[發明專利]成像質量分析數據處理方法以及成像質量分析裝置在審
| 申請號: | 202010799402.8 | 申請日: | 2014-04-22 |
| 公開(公告)號: | CN111952145A | 公開(公告)日: | 2020-11-17 |
| 發明(設計)人: | 池上將弘;梶原茂樹 | 申請(專利權)人: | 株式會社島津制作所 |
| 主分類號: | H01J49/00 | 分類號: | H01J49/00 |
| 代理公司: | 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 成像 質量 分析 數據處理 方法 以及 裝置 | ||
提供成像質量分析數據處理方法以及成像質量分析裝置,簡化進行統計解析以比較從多個試樣分別得到的成像質量分析數據的作業,提高該解析的精度。在想比較的兩個試樣的成像質量分析數據的測量點間隔不同、還想比較物質的空間分布擴展的尺寸時,以一個數據為基準重新定義另一個數據的測量點間隔以使測量點間隔一致,通過基于實際測量點的質譜的內插或外插求出設定的虛擬測量點的質譜。在各試樣的質譜的m/z值陣列不同時,以一個數據的質譜的m/z值的位置為基準對另一個數據的質譜通過內插或外插求出基準m/z值的強度值。使測量點間隔、m/z值陣列一致而能夠整合數據,作為一個成像質量分析數據進行處理而能簡單地進行峰值矩陣制作等處理。
本申請是申請日為2014年4月22日、申請號為2014101632348、發明名稱為“成像質量分析數據處理方法以及成像質量分析裝置”的分案申請(申請日為2014年4月22日、申請號為2016108483697、發明名稱為“成像質量分析數據處理方法以及成像質量分析裝置”)的分案申請。
技術領域
本發明涉及適用于成像質量分析裝置的數據處理方法以及使用了該數據處理方法的成像質量分析裝置,該成像質量分析裝置能夠獲取表示試樣上的特定的質量電荷比或者質量電荷比范圍的離子的信號強度分布的成像圖像。
背景技術
質量分析成像是如下一種方法;通過對生物體組織切片等試樣的二維區域內的多個測量點(微小區域)分別進行質量分析,來研究具有特定的質量的物質的分布,該質量分析成像正不斷應用于藥物發現(drug discovery)、生物標記探索、各種疾病、疾患的原因探明等。用于實施質量分析成像的質量分析裝置一般被稱為成像質量分析裝置。另外,通常對試樣上的任意的二維區域進行顯微觀察,基于該顯微觀察圖像來確定分析對象區域并執行該區域的成像質量分析,因此有時也稱為顯微質量分析裝置、質量顯微鏡等,但在本說明書中決定稱為“成像質量分析裝置”。例如在非專利文獻1、2中公開了普通的成像質量分析裝置的結構、分析例。
在成像質量分析裝置中,在試樣上的二維區域內的多個測量點處分別獲取規定的質量電荷比范圍的質譜數據。為了實現高質量分辨率,通常利用飛行時間型質量分析器(TOFMS)來作為質量分析器,例如與由四極型質量分析裝置等得到的質譜數據的數據量相比,每個測量點的質譜數據(或者飛行時間譜數據)的數據量相當多。另外,為了獲得精確的成像圖像(即提高空間分辨率),需要縮小測量點的間隔,于是,針對一個試樣的測量點的數量變多。因此,當想要進行高質量分辨率、高空間分辨率的質量分析成像時,每個試樣的數據的總量變得龐大。
為了通過使用了普通的個人計算機的數據處理來制作并顯示成像圖像,或者對成像圖像進行統計解析,需要將處理對象的所有數據讀入該計算機的主存儲器(一般為RAM)。然而,在普通的個人計算機中能夠實際使用的主存儲器的存儲容量有限,難以讀入所有如上所述的高清晰度的成像質量分析數據。在這種情況下,需要根據能夠讀入主存儲器的數據量的制約來限制能夠制作和顯示的成像圖像的范圍,或者進行以下處理:一邊允許降低處理速度一邊將硬盤驅動器等外部存儲裝置的一部分用作虛擬的主存儲器。
針對這樣的問題,在專利文獻1~3中公開了一種對由成像質量分析裝置得到的質譜數據進行壓縮并保存的技術。通過利用這種數據壓縮技術,能夠縮小作為處理對象的成像質量分析數據的數據量并讀入主存儲器。另外,在專利文獻1所記載的方法中,預先制作將壓縮前的原質譜數據的陣列上的位置與壓縮數據的陣列上的位置相關聯的索引,將該索引與壓縮數據一起存儲或者與壓縮數據分開存儲。而且,在需要讀出與某個質量電荷比對應的數據(離子強度值)的情況下,通過參照索引信息找出與目標數據對應的壓縮數據并將其解碼。通過這樣,能夠一邊進行數據壓縮,一邊迅速地獲取目標數據。
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