[發明專利]一種電阻測試系統

在審

• 申請號: 202010801721.8
• 申請日: 2020-08-11
• 公開（公告）號: CN112034255A
• 公開（公告）日: 2020-12-04
• 發明（設計）人: 彭亞林
• 申請（專利權）人: 杭州王之新創信息技術研究有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02;G01R19/25
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種電阻測試系統，其特征在于：包括控制模塊（KZMK）、自檢按鍵（CS1）、測試按鍵（CS2）和檢測模塊（JCMK）；

檢測模塊（JCMK）包括第一電阻（R1）、第二電阻（R2）和測試電源；

檢測模塊（JCMK）用于檢測待測電阻（RV1）的阻值是否在允許誤差的范圍內；

待測電阻（RV1）的第二端與第一電阻（R1）的第一端相連，第一電阻（R1）的第二端與第二電阻（R2）的第一端相連，第一采樣點（C1）與待測電阻（RV1）的第二端相連，第二采樣點（C2）與第一電阻（R1）的第二端相連，第一電源點（V1）與待測電阻（RV1）的第一端相連，第二電源點（V2）與第二電阻（R2）的第二端相連；

自檢按鍵（CS1）與控制模塊（KZMK）電性連接；

測試按鍵（CS2）與控制模塊（KZMK）電性連接；

檢測模塊（JCMK）與控制模塊（KZMK）電性連接；

控制模塊（KZMK）具有數學計算電路；

控制模塊（KZMK）具有如下測試流程：

步驟a1、將測試電源的正極與第一電源點（V1）相連，第二電源點（V2）與測試電源的負極相連；

步驟a2、利用AD采樣技術采集第一采樣點（C1）的電壓值，并將第一采樣點（C1）的電壓值保存到變量H1；利用AD采樣技術采集第二采樣點（C2）的電壓值，并將第二采樣點（C2）的電壓值保存到變量D1；

步驟a3、將測試電源的負極與第一電源點（V1）相連，第二電源點（V2）與測試電源的正極相連；

步驟a4、利用AD采樣技術采集第一采樣點（C1）的電壓值，并將第一采樣點（C1）的電壓值保存到變量D2；利用AD采樣技術采集第二采樣點（C2）的電壓值，并將第二采樣點（C2）的電壓值保存到變量H2；

步驟a5、調用控制模塊（KZMK）數學計算電路，進行如下數學公式的運算：

Y=|H2-H1|+|D2-D1|；

步驟a6、調用控制模塊（KZMK）判斷Y的值是否小于允許的誤差閾值，若Y的值小于允許的誤差閾值，則表明待測電阻（RV1）合格，若Y的值不小于允許的誤差閾值，則表明待測電阻（RV1）不合格；

控制模塊（KZMK）具有如下自校驗操作流程：用于校驗第一電阻（R1）電阻值和第二電阻（R2）的電阻值之差是否符合測試要求；

步驟b1、將測試電源的正極與第一采樣點（C1）相連，第二電源點（V2）與測試電源的負極相連；

步驟b2、利用AD采樣技術采集第二采樣點（C2）的電壓值，并將第二采樣點（C2）的電壓值保存到變量T；

步驟b3、將測試電源的負極與第一采樣點（C1）相連，第二電源點（V2）與測試電源的正極相連；

步驟b4、利用AD采樣技術采集第二采樣點（C2）的電壓值，并將第二采樣點（C2）的電壓值保存到變量L；

步驟b5、調用控制模塊（KZMK）數學計算電路，進行如下數學公式的運算：

X=|T-L|；

步驟b6、調用控制模塊（KZMK）判斷X的值是否小于允許的誤差閾值，若X的值小于允許的誤差閾值，則表明第一電阻（R1）電阻值和第二電阻（R2）的電阻值之差是符合測試要求，則表明校驗正常，若X的值不小于允許的誤差閾值，則表明第一電阻（R1）電阻值和第二電阻（R2）的電阻值之差不符合測試要求，則表明表明校驗異常；

控制模塊（KZMK）具有如下自檢流程：

步驟bz1、將標準樣品接入，將標準樣品的第一端與第一電源點（V1）相連，標準樣品的第二端與第一采樣點（C1）相連；

步驟bz2、啟動自校驗操作流程，如果校驗異常則表明自檢失敗，如果校驗正常，則進入步驟bz3；

步驟bz3、啟動測試流程，對標準樣品進行測試，如果測試結果不合格則表明自檢失敗，如果測試結果合格則表明自檢成功；

控制模塊（KZMK）具有如下主流程：

步驟e1、控制模塊（KZMK）獲取自檢按鍵（CS1）的狀態，若自檢按鍵（CS1）未按下，則進入步驟e2，若自檢按鍵（CS1）被按下則進入步驟e4；

步驟e2、控制模塊（KZMK）獲取測試按鍵（CS2）的按鍵狀態，若測試按鍵（CS2）處于按下狀態未被松開，則進入步驟e3，若測試按鍵（CS2）處于被松開的狀態，則進入步驟e5；

步驟e3、啟動測試流程，等待測試流程完成之后進入步驟e5；

步驟e4、啟動自檢流程，等待自檢流程完成之后進入步驟e5；

步驟e5、進入步驟e1。