[發明專利]太陽能電池及其制作方法在審
| 申請號: | 202010796626.3 | 申請日: | 2020-08-10 |
| 公開(公告)號: | CN111739984A | 公開(公告)日: | 2020-10-02 |
| 發明(設計)人: | 徐孟雷;楊潔;張昕宇;金浩 | 申請(專利權)人: | 浙江晶科能源有限公司;晶科能源有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L31/0224;H01L31/068 |
| 代理公司: | 北京匯思誠業知識產權代理有限公司 11444 | 代理人: | 肖麗 |
| 地址: | 314416 浙江省嘉興市*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 太陽能電池 及其 制作方法 | ||
1.一種太陽能電池的制作方法,其特征在于,包括以下步驟:
在具有第一極性的半導體襯底的第一表面形成電介質層;
將帶有圖案的陰罩設置于電介質層的表面,在所述電介質層的表面沉積多晶硅層并在沉積時使用具有第二極性的摻雜元素進行原位摻雜,以形成對應所述陰罩圖案的多晶硅層;
去除所述陰罩,在所述半導體襯底的第一表面和/或第二表面形成鈍化層;
在所述半導體襯底的第一表面制作第一電極和第二電極,其中所述第一電極穿過所述鈍化層與所述半導體襯底形成接觸,所述第二電極穿過所述鈍化層與所述多晶硅層形成歐姆接觸。
2.根據權利要求1所述的太陽能電池的制作方法,其特征在于,所述陰罩設置有至少一個開口,所述開口的寬度范圍為500μm-2000μm。
3.根據權利要求1或2所述的太陽能電池的制作方法,其特征在于,所述具有第一極性的半導體襯底為P型襯底,所述具有第二極性的摻雜元素為磷或砷;所述形成對應所述陰罩圖案的多晶硅層包括:
將帶有圖案的陰罩固定放置在電介質層的表面,所述陰罩包括開口區域和非開口區域,所述陰罩的非開口區域用以遮擋形成P型區域,在所述陰罩的開口區域,采用化學氣相沉積法或物理氣相沉積法或原子層沉積法在所述電介質層的表面沉積多晶硅層,在沉積的同時使用磷或砷進行原位摻雜,而后進行退火處理,形成N型多晶硅層。
4.根據權利要求3所述的太陽能電池的制作方法,其特征在于,在所述半導體襯底的第一表面制作第一電極和第二電極包括:
在所述P型區域印刷鋁漿,在所述N型多晶硅層區域印刷銀漿;
對所述銀漿和所述鋁漿進行燒結,在所述銀漿對應區域形成第二電極,所述第二電極穿過所述鈍化層與所述N型多晶硅層形成歐姆接觸,在所述鋁漿對應區域形成鋁背面電場和第一電極,所述第一電極穿過所述鈍化層與所述半導體襯底形成接觸。
5.根據權利要求1或2所述的太陽能電池的制作方法,其特征在于,所述具有第一極性的半導體襯底為N型襯底,所述具有第二極性的摻雜元素為硼或銦;所述形成對應所述陰罩圖案的多晶硅層包括:
將帶有圖案的陰罩固定放置在電介質層的表面,所述陰罩包括開口區域和非開口區域,所述陰罩的非開口區域用以遮擋形成N型區域,在所述陰罩的開口區域,采用化學氣相沉積法或物理氣相沉積法或原子層沉積法在所述電介質層的表面沉積多晶硅層,在沉積的同時使用硼或銦進行原位摻雜,而后進行退火處理,形成P型多晶硅層。
6.根據權利要求5所述的太陽能電池的制作方法,其特征在于,在所述N型區域進行磷或砷摻雜,形成N+摻雜層。
7.根據權利要求6所述的太陽能電池的制作方法,其特征在于,在所述半導體襯底的第一表面制作第一電極和第二電極包括:
在所述N+摻雜層區域印刷銀漿,在所述P型多晶硅層區域印刷銀/鋁漿或銀漿;
對所述銀漿或所述銀/鋁漿進行燒結,在所述N+摻雜層區域,所述銀漿對應區域形成第一電極,所述第一電極穿過所述鈍化層與所述N+摻雜層形成歐姆接觸;在所述P型多晶硅層區域,所述銀/鋁漿或銀漿對應區域形成第二電極,所述第二電極穿過所述鈍化層與所述P型多晶硅層形成歐姆接觸。
8.一種太陽能電池,其特征在于,所述太陽能電池采用權利要求1-7任一項所述的太陽能電池的制作方法制作得到。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于浙江晶科能源有限公司;晶科能源有限公司,未經浙江晶科能源有限公司;晶科能源有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010796626.3/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:電梯啟動力的補償方法、設備和電梯
- 下一篇:一種游戲玩家的社交推薦方法及裝置
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





