[發明專利]一種光纖到戶鏈路批量檢測裝置及方法

在審

• 申請號: 202010790465.7
• 申請日: 2020-08-07
• 公開（公告）號: CN112039584A
• 公開（公告）日: 2020-12-04
• 發明（設計）人: 黃創;趙嘉榮;陳霄;鄭敏;何澤敏
• 申請（專利權）人: 中捷通信有限公司
• 主分類號: H04B10/079
• 分類號: H04B10/079;H04B10/25
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 郭浩輝;麥小嬋

本發明公開了一種光纖到戶鏈路批量檢測裝置及方法，所述檢測裝置包括：光源模塊，用于利用光分路器將1路光源的功率分為N路光源至公用配線箱模塊；公用配線箱模塊，用于將大容量的光纜轉換為小容量的光纜并連接至分線箱模塊；分線箱模塊，用于將小容量的光纜轉換為入戶光纜并連接至家居配線箱模塊；家居配線箱，用于將入戶光纜連接至預設的家居光纖接入點；測量模塊，利用若干臺光功率計分別測量從N路光源處傳輸來的光能量。

技術領域

本發明涉及光纖到戶鏈路檢測技術領域，特別是涉及一種光纖到戶鏈路批量檢測裝置及方法。

背景技術

光纖到戶鏈路衰減檢測的應用場景很多，例如，對于新建樓盤，要求每條光纖鏈路都要進行衰減值檢測，這種應用場景下，由于每戶房間都有至少一條待測光纖鏈路，對整個樓盤而言，光纖鏈路的數量可達上千戶甚至幾千戶，即幾千條待測光纖鏈路，檢測工作量大，耗時長。

目前，常用的現有檢測技術一般由兩位檢測人員分別手持一臺光源和一臺光功率計，接入光纖鏈路的兩端進行衰減檢測，那么，對于幾千條待測光纖鏈路就需要重復幾千次這個檢測過程，檢測效率低，如果想要同時進行多條鏈路的衰減檢測，就需要配備多組檢測人員和多組檢測設備，其中每兩個檢測人員、一臺光源、一臺光功率計為一組檢測人員和檢測設備。

具體地，現有檢測技術如圖1所示，其由ABC三部分設備和連接它們的光纜共同組成了光纖鏈路。現有檢測技術是在A、C兩端分別用測試跳線連接光源和光功率計，通過光源發出一定功率的光信號，再由光功率計接收光信號，并計算出光纖鏈路的衰減值。對于每一條被測光纖鏈路重復執行一次該檢測步驟，效率較低。如果需要同時進行N條光纖鏈路的衰減檢測，則需要2N個檢測人員、N臺光源、N臺光功率計，檢測成本較高。

發明內容

為克服上述現有技術存在的不足，本發明之目的在于提供一種光纖到戶鏈路批量檢測裝置及方法，以通過由一臺光源輸出均分功率的多路光信號，在光纖鏈路的另一端使用多臺光功率計進行多條光纖鏈路衰減的同時檢測，極大地提高了檢測效率。

為達上述及其它目的，本發明提出一種光纖到戶鏈路批量檢測裝置，包括：

光源模塊，用于利用光分路器將1路光源的功率分為N路光源至公用配線箱模塊；

公用配線箱模塊，用于將大容量的光纜轉換為小容量的光纜并連接至分線箱模塊；

分線箱模塊，用于將小容量的光纜轉換為入戶光纜并連接至家居配線箱模塊；

家居配線箱，用于將入戶光纜連接至預設的家居光纖接入點；

測量模塊，利用若干臺光功率計分別測量從N路光源處傳輸來的光能量。

優選地，所述光源模塊將光源經1×N的PLC光分路器將1路光源的功率平均分為N路光源至所述公用配線箱模塊。

優選地，所述公用配線箱模塊、分線箱模塊、家居配線箱模塊以及三者之間的大容量光纜、小容量光纜、入戶光纖一起組成光纖鏈路。

優選地，所述PLC光分路器為尾纖型PLC光分路器，光源直接連接至所述尾纖型PLC光分路器，所述尾纖型PLC光分路器的N路輸出直接連接至所述公用配線箱模塊的各耦合器的輸入端，各耦合器的輸出端經第一熔接點匯集到大容量的光纜連接至所述分線箱模塊，所述分線箱模塊內經各第二熔接點將各路光纖匯集為小容量的光纜連接至所述家居配線箱模塊的各入戶光纖熔接點轉換為入戶光纖，各入戶光纖經家居配線箱連接至所述測量模塊。

優選地，所述測量模塊包括若干光耦合器、若干測試用跳線和若干臺光功率計，各入戶光纖經家居配線箱后，通過各光耦合器以及測試用跳線連接至各光功率計。

為達到上述目的，本發明還提供一種光纖到戶鏈路批量檢測方法，包括如下步驟：