[發明專利]振鏡測試方法、裝置和計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202010816091.1
• 申請日: 2020-08-13
• 公開（公告）號: CN112037232A
• 公開（公告）日: 2020-12-04
• 發明（設計）人: 宋林東;王倩
• 申請（專利權）人: 歌爾光學科技有限公司
• 主分類號: G06T7/11
• 分類號: G06T7/11;G06T7/70;G01M11/00;G01M11/02
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 關向蘭

1.一種振鏡測試方法，其特征在于，所述振鏡測試方法包括以下步驟：

獲取光機組中振鏡的測試圖像；

對所述測試圖像進行分割得到子圖像，其中，所述子圖像包括多組擺放方向不同的第一顯示單元，每組所述第一顯示單元包括紅色顯示單元、綠色顯示單元以及藍色顯示單元的三個子顯示單元；

確定每個所述子顯示單元的粗端的第一中心線以及細端的第二中心線；

確定每個所述子顯示單元對應的所述第一中心線與所述第二中心線之間的第一距離；

在各個所述第一距離滿足預設條件時，確定所述振鏡在所述光機組中安裝正確。

2.如權利要求1所述的振鏡測試方法，其特征在于，所述確定每個所述子顯示單元的粗端的第一中心線以及細端的第二中心線的步驟包括：

對各組所述第一顯示單元進行擺放方向的調整，以使每一組所述第一顯示單元的擺放方向相同；

確定每組第二顯示單元的粗端的第三中心線以及細端的第四中心線，其中，對各組所述第一顯示單元進行擺放方向的調整后，相同顏色的各個所述子顯示單元位于一條直線上以構成所述第二顯示單元，每組所述第二顯示單元中各個所述子顯示單元的第一中心線為所述第三中心線，且每組所述第二顯示單元中各個所述子顯示單元的第二中心線為所述第四中心線。

3.如權利要求1所述的振鏡測試方法，其特征在于，所述對所述測試圖像進行分割得到子圖像的步驟包括：

對所述測試圖像進行二值化處理，得到二值化圖像；

確定所述二值化圖像的各個區域，其中，每個所述區域中的各個像素點的灰階值為預設灰階值；

對相鄰距離小于第一預設距離的各個所述區域進行直線擬合，得到多條直線，其中，每一條所述直線根據一組相鄰距離小于預設距離的各個所述區域確定；

根據各條所述直線對所述測試圖像進行分割得到所述子圖像。

4.如權利要求3所述的振鏡測試方法，其特征在于，所述根據各條所述直線對所述測試圖像進行分割得到所述子圖像的步驟包括：

在各條所述直線中確定相鄰的兩條第一直線以及相鄰的兩條第二直線，其中，兩條所述第一直線平行，兩條所述第二直線平行，且所述第一直線與所述第二直線不平行；

確定兩條所述第一直線與兩條所述第二直線之間的各個交點；

根據各個所述交點對所述測試圖像進行分割得到所述子圖像。

5.如權利要求3所述的振鏡測試方法，其特征在于，所述對相鄰距離小于第一預設距離的各個所述區域進行直線擬合的步驟包括：

確定相鄰距離小于第一預設距離的各個區域對應的中心點，得到多組中心點；

對每一組的各個所述中心點進行直線擬合，得到多條直線。

6.如權利要求1-5任一項所述的振鏡測試方法，其特征在于，所述確定每個所述子顯示單元對應的所述第一中心線與所述第二中心線之間的距離的步驟之后，還包括：

在各個所述第一距離不滿足預設條件時，確定所述振鏡在所述光機組中安裝不正確。

7.如權利要求1-5任一項所述的振鏡測試方法，其特征在于，所述預設條件包括：

各個所述第一距離小于第二預設距離；

或者，各組所述第一顯示單元的第二距離小于第三預設距離，所述第二距離根據所述第一顯示單元中各個所述顯示子單元的第一距離確定。

8.如權利要求1-5任一項所述的振鏡測試方法，其特征在于，所述確定所述振鏡在所述光機組安裝正確的步驟之后，還包括：

輸出振鏡振動到位的提示信息。

9.一種振鏡測試裝置，其特征在于，所述振鏡測試裝置包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器并可在所述處理器上運行的測試程序，所述測試程序被所述處理器執行時實現如權利要求1-8任一項所述的振鏡測試程序方法的各個步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質存儲有測試程序，所述測試程序被處理器執行時實現如權利要求1-8任一項所述的振鏡測試方法的各個步驟。