[發明專利]一種盤片拋光及檢測裝置

在審

• 申請號: 202010819915.0
• 申請日: 2020-08-14
• 公開（公告）號: CN114074282A
• 公開（公告）日: 2022-02-22
• 發明（設計）人: 李澤輝
• 申請（專利權）人: 臺山市遠鵬研磨科技有限公司
• 主分類號: B24B29/02
• 分類號: B24B29/02;B24B41/02;B24B47/12;B24B47/06;B24B49/12;B24B41/06;B24B41/04;B24D3/28;B24D7/00
• 代理公司: 廣州駿思知識產權代理有限公司 44425
• 代理人: 潘桂生

一種盤片拋光及檢測裝置，包括機臺、設置在機臺上的拋光組件、分別設置在拋光組件相對兩側的移位組件及檢測組件。機臺的臺面上設置有一滑槽，滑槽內設置有一滑座，滑座上開設有一加工槽。拋光組件包括升降臺、設置在升降臺上的升降軸、以及安裝在升降軸頂部的懸臂；懸臂的末端設置有一伺服電機，該伺服電機的輸出軸下端安裝有一砂輪。移位組件包括一固定設置在機臺上的氣缸，氣缸的伸縮桿與滑座連接。檢測組件包括設置在機臺的臺面上的檢測架、設置在檢測架上的檢測頭、以及設置在機臺的臺面下的光敏檢測儀。本裝置通過光敏陣列來檢測拋光后的盤片的受光量，并傳送到光敏檢測儀分析，從而確定盤片的研磨拋光量達不達標。

技術領域

本發明涉及研磨拋光設備領域，具體涉及一種盤片拋光及檢測裝置。

背景技術

盤片是各種機械設備上常用的部件，比如剎車盤片是各種交通工具上的常見部件，也是容易磨損的部件之一，當盤片磨損到一定程度后將影響其使用性能，需要拆下進行研磨拋光，經過研磨拋光后再次組裝使用。有些磨損的盤片在研磨拋光后，需要對打磨量進行檢測。現用的拋光工序和檢測工序分別采用不同的設備來完成，拋光用的磨床不具備自動測量研磨量的功能，磨削過程中只能人工觀察，并根據經驗判定研磨量是否符合要求，效率低、經驗估算也不準確。

發明內容

本發明的目的在于克服現有技術中的缺點與不足，提供了一種盤片拋光及檢測裝置，其通過光敏陣列來檢測拋光后的盤片的受光量，并傳送到光敏檢測儀分析，從而確定盤片的研磨拋光量達不達標，可精確計算研磨量，效率高。

為了達到上述目的，本發明是通過以下技術方案實現的：

一種盤片拋光及檢測裝置，包括機臺、設置在機臺上的拋光組件、分別設置在拋光組件相對兩側的移位組件及檢測組件，進一步地：

所述機臺，其臺面上設置有一滑槽，該滑槽位于所述拋光組件與檢測組件的一側；該滑槽內設置有一滑座，該滑座與滑槽匹配，滑座上開設有一加工槽；

所述拋光組件，其與檢測組件并排在所述滑槽的一側，該拋光組件包括升降臺、設置在升降臺上的升降軸、以及安裝在升降軸頂部的懸臂；所述懸臂的末端設置有一伺服電機，該伺服電機的輸出軸朝下，該輸出軸的下端安裝有一砂輪，砂輪位于所述加工槽的正上方；

所述移位組件，其包括一固定設置在機臺上的氣缸，該氣缸的伸縮桿朝向所述滑座，且氣缸的伸縮桿與所述滑座固緊連接；

所述檢測組件，其包括設置在機臺的臺面上的檢測架、設置在檢測架上的檢測頭、以及設置在機臺的臺面下的光敏檢測儀，該檢測頭與光敏檢測儀電性連接。

進一步地，所述檢測頭包括一安裝座，該安裝座頂部設置有球面的光罩，該光罩內的弧頂處設置有一光源；所述安裝座上設置有若干均勻分布的有源光敏傳感器。

進一步地，所述安裝座上安裝有一透明的安裝板，該安裝板上均勻分布若干安裝孔，每一個所述有源光敏傳感器對應安裝在一個安裝孔內。

進一步地，所述光源、每一個所述有源光敏傳感器及所述光敏檢測儀電性連接。

進一步地，所述安裝座與所述光罩之間還設置有一分光板。

進一步地，所述砂輪是高分子改性PU硬質彈性砂輪，其包括依次壓制的海綿基體層、納米金剛石磨料層、固化劑層及合成樹脂固型層。

進一步地，所述的盤片拋光及檢測裝置，還包括有一控制開關組，該控制開關組包括第一控制開關、第二控制開關、以及第三控制開關，第一控制開關控制懸臂升降及伺服電機啟動或停止；第二控制開關控制氣缸伸縮；第三控制開關控制檢測頭啟動或停止。

優選地，所述檢測頭在檢測架上的安裝高度可調。

相比于現有技術，本發明的有益效果在于：