[發(fā)明專利]頁(yè)面測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010816461.1 | 申請(qǐng)日: | 2020-08-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111930629A | 公開(公告)日: | 2020-11-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蔣薇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 工銀科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/36 | 分類號(hào): | G06F11/36 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 鄢功軍 |
| 地址: | 071700 河北省中國(guó)(河北)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 頁(yè)面 測(cè)試 方法 裝置 電子設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
本公開實(shí)施例提供了一種頁(yè)面測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),可以用于金融領(lǐng)域或其他領(lǐng)域。該方法包括:獲取頁(yè)面測(cè)試信息,其中,頁(yè)面測(cè)試信息包括請(qǐng)求源類型;根據(jù)請(qǐng)求源類型確定與頁(yè)面測(cè)試信息對(duì)應(yīng)的目標(biāo)測(cè)試用例;以及,根據(jù)目標(biāo)測(cè)試用例進(jìn)行頁(yè)面測(cè)試。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開實(shí)施例涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域,更具體地,涉及一種頁(yè)面測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。
背景技術(shù)
隨著互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的快速發(fā)展,產(chǎn)品的迭代速度越來(lái)越快。采用自動(dòng)化測(cè)試代替人工測(cè)試以達(dá)到縮短測(cè)試周期的需求越來(lái)越強(qiáng)烈。
為了滿足該需求,各種自動(dòng)化測(cè)試工具應(yīng)運(yùn)而生。
在實(shí)現(xiàn)本公開構(gòu)思的過程中,發(fā)明人發(fā)現(xiàn)相關(guān)技術(shù)中至少存在如下問題:采用相關(guān)技術(shù)進(jìn)行頁(yè)面測(cè)試的成本較高。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本公開實(shí)施例提供了一種頁(yè)面測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。
本公開實(shí)施例的一個(gè)方面提供了一種頁(yè)面測(cè)試方法,該包括:獲取頁(yè)面測(cè)試信息,其中,上述頁(yè)面測(cè)試信息包括請(qǐng)求源類型;根據(jù)上述請(qǐng)求源類型確定與上述頁(yè)面測(cè)試信息對(duì)應(yīng)的目標(biāo)測(cè)試用例;以及。根據(jù)上述目標(biāo)測(cè)試用例進(jìn)行頁(yè)面測(cè)試。
根據(jù)本公開的實(shí)施例,上述根據(jù)上述請(qǐng)求源類型確定與上述頁(yè)面測(cè)試信息對(duì)應(yīng)的目標(biāo)測(cè)試用例,包括:確定與上述請(qǐng)求源類型對(duì)應(yīng)的頁(yè)面分析方法;根據(jù)上述頁(yè)面分析方法處理上述頁(yè)面測(cè)試信息得到頁(yè)面元素和與上述頁(yè)面元素對(duì)應(yīng)的頁(yè)面操作;以及,處理上述頁(yè)面元素和與上述頁(yè)面元素對(duì)應(yīng)的頁(yè)面操作得到與上述頁(yè)面測(cè)試信息對(duì)應(yīng)的目標(biāo)測(cè)試用例。
根據(jù)本公開的實(shí)施例,上述獲取頁(yè)面測(cè)試信息,包括:獲取原始測(cè)試用例;以及,解析上述原始測(cè)試用例得到上述頁(yè)面測(cè)試信息。
根據(jù)本公開的實(shí)施例,上述根據(jù)上述目標(biāo)測(cè)試用例進(jìn)行頁(yè)面測(cè)試,包括:執(zhí)行上述目標(biāo)測(cè)試用例生成實(shí)際測(cè)試結(jié)果。
根據(jù)本公開的實(shí)施例,該方法還包括:獲取與上述目標(biāo)測(cè)試用例對(duì)應(yīng)的預(yù)期測(cè)試結(jié)果;以及,根據(jù)上述實(shí)際測(cè)試結(jié)果和上述預(yù)期測(cè)試結(jié)果生成校驗(yàn)結(jié)果。
根據(jù)本公開的實(shí)施例,該方法還包括:根據(jù)上述校驗(yàn)結(jié)果生成頁(yè)面測(cè)試報(bào)告;以及,展示上述頁(yè)面測(cè)試報(bào)告。
根據(jù)本公開的實(shí)施例,上述請(qǐng)求源類型包括網(wǎng)頁(yè)端和移動(dòng)客戶端。
本公開實(shí)施例的另一個(gè)方面提供了一種頁(yè)面測(cè)試裝置,該裝置包括:第一獲取模塊,用于獲取頁(yè)面測(cè)試信息,其中,上述頁(yè)面測(cè)試信息包括請(qǐng)求源類型;確定模塊,用于根據(jù)上述請(qǐng)求源類型確定與上述頁(yè)面測(cè)試信息對(duì)應(yīng)的目標(biāo)測(cè)試用例;以及,測(cè)試模塊,用于根據(jù)上述目標(biāo)測(cè)試用例進(jìn)行頁(yè)面測(cè)試。
本公開實(shí)施例的另一個(gè)方面提供了一種電子設(shè)備,該電子設(shè)備包括:一個(gè)或多個(gè)處理器;存儲(chǔ)器,用于存儲(chǔ)一個(gè)或多個(gè)程序,其中,當(dāng)所述一個(gè)或多個(gè)程序被所述一個(gè)或多個(gè)處理器執(zhí)行時(shí),使得所述一個(gè)或多個(gè)處理器實(shí)現(xiàn)如上所述的方法。
本公開實(shí)施例的另一個(gè)方面提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有可執(zhí)行指令,該指令被處理器執(zhí)行時(shí)使處理器實(shí)現(xiàn)如上所述的方法。
本公開實(shí)施例的另一個(gè)方面提供了一種計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序包括計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令,所述指令在被執(zhí)行時(shí)用于實(shí)現(xiàn)如上所述的方法。
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G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
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G06F11-36 .通過軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
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