷層形變量與瓷層開裂關系的裝置,屬于檢測設備技術領域,解決了現有技術中沒有裝置能夠用于研究搪瓷層形變量與搪瓷層開裂關系的技術問題。該裝置包括底座、形變檢測系統、裂痕檢測系統以及施壓設備,底座上設有用于安裝搪瓷樣板的安裝位;施壓設備安裝在底座上以用于對搪瓷樣板施加壓力;形變檢測系統安裝在底座上以用于檢測搪瓷樣板上搪瓷層的形變量;裂痕檢測系統安裝在底座上以用于檢測搪瓷層是否產生裂痕。通過上述結構,該裝置能夠精準地得出搪瓷層裂瓷與瓷層形變量關系,進而得出搪瓷樣板基材的形變量的極限值,以指導搪瓷基材厚度和搪瓷產品結構的設計以及選型,規避搪瓷層在生產制造和使用過程出現裂瓷的風險。
技術領域
本發明屬于檢測設備技術領域,特別涉及一種檢測搪瓷層形變量與瓷層開裂關系的裝置。
背景技術
搪瓷材料屬于無機非金屬材料,它是一種涂覆在金屬表面的一層或多層玻璃質釉,在高溫下燒結而成的金屬與無機氧化物牢固結合的復合材料。搪瓷層是一種非晶態無機非金屬材料,其表面光滑,具有良好的防腐性。搪瓷材料兼有鋼的強度、延伸性和玻璃的耐酸堿腐蝕、不易污染產品、容易清洗等優點,它可以賦予材料表面耐磨、耐蝕、耐熱、耐輻射、以及光、電、熱、磁等特殊性能,從而達到提高使用性能、延長使用壽命的目的,所以被廣泛應用于餐具、衛生潔具、電路基板、生物材料、航空航天等領域。
搪瓷層為玻璃體物質,在受到力的作用時,當作用力超過搪瓷層所能承受最大應力值(即強度極限)時,瓷層會發生形變而產生破裂或者損壞。目前,隨著企業對成本控制越來越嚴格,搪瓷制品的厚度有逐漸減薄的趨勢,搪瓷材料所能承受的外力也越來越小。而搪瓷產品在生產和使用過程中難免受到外力,會導致搪瓷制品彎曲,超出搪瓷層強度極限而裂瓷(即瓷層開裂),使得搪瓷層失效。因此,如果能找到搪瓷層在外力作用下產生的彎曲形變量與搪瓷層裂瓷的關系,就可以根據產品所要承受的最大外力值和變形量,選擇搪瓷材料基材的合適厚度和產品受力結構,提前規避搪瓷產品在生產制造或者使用過程中出現裂瓷的風險。但目前行業內還沒有相關研究搪瓷層形變量與搪瓷層開裂關系的裝置,因此無法評估瓷層開裂與瓷層形變量的關系,無法提前規避搪瓷產品在生產制造和使用過程出現的裂瓷風險。
發明內容
本發明提供一種檢測搪瓷層形變量與瓷層開裂關系的裝置,用于解決現有技術中沒有裝置能夠用于研究搪瓷層形變量與搪瓷層開裂關系的技術問題。
本發明通過下述技術方案實現:一種檢測搪瓷層形變量與瓷層開裂關系的裝置,包括底座、形變檢測系統、裂痕檢測系統以及施壓設備,所述底座上設有安裝位,所述安裝位用于安裝搪瓷樣板;
所述施壓設備安裝在所述底座上以用于對所述搪瓷樣板施加壓力;
所述形變檢測系統安裝在所述底座上以用于檢測所述搪瓷樣板上搪瓷層的形變量;
所述裂痕檢測系統安裝在所述底座上以用于檢測所述搪瓷樣板上搪瓷層是否產生裂痕。
進一步地,為了更好的實現本發明,所述底座包括底板、頂板和側板,所述側板設置于所述底板以及所述頂板之間形成一盒體結構,所述形變檢測系統安裝在所述盒體結構內,所述安裝位為設于所述頂板上表面并與所述搪瓷樣板適配的凹槽。
進一步地,為了更好的實現本發明,所述凹槽的槽底設有一缺口,所述形變檢測系統包括探針,所述探針伸入所述缺口并與所述搪瓷層相抵。
進一步地,為了更好地實現本發明,所述裂痕檢測系統包括通訊連接在一起的圖像采集設備和計算機,所述圖像采集設備安裝在所述盒體結構中且該圖像采集設備的圖像采集端正對所述搪瓷層,所述計算機安裝在控制柜內并與所述圖像采集設備通訊連接以分析所述圖像采集設備采集的圖像信息而判斷所述搪瓷層是否開裂,并且所述形變檢測系統與所述計算機也通訊連接以將其探測的所述搪瓷層形變信息傳遞給所述計算機處理。
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