[發明專利]一種同時掃描與分幅X光測量系統在審
| 申請號： | 202010792921.1 | 申請日： | 2020-08-10 |
| 公開（公告）號： | CN111999319A | 公開（公告）日： | 2020-11-27 |
| 發明（設計）人： | 李晉;張興;王峰;楊志文;胡昕;董建軍;黎宇坤 | 申請（專利權）人： | 中國工程物理研究院激光聚變研究中心 |
| 主分類號： | G01N23/04 | 分類號： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 中國工程物理研究院專利中心 51210 | 代理人： | 馮玲玲 |
| 地址： | 621999 四*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 同時 掃描 測量 系統 | ||
1.一種同時掃描與分幅X光測量系統，其特征在于：所述的系統包括依次排布、且相互平行的雙通道X射線成像系統(2)、透射式X射線編碼板(3)和X射線條紋相機(4)以及與X射線條紋相機(4)相連接的解碼器(5)，其中，透射式X射線編碼板(3)放置于X射線條紋相機(4)的陰極前方；
所述的雙通道X射線成像系統(2)包括沿垂直于X射線條紋相機(4)掃描方向順序排列的成像系統I(6)和成像系統II(7)；
所述的X射線條紋相機(4)的陰極包括沿垂直于X射線條紋相機(4)掃描方向順序排列的窄狹縫陰極(9)和寬狹縫陰極(8)；
所述的透射式X射線編碼板(3)不遮擋窄狹縫陰極(9)；
所述的透射式X射線編碼板(3)、寬狹縫陰極(8)的寬度均大于待測目標的寬度×成像系統II(7)的放大倍數，二者長度均大于待測目標的長度×成像系統II(7)的放大倍數。
2.根據權利要求1所述的一種同時掃描與分幅X光測量系統，其特征在于，所述的透射式X射線編碼板(3)上的編碼孔采用隨機編碼方式進行排布。
3.根據權利要求1所述的一種同時掃描與分幅X光測量系統，其特征在于，所述的透射式X射線編碼板(3)的材料為金、鉭等高Z金屬材料中的一種。
4.根據權利要求1所述的一種同時掃描與分幅X光測量系統，其特征在于，所述的透射式X射線編碼板(3)緊貼于X射線條紋相機(4)的寬狹縫陰極(8)前方。
5.根據權利要求1所述的一種同時掃描與分幅X光測量系統，其特征在于，所述的成像系統I(6)為針孔成像系統、KB顯微鏡系統、彎晶成像系統中的一種。
6.根據權利要求1所述的一種同時掃描與分幅X光測量系統，其特征在于，所述的成像系統II(7)為針孔成像系統、KB顯微鏡系統、彎晶成像系統中的一種。
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