[發(fā)明專利]抵壓治具和測(cè)試裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010785951.X | 申請(qǐng)日: | 2020-08-04 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111948514B | 公開(公告)日: | 2023-03-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張忠亞;溫建斌;周永歡;楊家杰;舒文帆;林歡 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳創(chuàng)維-RGB電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司: | 深圳市世紀(jì)恒程知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287 | 代理人: | 胡海國(guó) |
| 地址: | 518057 廣東省深圳市*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 抵壓治具 測(cè)試 裝置 | ||
本發(fā)明公開一種抵壓治具和測(cè)試裝置,測(cè)試裝置包括驅(qū)動(dòng)件和與驅(qū)動(dòng)件連接的測(cè)試端子,驅(qū)動(dòng)件用以驅(qū)動(dòng)測(cè)試端子插接于待測(cè)試主板的端口,其中,抵壓治具包括固定件、抵接件以及彈性件,固定件連接于驅(qū)動(dòng)件朝向測(cè)試端子的一側(cè);所述抵接件可活動(dòng)連接于所述固定件,并用于抵接所述待測(cè)試主板;所述彈性件的一端連接于所述固定件,另一端連接于所述抵接件,并驅(qū)動(dòng)所述抵接件相對(duì)于所述固定件運(yùn)動(dòng)。本發(fā)明技術(shù)方案旨在提高機(jī)芯主板的生產(chǎn)測(cè)試效率,節(jié)約測(cè)試時(shí)間,保證機(jī)芯主板的質(zhì)量。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及自動(dòng)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種抵壓治具和測(cè)試裝置。
背景技術(shù)
目前,電子行業(yè)產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)越來(lái)越激烈,機(jī)芯主板制造行業(yè)使用全自動(dòng)測(cè)試是必然的趨勢(shì)。然而目前可通過自動(dòng)化設(shè)備將測(cè)試端子插接于機(jī)芯主板的立式端口進(jìn)行測(cè)試,但是測(cè)試后機(jī)芯主板和測(cè)試端子無(wú)法自動(dòng)分離,需要通過人工手動(dòng)插拔端口的傳統(tǒng)方式以使機(jī)芯主板的端口與測(cè)試端子分離,不僅增大了人工操作強(qiáng)度,同時(shí)花費(fèi)時(shí)間較多,測(cè)試效率較低且容易出現(xiàn)人工導(dǎo)致的產(chǎn)品質(zhì)量問題。
上述內(nèi)容僅用于輔助理解本申請(qǐng)的技術(shù)方案,并不代表承認(rèn)上述內(nèi)容是現(xiàn)有技術(shù)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的是提供一種抵壓治具,旨在提高機(jī)芯主板的生產(chǎn)測(cè)試效率,節(jié)約測(cè)試時(shí)間,保證機(jī)芯主板的質(zhì)量。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提出的抵壓治具,應(yīng)用于測(cè)試裝置,所述測(cè)試裝置包括驅(qū)動(dòng)件和與所述驅(qū)動(dòng)件連接的測(cè)試端子,所述驅(qū)動(dòng)件用以驅(qū)動(dòng)所述測(cè)試端子插接于待測(cè)試主板的端口,所述抵壓治具包括:
固定件,所述固定件連接于所述驅(qū)動(dòng)件朝向所述測(cè)試端子的一側(cè);
抵接件,所述抵接件可活動(dòng)連接于所述固定件,并用于抵接所述待測(cè)試主板;以及
彈性件,所述彈性件的一端連接于所述固定件,另一端連接于所述抵接件,并驅(qū)動(dòng)所述抵接件相對(duì)于所述固定件運(yùn)動(dòng)。
在本申請(qǐng)的一實(shí)施例中,所述固定件開設(shè)有固定孔,所述彈性件設(shè)于所述固定孔內(nèi),所述抵接件插入于所述固定孔內(nèi)并與所述彈性件連接,所述抵接件至少部分伸出所述固定件外以用于所述待測(cè)試主板。
在本申請(qǐng)的一實(shí)施例中,所述抵接件包括連接部和抵壓部,所述連接部于所述固定孔內(nèi)移動(dòng)并與所述彈性件連接,所述抵壓部可拆卸連接所述連接部背離所述彈性件的一端,并用于所述待測(cè)試主板抵接。
在本申請(qǐng)的一實(shí)施例中,所述連接部的側(cè)表面凹設(shè)形成凹槽,所述凹槽的長(zhǎng)度延伸方向與所述固定孔的延伸方向相同,所述固定件的側(cè)壁開設(shè)有限位通孔,所述限位通孔與所述固定孔連通;
一連接件穿過所述限位通孔并插入所述凹槽內(nèi),以對(duì)所述連接部和所述固定件進(jìn)行限位。
在本申請(qǐng)的一實(shí)施例中,所述凹槽延伸的長(zhǎng)度值為L(zhǎng),10mm≤L≤50mm。
在本申請(qǐng)的一實(shí)施例中,所述連接部背離所述彈性件的表面設(shè)有凸柱,所述抵壓部開設(shè)有安裝孔,所述凸柱插接固定于所述安裝孔內(nèi),以使所述抵接部固定于所述連接部。
在本申請(qǐng)的一實(shí)施例中,所述抵壓部的橫截面積沿背離所述連接部的方向逐漸減小。
在本申請(qǐng)的一實(shí)施例中,所述抵壓部背離所述連接部的表面呈平面設(shè)置;
且/或,所述抵壓部的材質(zhì)為塑料或者電木。
在本申請(qǐng)的一實(shí)施例中,所述固定件背離所述抵接件的表面開設(shè)有連接孔,所述連接孔與所述固定孔連通;
一固定螺釘依次穿過所述固定孔和所述連接孔并與所述驅(qū)動(dòng)件螺紋連接,以將所述固定件固定于所述驅(qū)動(dòng)件。
本發(fā)明還提出一種測(cè)試裝置,包括抵壓治具、驅(qū)動(dòng)件以及與所述驅(qū)動(dòng)件連接的測(cè)試端子,所述驅(qū)動(dòng)件用以驅(qū)動(dòng)所述測(cè)試端子插接于待測(cè)試主板的端口,所述抵壓治具包括:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳創(chuàng)維-RGB電子有限公司,未經(jīng)深圳創(chuàng)維-RGB電子有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
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- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
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