[發明專利]一種基于上基準玉米植株高和穗高測量裝置

有效

• 申請號: 202010786531.3
• 申請日: 2020-08-07
• 公開（公告）號: CN111780676B
• 公開（公告）日: 2023-04-25
• 發明（設計）人: 隗海林;王楠;郝國君;李顧勇
• 申請（專利權）人: 隗海林
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06;G01B11/02
• 代理公司: 長春市四環專利事務所(普通合伙) 22103
• 代理人: 張建成

一種基于上基準的玉米植株高和穗高測量裝置，由激光基準面裝置和手持測量桿組成，包括三腳架、中空可伸縮連接桿、激光發射云臺、株高測量架、定滑輪、光柵、滑動支座、拉線、手持桿、穗高測量尺、電機、圓形氣泡水平儀、轉換開關、設備安裝平臺。本發明通過激光發射云臺在水平360°方向上連續發射激光，確定上基準面位置，電機通過轉換開關分別將株高測量架和穗高測量桿調節到與玉米植株高和穗高齊平的位置，根據上基準位置與株高測量架和穗高測量尺的位置，能計算出玉米植株高和穗高。本發明測量基準統一，測量精度高，可支持多個測量桿同時測量，測量效率高，可快速完成基準面激光有效覆蓋范圍內的玉米植株高和穗高測量。

技術領域

本發明屬于測量儀器設備技術領域，具體涉及一種基于上基準的玉米植株高和穗高測量裝置。

背景技術

玉米在世界谷類作物中的種植面積和總產量僅次于小麥、水稻而居第三位，平均單產居首位，是重要的糧食作物和飼料來源；同時玉米還是生產生物能源的主要原料，玉米淀粉也是紡織、造紙、石油、醫用、建筑、日用化工等行業的工業原料。各國玉米研究領域的學者都致力于提高玉米產量，研究表明增加種植密度是提高玉米產量的最有效的方法，但由于玉米倒伏等問題限制了種植密度的增加；其中植株過高、穗位過高等是玉米倒伏的主要原因。為了提高玉米產量，對其株高、穗高的選擇成為關鍵。因此在玉米育種過程中，獲得準確株高、穗高數據尤為重要。

目前，針對玉米株高測量的儀器有很多種，但是都大同小異，主要是抽拉式玉米株高測量儀，現有儀器存在以下缺點:

目前，對玉米穗位、株高等性狀的測量，通常用抽拉式測量桿進行測量，由于玉米株高相對較高，種植密度較大，測量空間小，地面不平整，導致測量工作強度大，測量誤差大。

存在如下具體問題：

1、使用前需要將測量桿固定在玉米旁的泥土內，每次測量之后都要移動位置進行重復操作，工作強度大；由于地面不平，每次固定在泥土中基準不統一，造成測量誤差；

2、測量比較高的植株時，由于比對點往往高于測量者的身高很多，所以很難準確保證尺子的最高點與植株最高點齊平，因而影響讀數準確度；同時測量桿抽拉過程速度慢，耗時多。

發明內容

針對以上問題，本發明提供一種基于上基準的玉米植株高和穗高測量裝置，本發明測量基準統一，測量精度高，可支持多個測量桿同時測量，測量效率高，可快速完成激光發射范圍內的玉米植株高和穗高測量。

一種基于上基準的玉米植株高和穗高測量裝置。由激光基準面裝置和手持測量桿組成，激光基準面裝置包括三腳架、中空可伸縮連接桿和激光發射云臺，三腳架上自帶水平垂直校準裝置，三腳架調至水平固定在泥土里，以保證中空可伸縮連接桿與地面保持垂直，中空可伸縮連接桿安裝在三腳架上且可拆卸，中空可伸縮連接桿底端可安裝鋰電池，內部穿設電線，為激光發射云臺提供電源，中空可伸縮連接桿頂端安裝激光發射云臺，能在水平360°方向上連續發射激光，以確定上基準面，激光發射云臺離地面高度5.5米，激光有效覆蓋范圍為距離激光發射云臺半徑為30米的范圍內，即固定一次激光基準面裝置可測量半徑30米內的玉米植株高和穗高。