[發明專利]污染測量儀尋源定位方法、污染測量儀和設備

在審

• 申請號: 202010813250.2
• 申請日: 2020-08-13
• 公開（公告）號: CN111856548A
• 公開（公告）日: 2020-10-30
• 發明（設計）人: 鄭永男;張小彬
• 申請（專利權）人: 北京海陽博創科技股份有限公司
• 主分類號: G01T1/208
• 分類號: G01T1/208;G01T1/202;G01V5/00;G01S5/16
• 代理公司: 北京市鼎立東審知識產權代理有限公司 11751
• 代理人: 陳佳妹;賈滿意

1.一種污染測量儀尋源定位方法，其特征在于，包括：

數據采集分析系統通過所配備的通信模塊獲取污染測量儀中各輻射探測器的計數數據；并在獲取各所述計數數據后將各所述計數數據與各所述輻射探測器的坐標進行匹配得到坐標陣列；

其中，所述污染測量儀包括多個呈陣列式排布的輻射探測器，多個所述輻射探測器呈陣列式排布；

所述數據采集分析系統將所述坐標陣列中的坐標值進行高斯擬合得到高斯面；根據所述高斯面進行放射源的定位，在獲取到所述放射源的定位信息后進行存儲；

其中，所述數據采集分析系統還通過所配備的近場通信模塊接收位置數據信息，并將所述位置數據信息與當前所述計數數據匹配和存儲。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，將所述計數數據與各所述輻射探測器的坐標進行匹配得到坐標陣列包括：

獲取各所述輻射探測器的坐標；其中，所述陣列式探測器的坐標為二維坐標；

將各所述計數數據添加到對應的所述輻射探測器的坐標中得到三維坐標；

將各所述三維坐標形成坐標陣列。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述高斯面進行放射源的定位時依據所述高斯面的頂點個數進行定位；其中，在依據所述高斯面的頂點對所述放射源進行定位時，包括：

獲取所述高斯面的頂點個數，并根據所述頂點個數確定用于對所述放射源進行定位的輻射探測器。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，根據所述頂點個數確定用于對所述放射源進行定位的輻射探測器包括：

若所述頂點為一個且所述頂點對應任一所述輻射探測器時，確定用于對所述放射源進行定位的輻射探測器為所述頂點所對應的輻射探測器；其中，所述放射源的位置定位為所述頂點所對應的輻射探測器的下方。

5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，根據所述頂點個數確定用于對所述放射源進行定位的輻射探測器包括：

若所述頂點為兩個以上時，確定兩個以上的所述頂點的連續性，并基于兩個以上的所述頂點的連續性確定用于對所述放射源進行定位的輻射探測器。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，基于兩個以上的所述頂點的連續性確定用于對所述放射源進行定位的輻射探測器，包括：

若兩個以上的所述頂點為連續的，則確定用于對所述放射源進行定位的輻射探測器為各所述頂點所對應的輻射探測器；其中，所述放射源的位置定位為各所述頂點所對應的輻射探測器的連接處的下方；

若兩個以上的所述頂點為不連續的，則確定用于對所述放射源進行定位的輻射探測器為各所述頂點所對應的輻射探測器；其中，所述放射源的位置定位為各所述頂點分別所對應的輻射探測器的下方。

7.一種污染測量儀，其特征在于，包括：輻射探測器、固定件及數據采集分析系統，能夠實現權利要求1至6任一項所述的方法；

所述輻射探測器的個數為多個，多個所述輻射探測器在同一平面內設置，一同組成探測器組；

所述固定件整體固定所述探測器組；

每個所述輻射探測器均與所述數據采集分析系統通信連接；

所述數據采集分析系統適用于獲取各輻射探測器的計數數據，并根據所述計數數據進行放射源的定位。

8.根據權利要求7所述的污染測量儀，其特征在于，所述輻射探測器包括閃爍晶體、光導器件及光電轉換器件；

所述光導器件為方體結構，所述閃爍晶體貼附在所述光導器件上，所述光電轉換器件固定設置在所述光導器件表面。

9.根據權利要求7所述的污染測量儀，其特征在于，所述固定件包括上結構件與下結構件；

所述上結構件與所述下結構件分別設置在所述探測器組相對兩側，且所述上結構件與所述下結構件相對的兩側設置有結構相同的阻擋框，所述阻擋框分別向相對側延伸，所述阻擋框圍設在所述探測器組外側。

10.一種污染測量儀尋源定位設備，其特征在于，包括：

處理器；

用于存儲處理器可執行指令的存儲器；

其中，所述處理器被配置為執行所述可執行指令時實現權利要求1至6中任意一項所述的方法。