[發明專利]一種多路Vl53l0X激光測距校準方法及驅動在審
| 申請號: | 202010782131.5 | 申請日: | 2020-08-06 |
| 公開(公告)號: | CN111812621A | 公開(公告)日: | 2020-10-23 |
| 發明(設計)人: | 王心源 | 申請(專利權)人: | 常州市貝葉斯智能科技有限公司 |
| 主分類號: | G01S7/497 | 分類號: | G01S7/497;G06F13/42 |
| 代理公司: | 北京市惠誠律師事務所 11353 | 代理人: | 潘朋朋 |
| 地址: | 213100 江蘇省常州市武進國家高新技術*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 vl53l0x 激光 測距 校準 方法 驅動 | ||
1.一種多路Vl53l0X激光測距校準方法及驅動,其特征在于:包括如下步驟,
1)、Vl53l0X的I2C地址會在重啟后丟失,所以MCU在初始化前需要給指定的模塊配置地址,通過特定的片選引腳使能指定的Vl53l0X激光測距模塊,此時只有該模塊可以和MCU通信,通過I2C總線配置該模塊的地址并進行后續配置;
2)、在該Vl53l0X模塊地址對應的MCU內部flash存儲區域查詢該校準信息,若已校準過則從相應flash區域讀取補償參數進行配置;
3)、若沒有校準則為防止安裝誤差以及外部環境造成的誤差啟動自校準程序,自校準程序分為如下幾步:
(1)Vl53l0X模塊對比預設距離以及測量距離,返回補償參數用于每次測量后的校正;
(2)重復3次校準過程分別保存測量結果;
(3)計算3次測量結果方差,若小于閾值則校準成功;
(4)MCU獲得補償參數后存儲在該模塊對應地址的flash區域;
4)、循環從各Vl53l0X模塊讀取數據;
5)、串口輸出測量數據。
2.一種多路Vl53l0X激光測距校準驅動,采用根據權利要求1所述的一種多路Vl53l0X激光測距校準方法,其特征在于:所述校準驅動包括控制部分和傳感器部分,其中,控制部分采用STM32F103C8T6芯片,傳感器部分采用多個Vl53l0X激光測距模塊。
3.根據權利要求2所述的一種多路Vl53l0X激光測距校準驅動,其特征在于:物理上激光測距模塊采用直插式固定在驅動平臺上,并與控制部分相連;控制上,多路Vl53l0X激光測距模塊掛載在同一個I2C總線上與MCU通信,每個激光測距模塊都有獨立的片選接口分別連接MCU的不同引腳;將MCU的flash分為程序區,配置信息區,配置信息區內又為每個Vl53l0X激光測距模塊劃分獨立的配置信息地址塊。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于常州市貝葉斯智能科技有限公司,未經常州市貝葉斯智能科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010782131.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





