[發(fā)明專利]一種紫外雙波長輻射測溫方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010798952.8
• 申請日: 2020-08-11
• 公開（公告）號: CN111928950A
• 公開（公告）日: 2020-11-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張金濤;董偉;盧小豐
• 申請（專利權(quán)）人: 中國計量科學研究院
• 主分類號: G01J5/00
• 分類號: G01J5/00
• 代理公司: 北京華仁聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11588
• 代理人: 陳建

1.一種紫外雙波長輻射測溫方法，其特征在于：測量物體表面對應第一波長λ₁和第二波長λ₂的輻射亮度，所述第一波長λ₁和第二波長λ₂分別位于紫外光波段200nm至400nm之間。

2.如權(quán)利要求1所述的紫外雙波長輻射測溫方法，其特征在于：對于表面溫度T的實際物體，第一波長λ₁的光譜輻射亮度為：

式中，c₁表示第一輻射系數(shù)，單位：W m²；c₂表示第二輻射常數(shù)，單位：m K；T表示物體表面的真實溫度，即熱力學溫度，單位：K；表示物體表面在波長λ₁下的光譜輻射亮度，單位：W m^-2sr^-1；λ₁表示物體表面輻射的第一波長，單位：m；為對應波長λ₁物體表面的發(fā)射率；

第二波長λ₂的光譜輻射亮度為：

式中，L_λ2表示物體表面在波長λ₂下的光譜輻射亮度，單位：W m^-2sr^-1；λ₂表示物體表面輻射的第二波長，單位：m；為對應波長λ₂物體表面的發(fā)射率；

將第一波長和第二波長的光譜輻射亮度相比，并且假設(shè)對應波長λ₁和λ₂的表面發(fā)射率和近似相等，即：得：

在保持△λ＝λ₁-λ₂不變的條件下，假設(shè)λ₁λ₂，相應地縮短波長λ₁和λ₂至紫外波段，則上式的近似程度提高，從上式提取出的色溫T_c更接近物體表面的真實溫度T。