[發(fā)明專利]磁場(chǎng)傳感器及測(cè)試方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010815288.3 | 申請(qǐng)日: | 2020-08-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111929625B | 公開(公告)日: | 2023-03-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 畢沖;劉明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院微電子研究所 |
| 主分類號(hào): | G01R33/07 | 分類號(hào): | G01R33/07 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 周天宇 |
| 地址: | 100029 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 磁場(chǎng) 傳感器 測(cè)試 方法 | ||
1.一種磁場(chǎng)傳感器,其特征在于,所述磁場(chǎng)傳感器的襯底上沉積單層鐵磁層,所述鐵磁層內(nèi)部發(fā)生自旋積累,以與所述鐵磁層的磁矩相互作用產(chǎn)生單向磁電阻;
所述磁場(chǎng)傳感器為霍爾棒結(jié)構(gòu),利用所述霍爾棒結(jié)構(gòu)測(cè)量所述單向磁電阻;
其中,所述鐵磁層的上下表面的磁非活躍層具有非對(duì)稱性。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁場(chǎng)傳感器,其特征在于,所述鐵磁層為CoFeB、Ni、CoFe、NiFe、Fe五種材料中的一種或幾種的合金或者多層異質(zhì)結(jié),總厚度在1納米至500納米之間。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁場(chǎng)傳感器,其特征在于,所述傳感器為霍爾棒結(jié)構(gòu),霍爾棒的特征寬度在10納米至1毫米之間,相鄰兩個(gè)霍爾棒的中心距離在15納米至1毫米之間。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁場(chǎng)傳感器,其特征在于,所述鐵磁層上沉積有保護(hù)層,所述保護(hù)層為金屬氧化物。
5.一種測(cè)試方法,應(yīng)用于權(quán)利要求1至4任意一項(xiàng)所述的磁場(chǎng)傳感器,其特征在于,所述方法包括:
在磁場(chǎng)傳感器接入預(yù)設(shè)電流,讀取霍爾棒結(jié)構(gòu)的電壓;
根據(jù)所述預(yù)設(shè)電流和電壓,計(jì)算所述磁場(chǎng)傳感器的單向磁電阻。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試方法,其特征在于,所述在磁場(chǎng)傳感器接入預(yù)設(shè)電流,讀取霍爾棒結(jié)構(gòu)之間的電壓包括:
在磁場(chǎng)傳感器上施加一個(gè)正電流,讀取霍爾棒結(jié)構(gòu)產(chǎn)生的電壓,計(jì)算在所述正電流下測(cè)量到的電阻;
在磁場(chǎng)傳感器上施加一個(gè)負(fù)電流,讀取霍爾棒結(jié)構(gòu)產(chǎn)生的電壓,計(jì)算在所述負(fù)電流下測(cè)量到的電阻;
所述根據(jù)所述預(yù)設(shè)電流和電壓,計(jì)算所述磁場(chǎng)傳感器的單向磁電阻包括:
計(jì)算在所述正電流下測(cè)量到的電阻和在所述負(fù)電流下測(cè)量到的電阻之間的差值,得到所述磁場(chǎng)傳感器的單向磁電阻。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試方法,其特征在于,所述在磁場(chǎng)傳感器接入預(yù)設(shè)電流,讀取霍爾棒結(jié)構(gòu)的電壓包括:
在磁場(chǎng)傳感器上施加一個(gè)脈沖電流,讀取霍爾棒結(jié)構(gòu)產(chǎn)生的脈沖電壓;
所述根據(jù)所述預(yù)設(shè)電流和電壓,計(jì)算所述磁場(chǎng)傳感器的單向磁電阻包括:
計(jì)算所述脈沖電壓和所述脈沖電流的比值,得到所述磁場(chǎng)傳感器的單向磁電阻。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試方法,其特征在于,所述在磁場(chǎng)傳感器接入預(yù)設(shè)電流,讀取霍爾棒結(jié)構(gòu)的電壓包括:
在磁場(chǎng)傳感器上施加一個(gè)連續(xù)變化的電流,讀取霍爾棒結(jié)構(gòu)產(chǎn)生的電壓;
所述根據(jù)所述預(yù)設(shè)電流和電壓,計(jì)算所述磁場(chǎng)傳感器的單向磁電阻包括:
計(jì)算所述電壓對(duì)所述電流的導(dǎo)數(shù),得到所述磁場(chǎng)傳感器的單向磁電阻。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試方法,其特征在于,所述在磁場(chǎng)傳感器接入預(yù)設(shè)電流,讀取霍爾棒結(jié)構(gòu)的電壓包括:
在磁場(chǎng)傳感器上施加一個(gè)頻率為ω的交變電流,讀取霍爾棒結(jié)構(gòu)產(chǎn)生的頻率為2ω的電壓;
所述根據(jù)所述預(yù)設(shè)電流和電壓,計(jì)算所述磁場(chǎng)傳感器的單向磁電阻包括:
計(jì)算所述頻率為2ω的電壓和所述頻率為ω的電流的比值,得到所述磁場(chǎng)傳感器的單向磁電阻。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)院微電子研究所,未經(jīng)中國科學(xué)院微電子研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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