[發(fā)明專利]圖像傳感器的像素結(jié)構(gòu)及其形成方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010813845.8 | 申請日: | 2020-08-13 |
| 公開(公告)號: | CN111933651A | 公開(公告)日: | 2020-11-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 黃金德;胡萬景;王林 | 申請(專利權(quán))人: | 銳芯微電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/146 | 分類號: | H01L27/146 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 徐文欣 |
| 地址: | 215300 江蘇省蘇州市昆山市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 圖像傳感器 像素 結(jié)構(gòu) 及其 形成 方法 | ||
1.一種圖像傳感器的像素結(jié)構(gòu),其特征在于,包括:
襯底;
位于所述襯底內(nèi)的凹槽;
位于所述襯底內(nèi)的存儲區(qū),所述存儲區(qū)內(nèi)具有第一摻雜離子,所述存儲區(qū)位于所述凹槽的側(cè)壁和底部表面;
位于所述襯底上的存儲柵極結(jié)構(gòu),部分所述存儲柵極結(jié)構(gòu)位于所述存儲區(qū)表面且位于所述凹槽內(nèi)。
2.如權(quán)利要求1所述圖形傳感器的像素結(jié)構(gòu),其特征在于,所述凹槽的深度為0.1μm~5μm。
3.如權(quán)利要求2所述圖形傳感器的像素結(jié)構(gòu),其特征在于,所述凹槽的深寬比的范圍為0.2~20。
4.如權(quán)利要求1所述圖形傳感器的像素結(jié)構(gòu),其特征在于,位于所述凹槽的頂部尺寸大于位于所述凹槽的底部尺寸,所述頂部尺寸與所述底部尺寸的方向平行所述襯底頂部表面。
5.如權(quán)利要求4所述圖形傳感器的像素結(jié)構(gòu),其特征在于,所述凹槽的側(cè)壁與所述襯底頂部表面之間的夾角為45°~90°。
6.如權(quán)利要求1所述圖形傳感器的像素結(jié)構(gòu),其特征在于,所述存儲柵極結(jié)構(gòu)包括:柵介質(zhì)層以及位于所述柵介質(zhì)層上的柵極層。
7.如權(quán)利要求6所述圖形傳感器的像素結(jié)構(gòu),其特征在于,所述柵介質(zhì)層的材料包括氧化硅。
8.如權(quán)利要求6所述圖形傳感器的像素結(jié)構(gòu),其特征在于,所述柵介質(zhì)層的厚度為1nm~10nm。
9.如權(quán)利要求6所述圖形傳感器的像素結(jié)構(gòu),其特征在于,所述柵極層的材料包括多晶硅。
10.如權(quán)利要求1所述圖形傳感器的像素結(jié)構(gòu),其特征在于,還包括:位于所述存儲區(qū)上的遮光層,且所述遮光層覆蓋所述存儲柵極結(jié)構(gòu)的部分側(cè)壁和頂部表面。
11.如權(quán)利要求10所述圖形傳感器的像素結(jié)構(gòu),其特征在于,所述遮光層的材料包括鎢。
12.如權(quán)利要求1所述圖形傳感器的像素結(jié)構(gòu),其特征在于,所述第一摻雜離子包括N型離子,所述N型離子包括:磷或砷。
13.如權(quán)利要求1所述圖形傳感器的像素結(jié)構(gòu),其特征在于,還包括:位于所述存儲區(qū)表面的第一鈍化層,所述第一鈍化層內(nèi)具有第二摻雜離子,所述第二摻雜離子與所述第一摻雜離子導(dǎo)電類型不同。
14.如權(quán)利要求13所述圖形傳感器的像素結(jié)構(gòu),其特征在于,所述第二摻雜離子包括p型離子,所述P型離子包括:硼或二氟化硼。
15.如權(quán)利要求1所述圖形傳感器的像素結(jié)構(gòu),其特征在于,還包括:位于所述襯底內(nèi)且與存儲區(qū)相互分立的感光區(qū),所述感光區(qū)與所述存儲柵極結(jié)構(gòu)相鄰,所述感光區(qū)內(nèi)具有所述第一摻雜離子。
16.如權(quán)利要求15所述圖形傳感器的像素結(jié)構(gòu),其特征在于,還包括:位于所述感光區(qū)表面的第二鈍化層,所述第二鈍化層內(nèi)具有第二摻雜離子,所述第二摻雜離子與所述第一摻雜離子導(dǎo)電類型不同。
17.如權(quán)利要求10所述圖形傳感器的像素結(jié)構(gòu),其特征在于,還包括:位于所述襯底上的傳輸柵極結(jié)構(gòu),所述傳輸柵極結(jié)構(gòu)與所述存儲區(qū)相鄰。
18.如權(quán)利要求17所述圖形傳感器的像素結(jié)構(gòu),其特征在于,還包括:位于所述襯底內(nèi)的浮置擴散區(qū),所述浮置擴散區(qū)和所述存儲區(qū)分別位于所述傳輸柵極結(jié)構(gòu)兩側(cè)。
19.如權(quán)利要求17所述圖形傳感器的像素結(jié)構(gòu),其特征在于,所述遮光層還位于所述傳輸柵極結(jié)構(gòu)的部分頂部表面。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于銳芯微電子股份有限公司,未經(jīng)銳芯微電子股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010813845.8/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種模塊化集成核酸檢測艙
- 下一篇:一種可快速拆裝的閥門管接頭
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的多個半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點的熱電元件的;包括有熱磁組件的
- 卡片結(jié)構(gòu)、插座結(jié)構(gòu)及其組合結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)平臺結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 單元結(jié)構(gòu)、結(jié)構(gòu)部件和夾層結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)扶梯結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)隔墻結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)連接結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)





