[發明專利]電力系統中局部放電對固體絕緣介質破壞性的研究方法

在審

• 申請號: 202010786424.0
• 申請日: 2020-08-07
• 公開（公告）號: CN112505492A
• 公開（公告）日: 2021-03-16
• 發明（設計）人: 白天予;梁剛;楊要中;田圳;王鈺;張威;蔚鑫棟;馬占軍
• 申請（專利權）人: 國網天津市電力公司;國家電網有限公司
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12;G01R31/20;G01N21/65;G01N21/84;G01N1/28
• 代理公司: 天津盛理知識產權代理有限公司 12209
• 代理人: 王來佳

1.一種電力系統中局部放電對固體絕緣介質破壞性的研究方法，其特征在于；包括如下步驟：

步驟一、制備試驗樣品：原材料采用液態的硅膠和硬化物，按照10:1的比例，制備過程如下：

1)攪拌硅膠和硬化物，使兩種成分混合均勻，形成混合液，且排出混合液中的氣泡；

2)將攪拌均勻的混合液進行抽真空處理；

3)將混合液倒入盤體內，置于烘烤設備中，進行半硬化處理：

4)向半硬化處理的樣品中注入一個圓形氣泡，氣泡直徑為1mm；

5)對注入氣泡后的樣品在烘烤設備中進行全硬化處理；

6)按照后序老化試驗的規格對全硬化后的樣品進行裁切，形成與試驗電極匹配的試驗樣品，每個試驗樣品的后端為厚度是2mm±150μm；

步驟二、安裝試驗樣品：

將試驗樣品夾持在上下兩電極之間，下電極采用蘑菇狀電極并接地，采用五個下電極，每個電極對應一試驗樣品，五個下電極均插裝到下電極支撐板上；

步驟三、在局部放電測量設備上檢測試驗樣品，獲得不同交流電壓加壓下的試驗數據；

步驟四、在顯微鏡下觀測樣品的老化程度；

步驟五：用Raman光譜儀分析獲得老化部分的化學成分。

2.根據權利要求1所述的電力系統中局部放電對固體絕緣介質破壞性的研究方法，其特征在于：步驟一中抽真空處理的時間為50分鐘；半硬化處理的溫度為60°，時間為10分鐘。

3.根據權利要求1所述的電力系統中局部放電對固體絕緣介質破壞性的研究方法，其特征在于：步驟三中局部放電測量設備采用MTRONIX MPD 600系統，包括高電壓設備、高電壓過濾器，耦合裝置、局部放電檢測器，USB控制器，USB控制器用于連接電腦。