[發明專利]一種具有P面鈍化層的AlGaInN基LED制備方法有效
| 申請號: | 202010798818.8 | 申請日: | 2020-08-11 |
| 公開(公告)號: | CN111952424B | 公開(公告)日: | 2022-06-14 |
| 發明(設計)人: | 吳小明;陳芳;莫春蘭;王光緒;郭醒;羅昕;陶喜霞;李樹強;丁杰;胡武民 | 申請(專利權)人: | 吳小明;陳芳;莫春蘭;王光緒;郭醒;羅昕;陶喜霞;李樹強;丁杰;胡武民 |
| 主分類號: | H01L33/44 | 分類號: | H01L33/44;H01L33/00 |
| 代理公司: | 江西省專利事務所 36100 | 代理人: | 張文 |
| 地址: | 330029 江西省南昌市青山湖區*** | 國省代碼: | 江西;36 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 具有 鈍化 algainn led 制備 方法 | ||
1.一種具有P面鈍化層的AlGaInN基LED制備方法,步驟包括:
A、在暫時襯底上生長AlxGayIn1-x-yN基LED結構,包括N型AlxGayIn1-x-yN層,有源層和P型AlxGayIn1-x-yN層,其中0≤x≤1,0≤y≤1;
B、在P型AlxGayIn1-x-yN層上制備P面鈍化層,利用光刻技術,保留器件邊緣需鈍化區域的P面鈍化層,去除其余區域的P面鈍化層,暴露出P面鈍化層下面的P型AlxGayIn1-x-yN層;在P面鈍化層的制備過程中,P型AlxGayIn1-x-yN層表面與活性O或者N發生反應,電學性質發生改變;
C、在步驟B處理后暴露的P型AlxGayIn1-x-yN層上制備P側電極;
D、制備阻擋層和邦定金屬層,并與永久導電基板鍵合,去除暫時襯底;
E、對N型AlxGayIn1-x-yN層表面進行粗化;
F、刻蝕器件邊緣的AlxGayIn1-x-yN外延層,加工出切割道;
G、制備N面鈍化層:腐蝕待制備N電極區域的N面鈍化層;N面鈍化層覆蓋了P型AlxGayIn1-x-yN層的邊緣、有源區和N型AlxGayIn1-x-yN層側壁,以及未被N側電極覆蓋的N型AlxGayIn1-x-yN層的部分表面;
H、在N型AlxGayIn1-x-yN層上制備N側電極;
其特征在于:在制備P面鈍化層后,對P型AlxGayIn1-x-yN層進行退火,退火氣氛圍為N2和O2,O2體積百分比為0%-20%;退火后,制備P側電極前,利用HCl水溶液對P型AlxGayIn1-x-yN層的表面進行清洗,進一步去除表面產物。
2.根據權利要求1所述的具有P面鈍化層的AlGaInN基LED制備方法,其特征在于:步驟B中的P面鈍化層材料為氧化硅、氮化硅或氮氧硅中的一種;或,上述三種中的兩種或三種組成的疊層。
3.根據權利要求1所述的具有P面鈍化層的AlGaInN基LED制備方法,其特征在于:步驟B中的P面鈍化層的制備方法為物理或者化學氣相沉積。
4.根據權利要求1所述的具有P面鈍化層的AlGaInN基LED制備方法,其特征在于:HCl水溶液濃度≥6 mol/L。
5.根據權利要求1所述的具有P面鈍化層的AlGaInN基LED制備方法,其特征在于:切割道腐蝕后,P面鈍化層與P型AlxGayIn1-x-yN重疊的寬度為W,W≥0.1 μm。
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