[發明專利]線損測試方法、綜測儀和存儲介質

有效

• 申請號: 202010782027.6
• 申請日: 2020-08-06
• 公開（公告）號: CN113419189B
• 公開（公告）日: 2022-02-22
• 發明（設計）人: 徐逢春
• 申請（專利權）人: 為準(北京)電子科技有限公司
• 主分類號: G01R31/52
• 分類號: G01R31/52;G01R31/54;H04B17/10;H04B17/29
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;黃燦

本發明提供了一種線損測試方法、綜測儀和存儲介質，所述方法包括如下步驟：在綜測儀與測試板通過測試線連接的情況下，向測試板發送第一矢量信號；接收測試板基于第一矢量信號發送的第二矢量信號和第三矢量信號；根據第二矢量信號和第三矢量信號，確定測試線在第一頻點的線損值。這樣，使用綜測儀即可實現線損測試，無需使用昂貴的線損測試裝置測試射頻線產生的線損，以此降低了線損測試的成本。

技術領域

本發明涉及通信技術領域，特別是涉及線損測試方法、綜測儀和存儲介質。

背景技術

在移動設備生產過程中，需要對移動設備射頻信號的射頻指標進行測試，如發射功率、頻率誤差、相位誤差、接收靈敏度。一般而言，使用綜測儀通過射頻線連接移動設備，以此對移動設備射頻信號進行檢測，然而，在測試過程中，射頻線會損耗部分射頻信號，將射頻線產生的損耗稱為線損。

為了準確的對移動設備射頻信號進行測試，需要先對射頻線產生的線損進行測試。在現有技術中，由于大部分綜測儀都不具備線損測試功能，因此在射頻信號測試過程中，需要使用專門的線損測試裝置測試射頻線產生的線損，而現有的線損測試裝置成本較高，這樣，導致線損測試的成本較高。

發明內容

本發明實施例提供一種線損測試方法、綜測儀和存儲介質，旨在解決需要專門的線損測試裝置進行線損測試，導致線損測試成本較高的技術問題。

為了解決上述技術問題，本申請是這樣實現的：

第一方面，本申請實施例提供了一種線損測試方法，包括：

在綜測儀與測試板通過測試線連接的情況下，向所述測試板發送第一矢量信號；

接收所述測試板基于所述第一矢量信號發送的第二矢量信號和第三矢量信號；

根據所述第二矢量信號和所述第三矢量信號，確定所述測試線在第一頻點的線損值；

其中，所述測試板包括開路負載和短路負載；

所述第二矢量信號為在預設時長內，所述第一矢量信號經過所述測試線和開路負載后，所述測試板發送的矢量信號；

所述第三矢量信號為在預設時長內，所述第一矢量信號經過所述測試線和短路負載后，所述測試板發送的矢量信號。

第二方面，本申請實施例提供了一種綜測儀，包括：

發送模塊，用于在綜測儀與測試板通過測試線連接的情況下，向所述測試板發送第一矢量信號；

接收模塊，用于接收所述測試板基于所述第一矢量信號發送的第二矢量信號和第三矢量信號；

確定模塊，用于根據所述第二矢量信號和所述第三矢量信號，確定所述測試線在第一頻點的線損值，所述第一頻點為所述第一矢量信號對應的頻點。

第三方面，本申請實施例提供了一種可讀存儲介質，所述可讀存儲介質上存儲程序或指令，所述程序或指令被處理器執行時實現如第一方面所述的方法的步驟。

本申請實施例通過在綜測儀與測試板通過測試線連接的情況下，向測試板發送第一矢量信號；接收測試板基于第一矢量信號發送的第二矢量信號和第三矢量信號；根據第二矢量信號和第三矢量信號，確定測試線在第一頻點的線損值。這樣，使用綜測儀即可實現線損測試，無需使用昂貴的線損測試裝置測試射頻線產生的線損，以此降低了線損測試的成本。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹。

圖1為本發明實施例中線損測試方法的流程圖；

圖2為本發明實施例中綜測儀的結構示意圖；

圖3為本發明實施例中一種電子設備的結構示意圖。