[發(fā)明專利]一種光纖打圈裝置及彎曲損耗自動測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010799562.2
• 申請日: 2020-08-11
• 公開（公告）號: CN111929031B
• 公開（公告）日: 2021-10-01
• 發(fā)明（設計）人: 周波;樂正;李德祥;豆帥;舒健;馬軍;蔣曉亮;梅俊;程治民;劉善沛;何勤國
• 申請（專利權）人: 長飛光纖光纜股份有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00;G01M11/02
• 代理公司: 武漢臻誠專利代理事務所(普通合伙) 42233
• 代理人: 胡星馳

1.一種光纖打圈裝置，其特征在于，包括并排設置的光纖夾具放置面、沿所述光纖夾具放置面?zhèn)冗吽竭\動的弧形臺面和雙層滑臺、與所述光纖夾具放置面相對設置的捋纖機構、以及光纖運動機構，所述弧形臺面與雙層滑臺沿光纖夾具放置面?zhèn)冗叺姆较蛟O置；

所述光纖夾具放置面具有與光纖夾具形狀匹配的光纖夾具放置塊，固定光纖夾具；

所述弧形臺面，其一端與所述光纖夾具放置面高度相同且具有預設直徑向下彎曲的弧面，用于使得光纖樣品在垂直于光纖夾具放置面?zhèn)冗叺钠矫鎯妊仄浔砻嫘纬深A設直徑的光纖彎曲；

所述雙層滑臺，具有上下疊加且相對滑動的上滑臺和下滑臺，所述上滑臺具有沿上、下滑臺相對運動方向上的長孔；所述下滑臺具有柱圈導輪，所述柱圈導輪穿過長孔；所述上滑臺具有柱圈導輪，其與下滑臺的柱圈導輪匹配；當所述上滑臺和下滑臺相對滑動時，所述下滑臺的柱圈導輪沿長孔滑動，與相應上滑臺的柱圈導輪分離或交錯；當所述下滑臺的柱圈導輪與上滑臺的柱圈導輪分離時形成光纖直線通過的通道，當所述下滑臺的柱圈導輪與上滑臺的柱圈導輪交錯時，形成預設個數(shù)半圓弧通道，用于使得光纖樣品在水平面內形成預設個數(shù)和預設規(guī)格的光纖彎曲；

所述捋纖機構包括與所述光纖夾具放置面平行相對的光纖防掛板，以及設置在所述光纖防掛板上與光纖夾具放置塊數(shù)量相同且間距與光纖夾具放置塊間距匹配的氣爪；所述捋纖機構設置于進給機構上，所述進給機構用于帶動捋纖機構靠近或遠離所述光纖夾具放置面，以配合光纖樣品在水平面內的彎曲或伸直狀態(tài)；

所述光纖運動機構用于使得光纖夾具按照預設經過或者避開捋纖機構、以及放置至或者移除自光纖夾具放置面。

2.如權利要求1所述的光纖打圈裝置，其特征在于，所述弧形臺面，包括多段預設曲率的弧面，弧形臺面繞軸旋轉使得不同曲率的弧面與所述光纖夾具放置面拼接，用于形成不同預設直徑的光纖彎曲。

3.如權利要求1所述的光纖打圈裝置，其特征在于，所述弧形臺面和/或所述雙層滑臺下方具有升降機構。

4.如權利要求1所述的光纖打圈裝置，其特征在于，所述柱圈導輪具有圓滑的頂部，其內部安裝軸承，用于使得所述柱圈導輪圓周方向轉動。

5.如權利要求1所述的光纖打圈裝置，其特征在于，所述雙層滑臺的上滑臺的柱圈導輪、以及與其匹配的下滑臺的柱圈導輪包括多個特定直徑的柱圈導輪系列，其中每一柱圈導輪系列具有其數(shù)量與光纖夾具放置塊數(shù)量相同且間距與光纖夾具放置塊間距匹配的柱圈導輪組。

6.如權利要求1所述的光纖打圈裝置，其特征在于，所述氣爪包括夾纖手指和抱纖手指，所述夾纖手指用于夾持光纖從而精確固定光纖位置，所述抱纖手指合攏時形成較小的空間，從而限制光纖在夾纖手指的工作范圍內。

7.如權利要求1所述的光纖打圈裝置，其特征在于，所述光纖運動機構為三軸龍門機械手，其架設于所述光纖夾具放置面、弧形臺面、雙層滑臺、以及捋纖機構的上方，其末端帶有與光纖樣品夾具匹配的抓手，用于抓取、搬運、以及放置光纖樣品的光纖夾具。

8.應用如權利要求1至7任意一項所述的光纖打圈裝置的彎曲損耗自動測試方法，其特征在于，包括截止波長模式和/或宏彎模式；

當處于截止波長模式下時，裝配有夾具的光纖樣品其夾具放置于所述光纖夾具放置面的相應位置；所述弧形臺面運動至與所述光纖夾具放置面平齊；所述光纖樣品在垂直于所述光纖夾具放置面?zhèn)冗叺钠矫鎯龋?/p>

當處于宏彎模式下時，裝配有夾具的光纖樣品其夾具經捋纖裝置放置于所述光纖夾具放置面的相應位置，使得所述光纖樣品固定于水平面內；所述雙層滑臺運動至所述光纖夾具放置面前方，其柱圈導輪由下而上穿過光纖，所述雙層滑臺運動至與所述光纖夾具放置面平齊，使得光纖處于一組預設直徑的下滑臺柱圈導輪與上滑臺柱圈導輪形成的光纖直線通過的通道；所述雙層滑臺的上、下滑臺相對運動，所述的一組預設直徑的下滑臺柱圈導輪與其匹配的上滑臺柱圈導輪形成預設個數(shù)半圓弧通道，使得光纖樣品在水平面內形成預設個數(shù)和預設規(guī)格的光纖彎曲。

9.如權利要求8所述的光纖打圈裝置的彎曲損耗自動測試方法，其特征在于，光纖樣品在截止波長模式、以及不同直徑的宏彎模式下連續(xù)測試。