[發明專利]基于計算的光模塊光功率調試方法有效
| 申請號： | 202010787056.1 | 申請日： | 2020-08-07 |
| 公開（公告）號： | CN111970052B | 公開（公告）日： | 2021-07-20 |
| 發明（設計）人： | 仇晨寅 | 申請（專利權）人： | 無錫市德科立光電子技術股份有限公司 |
| 主分類號： | H04B10/079 | 分類號： | H04B10/079 |
| 代理公司： | 無錫市大為專利商標事務所(普通合伙) 32104 | 代理人： | 曹祖良;屠志力 |
| 地址： | 214028 江蘇省無*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 計算 模塊 功率 調試 方法 | ||
1.一種基于計算的光模塊光功率調試方法，其特征在于，包括以下步驟：
步驟S10，設定光模塊光功率最大值、最小值和光功率目標值，設定相應的偏置電流最大值、偏置電流最小值；設定開環時兩點偏置DAC初值；
步驟S20，光功率先采用開環調試，將S10中的兩個偏置DAC初值寫入光模塊的寄存器中，光模塊開環工作，分別獲取對應的兩點的光功率值和對應的兩個偏置電流值；
步驟S30，將S20中兩點的光功率值和兩個偏置電流值擬合直線，算出直線的斜率和截距，得到直線方程；
步驟S40，將光功率目標值代入上述直線方程，得出所需的偏置電流值Bias Current；
步驟S50，根據偏置電流與偏置DAC值的關系，得到光功率目標值對應的偏置DAC值BIAS_DAC；
步驟S60，將上述BIAS_DAC寫入光模塊的寄存器中，讀出輸出光功率的功率監測值MPD_ADC；
步驟S70，根據閉環時光功率目標值所需的偏置DAC值與MPD_ADC的轉換關系，得到閉環時光功率目標值所需的偏置DAC值APC_DAC；
步驟S80，光功率采用閉環調試，將APC_DAC值寫入光模塊的寄存器中，讀出光模塊的光功率值和偏置電流值，如果光功率最小值＜APC_DAC對應的光功率值＜光功率最大值，且偏置電流最小值APC_DAC對應的偏置電流值偏置電流最大值，則光功率計算調試成功，否則失敗。
2.如權利要求1所述的基于計算的光模塊光功率調試方法，其特征在于，
步驟S20中，所述兩個偏置DAC初值對應的兩點的光功率值和對應的兩個偏置電流值，記作P0、P1、B0、B1；
步驟S30中，直線的斜率K=(P1-P0)/(B1-B0)，截距b=P0-KB0。
3.如權利要求1或2所述的基于計算的光模塊光功率調試方法，其特征在于，
步驟S50中，Bias Current =(BIAS_DAC+8)*0.1mA。
4.如權利要求1、2或3所述的基于計算的光模塊光功率調試方法，其特征在于，
步驟S70中，APC_DAC=Log(MPD_ADC*112.5/512/7.185)/Log(2)*32)；單位為μA。
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