[發明專利]一種可視化復雜磁場的方法有效
| 申請號： | 202010800593.5 | 申請日： | 2020-08-11 |
| 公開（公告）號： | CN112068044B | 公開（公告）日： | 2021-11-05 |
| 發明（設計）人： | 何樂;李超然;陳志杰;李海 | 申請（專利權）人： | 蘇州大學 |
| 主分類號： | G01R33/02 | 分類號： | G01R33/02;G01R33/032;G01R33/10 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人： | 常亮 |
| 地址： | 215131 *** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 可視化 復雜 磁場 方法 | ||
1.一種可視化復雜磁場的方法，其特征在于，包括：
將磁性單分散的顆粒分散于溶劑中，封裝于PDMS器件內，得到檢測器件；
將所述檢測器件置于待測磁場上，器件內的磁性單分散的顆粒可根據呈現的顏色和圖案判斷磁場的方向和分布；所述磁性單分散的顆粒為表面包覆有SiO2層的磁性納米顆粒；所述磁性納米顆粒的形狀為棒狀、橢球、球柱體或片；磁性材料為Fe3O4和Ni中的一種或幾種；
所述判斷為判斷磁場的方向和角度，具體為：
首先測定在不同角度磁場下的反射光譜，得到反射光譜的波長或顏色與磁場角度的對應曲線；
根據在待測磁場下的反射光譜波長或顏色的不同，結合所述曲線，計算出特定波長或顏色下納米顆粒的角度；
通過上述多個角度連接的閉合曲線，判斷出磁場的方向；
所述判斷為判斷磁場是否有缺陷，具體為：
將檢測裝置置于待測磁場上方，
若裝置顏色圖案與放置于已知的無缺陷磁場上方所顯示出的圖案不同，則磁場有缺陷，反之，沒有缺陷；
所述判斷為檢測轉動磁場，具體為：
將上述檢測器件置于磁力攪拌器上，觀察一周期中每一幀圖案的變化，從而檢測轉動磁場。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述磁性單分散的顆粒為棒狀Fe3O4@SiO2或片狀Ni@SiO2。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述磁性單分散的顆粒長軸尺寸為150～180nm，短軸尺寸為30～40nm。
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述SiO2層的厚度為15～80nm。
5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述溶劑選自水、乙腈、乙醇或乙二醇中的一種或多種；所述磁性納米顆粒的質量濃度為10％～24％。
6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述PDMS器件具體為：
設置有凹槽的PDMS；
復合于所述PDMS上的玻璃片。
7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述磁力攪拌器的轉速為1～20r/s。
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