[發明專利]一種優勢滲流通道發育層位和方向的預測方法有效
| 申請號: | 202010795418.1 | 申請日: | 2020-08-10 |
| 公開(公告)號: | CN111749688B | 公開(公告)日: | 2022-03-18 |
| 發明(設計)人: | 唐洪;張航宇;李鵬飛;李振 | 申請(專利權)人: | 西南石油大學 |
| 主分類號: | E21B49/00 | 分類號: | E21B49/00;G06F30/20;G06F17/10 |
| 代理公司: | 北京中索知識產權代理有限公司 11640 | 代理人: | 房立普 |
| 地址: | 610500 四*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 優勢 滲流 通道 發育 層位 方向 預測 方法 | ||
1.一種優勢滲流通道發育層位和方向的預測方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟一、綜合分析地質與生產動態資料,求取井間不同層段的地質靜態分析系數RiS與生產動態分析系數RiD;
步驟二、建立以下井間不同層段的連通系數RiC計算公式,并計算井間不同層段的連通系數RiC;
RiC=RiS×RiD
式中:RiC表示井間不同層段的連通系數;RiS表示地質靜態分析系數;RiD表示生產動態分析系數;
步驟三、根據測井解釋結果分別獲取井間不同層段的單層多砂體參數;
步驟四、再根據原始地層滲透率K0,獲取注水井在不同注水倍數下的滲透率Ki;
步驟五、根據統計得出原生優勢通道、次生優勢通道、非優勢通道的H注/H采和K注/K采頻率分布情況,以研究區地質、開發背景為基礎,建立原生優勢通道發育的注水井、采油井井間平面均質系數和次生優勢通道發育的注水井、采油井井間平面均質系數的賦值表,根據賦值表確定H注/H采賦值后的均質系數RiM1和K注/K采賦值后的均質系數RiM2;
步驟六、根據上述賦值表,結合井間不同層段的平面均質系數RiM如下計算公式,即可求取井間不同層段的平面均質系數RiM;
RiM=RiM1×RiM2
式中:RiM表示井間不同層段的平面均質系數;RiM1表示H注/H采賦值后的均質系數;RiM2表示K注/K采賦值后的均質系數;
步驟七、最后根據得到井間不同層段的各個參數,并結合如下的優勢滲流通道綜合指數預測公式分別求取各個層段的優勢滲流通道綜合指數預測M;通過井間不同層段的優勢滲流通道綜合指數預測Mi將井間不同層段分為優勢滲流通道或非優勢滲流通道的類型;
Mi=Φi×Hi×V′iSH×K′i×RiC×RiM
式中:Mi表示井間不同層段的優勢滲流通道綜合指數預測;Φi表示注水井不同層段的孔隙度;Hi表示注水井不同層段的砂體厚度;V′iSH表示注水井不同層段的泥質含量標準值;K′i表示注水井不同層段的砂體滲透率標準值;RiC表示井間不同層段的連通系數;RiM表示井間不同層段的平面均質系數;
所述步驟一中地質靜態分析系數RiS的獲取方法是:
當地層全連通時,地質靜態分析系數RiS的取值為1;
當地層部分連通—側向拼接時,通過以下公式求取地質靜態分析系數RiS;
式中:RiS表示地質靜態分析系數;H拼接表示拼接處的砂體厚度,m;Hmax表示拼接處砂體厚度最大值;
當地層部分連通—垂向疊加時,通過以下公式求取地質靜態分析系數RiS;
式中:L疊置表示砂體疊置部分長度;L注采表示注采井距;
當地層不連通時,地質靜態分析系數RiS的取值為0;
所述步驟一中生產動態分析系數RiD的獲取方法是綜合分析吸水、產液剖面測試資料、水淹層判識結果和壓力測試資料,采用以下原則加以賦值;
當判識結果為連通時,生產動態分析系數RiD賦值1;當判識結果為不連通時,生產動態分析系數RiD賦值0;當判識結果為資料全部缺失無法判別時,生產動態分析系數RiD賦值1。
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