[發明專利]一種電子產品老化試驗裝置

在審

• 申請號: 202010814707.1
• 申請日: 2020-08-13
• 公開（公告）號: CN111965453A
• 公開（公告）日: 2020-11-20
• 發明（設計）人: 侯馨
• 申請（專利權）人: 侯馨
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/04
• 代理公司: 北京艾皮專利代理有限公司 11777
• 代理人: 郭童瑜

本發明涉及電子產品測試技術領域，具體公開了一種電子產品老化試驗裝置，包括外箱體，所述外箱體內部設有內箱體，所述內箱體底部設有第一限位柱，所述外箱體底部設有減震裝置，所述外箱體與所述內箱體之間設有蓄水室，所述蓄水室中設有加熱絲，所述內箱體上方設有封門裝置；所述外箱體內部設有夾緊裝置，所述內箱體內設有光照裝置，所述封門裝置下方設有花灑。本發明通過水浴的方式調整裝置溫度，溫度非常穩定；通過可以轉動的夾緊裝置帶動電子產品轉動，通過光照裝置施加光照老化，通過花灑對電子產品進行加溫，裝置結構簡單，成本較低，且電子產品老化均勻，此外，第一鎖扣可以極大提高裝置的密封性。

技術領域

本發明涉及電子產品測試技術領域，具體是一種電子產品老化試驗裝置。

背景技術

電子產品----不管是元件、部件、整機或設備,都要進行老化和測試。老化和測試是兩個不一樣的概念，先老化后測試。電子產品（所有產品都是這樣）經生產制造后,形成了完整的產品,已經可以投入運行發揮其使用價值了,但是使用以后可能會發現有這樣那樣的問題,而這些問題可能絕大部分發生在剛開始運行的幾小時至幾十個小時之內,因此電子產品的老化和測試就應運而生,即仿照或者等效產品的使用狀態。這個過程由產品制造者來完成，通過再測試,把有問題的產品留在工廠,沒問題的產品給用戶,以保證賣給用戶的產品是可靠的或者是問題較少的。老化使產品的缺陷在出廠前暴露，如焊接點的可靠性，產品在設計、材料和工藝方面的各種缺陷；老化使產品性能進入穩定區間后出廠，減少返修率。這就是電子產品老化和測試的意義，但傳統的老化裝置大都結構復雜，不僅操作不便，成本也是極高。

發明內容

本發明的目的在于提供一種電子產品老化試驗裝置，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種電子產品老化試驗裝置，包括外箱體，所述外箱體內部設有內箱體，所述內箱體底部設有第一限位柱，所述外箱體底部設有減震裝置，所述外箱體與所述內箱體之間設有蓄水室，所述蓄水室中設有加熱絲，所述內箱體上方設有封門裝置；所述封門裝置包括封門，所述外箱體內部設有夾緊裝置，所述夾緊裝置包括支座，所述夾緊裝置之間設有承物筒，所述承物筒為可拆卸結構；所述內箱體內設有光照裝置，所述封門下方設有花灑，所述花灑外接水泵。

作為本發明進一步的方案：所述第一限位柱與所述內箱體之間固定連接；所述外箱體下方中心設有緊定螺栓，所述緊定螺栓與所述第一限位柱之間螺紋連接，所述緊定螺栓與所述外箱體之間螺紋連接。

作為本發明進一步的方案：所述減震裝置為彈簧；所述加熱絲纏繞在內箱體上；所述外箱體底部上方設有溫度傳感器，所述溫度傳感器設置在蓄水室中；所述蓄水室上方設有入水口，所述蓄水室下方設有出水口。

作為本發明進一步的方案：所述外箱體外壁上設有第一耳板，所述第一耳板固定連接在外箱體上，所述第一耳板上鉸接設有第一夾具，所述第一夾具的一端鉸接在第一耳板上，所述第一夾具為L型，所述第一夾具遠離第一耳板的一端上開有限位孔，所述封門兩側固定連接有第二限位柱，所述第一夾具上的限位孔與所述第二限位柱配合。

作為本發明進一步的方案：所述封門與所述第一夾具上開有凹槽，所述封門與所述第一夾具的連接處設有第一鎖扣，所述第一鎖扣與所述凹槽配合；所述封門上方設有把手，所述封門上方開有第一通氣孔。

作為本發明進一步的方案：所述支座的一端設有第四限位柱，所述第四限位柱與所述支座之間固定連接；所述裝置上開有側邊孔，所述第四限位柱插入側邊孔中，所述第四限位柱通過第二鎖扣與裝置固定，所述第四限位柱與裝置之間設有軸承。

作為本發明進一步的方案：所述支座上設有傳動桿，所述傳動桿與所述支座之間鉸接，所述傳動桿的一端為不完全齒輪，所述傳動桿的另一端鉸接有第一連桿，所述第一連桿的一端設有第二夾具，所述第二夾具與所述第一連桿為一體式結構；所述第一連桿與所述第二夾具的連接處與所述支座之間設有第二連桿。