[發明專利]一種電阻測試電路

在審

• 申請號: 202010804267.1
• 申請日: 2020-08-11
• 公開（公告）號: CN112067897A
• 公開（公告）日: 2020-12-11
• 發明（設計）人: 彭亞林
• 申請（專利權）人: 杭州王之新創信息技術研究有限公司
• 主分類號: G01R27/14
• 分類號: G01R27/14
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明涉及電子測試領域，特別是涉及一種電阻測試電路，包括單片機、第一電容、第二電容、晶振、第三電阻、第四電阻、自檢按鍵、測試按鍵和電源、第一電阻、第二電阻、紅色LED燈、綠色LED燈、第一采樣點、第二采樣點、第一電源點、第二電源點、第一接入點和第二接入點。本發明具有成本低、適應廣、效率高、準確度高、耗能低、精度高等有益效果。

技術領域

本發明涉及電子測試領域，特別是涉及一種電阻測試電路。

背景技術

電阻測試的目的是檢驗電阻阻值是否符合應用要求，電阻測試的作用是剔除不良品。

目前，現有技術對電阻阻值的測試主要依靠歐姆定律；

專利號：CN201310054770X專利名稱：一種電阻測試電路

專利號：CN201210273406.8專利名稱：一種電阻測試電路

以上為與本發明最接近的現有技術，它們存在以下技術缺陷：

技術缺陷1、測試步驟復雜，測試功能模塊較多，各個測試功能模塊的成本都很高。

技術缺陷2、測試過程對測試電源信號要求較高，測試電源信號必須無偏差，如果測試電源信號產生偏移，則會導致測試結果有較大的偏差，利用比如5V的電源進行測試，如果電源輸出電壓漂移到4V時會導致測試不準確，比如利用蓄電池作為測試電源時，隨著電池電量的降低，測試會變得越來越不準確。

技術缺陷3、測試速度慢，測試效率較低。

技術缺陷4、測試過程對環境的溫度要求較高，當環境溫度發生較大變化，容易導致電源信號偏移，導致測試結果錯誤。

技術缺陷5、現有技術難以發現和避免測試機的老化問題，測試機的老化會導致測試結果錯誤。

綜上所述，現有技術存在成本高、效率低、誤差大、環境要求高、依賴標準源等技術問題，存在改進空間。

發明內容

1.技術方案

為解決上述問題，本發明采用如下的技術方案。

一種電阻測試電路，包括單片機(U1)、第一電容(C11)、第二電容(C21)、晶振(CRYSTAL)、第三電阻(R3)、第四電阻(R4)、自檢按鍵(CS1)、測試按鍵(CS2)和電源(BAT1)、第一電阻(R1)、第二電阻(R2)、紅色LED燈(D11)、綠色LED燈(D21)、第一采樣點(C1)、第二采樣點(C2)、第一電源點(V1)、第二電源點(V2)、第一接入點(IN1)和第二接入點(IN2)；第一電容(C11)第一端與地點(GND)相連，第一電容(C11)第二端與單片機(U1)第13引腳相連；

第二電容(C21)第一端與地點(GND)相連，第二電容(C21)第二端與單片機(U1)第14引腳相連；

晶振(CRYSTAL)第一端與第一電容(C11)第二端相連，晶振(CRYSTAL)第二端與第二電容(C1)第二端相連；

第三電阻(R3)第一端與電源點(VCC)相連，第三電阻(R3)第二端與單片機(U1)第19引腳相連；

第四電阻(R4)第一端與電源點(VCC)相連，第四電阻(R4)第二端與單片機(U1)第20引腳相連；

電源(BAT1)的第一端與電源點(VCC)相連，電源(BAT1)的第二端與地點(GND)相連；

自檢按鍵(CS1)的第一端與單片機(U1)的第19引腳相連,自檢按鍵(CS1)的第二端與地點(GND)相連；

測試按鍵(CS2)的第一端與單片機(U1)的第20引腳相連,測試按鍵(CS2)的第二端與地點(GND)相連；