[發明專利]晶粒自動裂片機在審
| 申請號: | 202010815701.6 | 申請日: | 2020-08-14 |
| 公開(公告)號: | CN111834263A | 公開(公告)日: | 2020-10-27 |
| 發明(設計)人: | 高波;聶文新 | 申請(專利權)人: | 昆山康達斯機械設備有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01L21/78 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 215000 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 晶粒 自動 裂片 | ||
1.晶粒自動裂片機,包括機架(1),其特征在于,所述機架(1)上依次設置有碾壓裝置(2)、麥拉紙取料組件(3)以及上料裝置(4),且機架(1)上固定安裝有溶劑壓力桶(5),機架(1)上還轉動安裝有裂片平臺(6);
所述碾壓裝置(2)包括第一滑動座(21),第一滑動座(21)滑動設置在機架(1)上,第一滑動座(21)的一側通過滑動設置有碾壓板,碾壓板的底部裝設有裂片滾軸(23),且碾壓板的頂部設有裂片碾壓壓力調整模組(22);
所述麥拉紙取料組件(3)包括第二滑動座(31),第二滑動座(31)上固定安裝有麥拉紙取料手臂(32),所述麥拉紙取料手臂(32),所述麥拉紙取料手臂(32)上安裝有真空吸盤,且麥拉紙取料手臂(32)上設有溶劑噴頭(33);
所述上料裝置(4)包括四軸機械手(41)、單雙片檢測傳感器(43)以及拍照CCD(44),所述四軸機械手(41)的活動部固定安裝有取料吸盤(42),所述單雙片檢測傳感器(43)和拍照CCD(44)均安裝在機架(1)上;
所述裂片平臺(6)與碾壓裝置(2)的中心在同一軸線上,所述麥拉紙取料組件(3)與裂片平臺(6)的中心也在同一軸線上,所述碾壓裝置(2)與麥拉紙取料組件(3)垂直分布,所述上料裝置(4)位于裂片平臺(6)的一側。
2.根據權利要求1所述的晶粒自動裂片機,其特征在于,所述單雙片檢測傳感器(43)與拍照CCD(44)電性連接。
3.根據權利要求1所述的晶粒自動裂片機,其特征在于,所述機架(1)上分別安裝有第一導軌和第二導軌,所述第一滑動座(21)和第二滑動座(31)的底部分別通過螺絲固定有第一滑塊和第二滑塊,所述第一滑塊和第二滑塊分別與第一導軌和第二導軌滑動連接。
4.根據權利要求1所述的晶粒自動裂片機,其特征在于,所述第一滑動座(21)的一側開設有燕尾槽,所述碾壓板與燕尾槽滑動連接。
5.根據權利要求1所述的晶粒自動裂片機,其特征在于,所述裂片碾壓壓力調節模組(22)包括連接板、壓力表以及伺服滑臺裝置,所述伺服滑臺裝置安裝在第一滑動座(21)上,所述連接板滑動裝配在伺服滑臺裝置上,且連接板與所述碾壓板固定連接,所述壓力表的活動端與所述連接板固定連接。
6.根據權利要求1所述的晶粒自動裂片機,其特征在于,所述第一滑動座(21)的后側固定連接有卸料回收盒(24)。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





