[發(fā)明專利]基于機(jī)器視覺的陶瓷產(chǎn)品表面斑點(diǎn)檢測(cè)方法及設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010779902.5 | 申請(qǐng)日: | 2020-08-05 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112037175B | 公開(公告)日: | 2022-04-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張立國(guó);馬子薦;金梅;李義輝;楊曼;李媛媛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 燕山大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G01N21/88 |
| 代理公司: | 北京孚睿灣知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11474 | 代理人: | 劉翠芹 |
| 地址: | 066004 河北省*** | 國(guó)省代碼: | 河北;13 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 機(jī)器 視覺 陶瓷產(chǎn)品 表面 斑點(diǎn) 檢測(cè) 方法 設(shè)備 | ||
1.一種基于機(jī)器視覺的陶瓷產(chǎn)品表面斑點(diǎn)檢測(cè)方法,其特征在于:其包括以下步驟:
步驟S1、利用檢測(cè)設(shè)備在不同光源下對(duì)所述陶瓷產(chǎn)品進(jìn)行拍照,獲得白色、紅色和黃色光源下的圖像信息并對(duì)圖像進(jìn)行預(yù)處理,得到白色光源下圖片、紅色光源下圖片以及黃色光源下圖片;
步驟S2、識(shí)別斑點(diǎn)邊緣的候選初始點(diǎn),候選初始點(diǎn)具有一個(gè)或多個(gè),具體包括以下子步驟:
S21、確定黑色斑點(diǎn)邊緣條紋相關(guān)聯(lián)的候選初始點(diǎn):
從起始點(diǎn)開始遍歷所有像素點(diǎn),在遍歷所有像素點(diǎn)過程中,將每一個(gè)當(dāng)前像素點(diǎn)的像素值P1與設(shè)定定位值PH做比較,若P1值與設(shè)定定位值PH之間差值處于差值閾值內(nèi),并且P1值位于PHH和PHL之間,則將該像素點(diǎn)記為黑色斑點(diǎn)邊緣高點(diǎn)QH,進(jìn)一步將每一個(gè)黑色斑點(diǎn)邊緣高點(diǎn)QH的像素位置按八個(gè)方向分別移動(dòng),第一次移動(dòng)距離為像素距離,接著每次移動(dòng)距離為1像素距離,直到移動(dòng)到距黑色斑點(diǎn)邊緣高點(diǎn)QH距離為WW的終點(diǎn)為止,如果檢測(cè)到當(dāng)前像素點(diǎn)的像素值P1小于設(shè)定的黑色斑點(diǎn)邊緣定位值PL,則將該多個(gè)像素點(diǎn)的終點(diǎn)位置記為黑色斑點(diǎn)邊緣低點(diǎn)QL,計(jì)算每一個(gè)像素點(diǎn)QL到QH的黑色邊緣斜率k:
其中,k為QL到QH的黑色邊緣斜率,s為QL到QH的距離,(xH,yH)為QH點(diǎn)坐標(biāo),(xL,yL)為QL點(diǎn)坐標(biāo),WW的大小為QH到QL距離的1.5倍,PHH和PHL的值由理想邊緣曲線確定,八個(gè)方向分別為0°、45°、90°、135°、180°、225°、270°、305°;
當(dāng)某個(gè)像素點(diǎn)的黑色邊緣斜率k值處于系統(tǒng)設(shè)定的黑色邊緣斜率區(qū)間[KBH,KBL]內(nèi)時(shí),則將該像素點(diǎn)定義為黑色邊緣初始點(diǎn)P2,理想黑色邊緣斜率KBI介于[KBH,KBL]之間,KBL介于KBI和KYI之間,其中,KBH為黑色邊緣斜率區(qū)間的高點(diǎn),KBL為黑色邊緣斜率區(qū)間的低點(diǎn),KBI為理想黑色邊緣斜率,KYI為理想黃色邊緣斜率;
S22、當(dāng)像素點(diǎn)不為黑色斑點(diǎn)邊緣相關(guān)聯(lián)的候選初始點(diǎn)時(shí),確定該點(diǎn)是否為紅色斑點(diǎn)邊緣或黃色斑點(diǎn)邊緣相關(guān)聯(lián)的候選初始點(diǎn);
S221、在遍歷所有像素點(diǎn)過程中,當(dāng)識(shí)別到黑色斑點(diǎn)邊緣高點(diǎn)QH但是未識(shí)別到黑色斑點(diǎn)邊緣低點(diǎn)QL時(shí),記錄黑色斑點(diǎn)邊緣高點(diǎn)QH位置,并且分別對(duì)紅色光源和黃色光源下圖像以同樣位置為中心進(jìn)行一定范圍內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)差計(jì)算,識(shí)別紅色或黃色斑點(diǎn)的邊緣初始點(diǎn);
S222、確定紅色斑點(diǎn)邊緣相關(guān)聯(lián)的候選初始點(diǎn):以黑色邊緣高點(diǎn)QH為起始點(diǎn),將該像素點(diǎn)的像素位置按八個(gè)方向分別移動(dòng),第一次移動(dòng)距離為接著每次移動(dòng)距離為1,直到移動(dòng)到距起始點(diǎn)距離為WW的終點(diǎn)為止,當(dāng)檢測(cè)到當(dāng)前像素點(diǎn)像素值P1小于設(shè)定的紅色斑點(diǎn)邊緣定位值PRL,則將該點(diǎn)記為紅色斑點(diǎn)邊緣低點(diǎn)QRL,計(jì)算QRL到QH的紅色邊緣斜率kR,當(dāng)紅色邊緣斜率kR值處于紅色邊緣斜率區(qū)間[KRH,KRL]內(nèi)時(shí),則將當(dāng)前像素點(diǎn)定義為紅色邊緣初始點(diǎn)P2R,理想紅色邊緣斜率KRI介于[KRH,KRL]之間,KRL介于KYH和KRI之間,其中,KRH為紅色邊緣斜率區(qū)間的高點(diǎn),KRL為紅色邊緣斜率區(qū)間的低點(diǎn),KRI為理想紅色邊緣斜率,KYH為黃色邊緣斜率區(qū)間的高點(diǎn);
S223、確定黃色斑點(diǎn)邊緣相關(guān)聯(lián)的候選初始點(diǎn):
以黑色邊緣高點(diǎn)QH為起始點(diǎn),將像素位置按八個(gè)方向分別移動(dòng),第一次移動(dòng)距離為接著每次移動(dòng)距離為1,直到移動(dòng)到距起始點(diǎn)距離為WW的終點(diǎn)為止,當(dāng)檢測(cè)到當(dāng)前像素點(diǎn)像素值P1小于設(shè)定黃色斑點(diǎn)邊緣定位值PYL,則將該點(diǎn)記為黃色斑點(diǎn)邊緣低點(diǎn)QYL,計(jì)算QYL到QH的黃色邊緣斜率kY,當(dāng)黃色邊緣斜率kY值處于黃色邊緣斜率區(qū)間[KYH,KYL]內(nèi)時(shí),則將當(dāng)前像素點(diǎn)定義為紅色邊緣初始點(diǎn)P2Y,理想黃色邊緣斜率KYI介于[KYH,KYL]之間,KYL介于KYI和KRH之間,KYH介于KYI和KBL之間,其中KYL為黃色邊緣斜率區(qū)間的高點(diǎn)、KYL為黃色邊緣斜率區(qū)間的低點(diǎn)、KYI為理想黃色邊緣斜率;
步驟S221中一定范圍為以黑色斑點(diǎn)邊緣高點(diǎn)QH點(diǎn)坐標(biāo)(xH,yH)為中心,在范圍大小為WW*WW的矩形內(nèi)計(jì)算平均差如下:
其中,C1為矩形內(nèi)灰度平均值,C為范圍內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)差,Pxy為(x,y)處灰度值,Cb的值的確定由白色光源下理想黑色斑點(diǎn)邊緣在WW*WW的范圍內(nèi)計(jì)算得到,Cy的值的確定由黃色光源下理想黃色斑點(diǎn)邊緣在WW*WW的范圍內(nèi)計(jì)算得到,Cr的值的確定由紅色光源下理想紅色斑點(diǎn)邊緣在WW*WW的范圍內(nèi)計(jì)算得到,當(dāng)黑色圖像下標(biāo)準(zhǔn)差Cb大于黃色圖像下標(biāo)準(zhǔn)差Cy大于紅色圖像下標(biāo)準(zhǔn)差Cr,且紅色圖像下標(biāo)準(zhǔn)差明顯變小時(shí),進(jìn)一步通過紅色斑點(diǎn)邊緣低點(diǎn)QRL和紅色邊緣斜率區(qū)間[KRH,KRL]確定紅色斑點(diǎn)邊緣初始點(diǎn)PR2;
步驟S3、通過邊緣檢測(cè)模型確定粗邊緣點(diǎn)及邊緣顏色,具體包括以下子步驟:
S31、確定黑色邊緣粗邊緣點(diǎn)及邊緣顏色:
識(shí)別步驟S2中所有黑色邊緣初始點(diǎn)P2,對(duì)每一個(gè)黑色邊緣初始點(diǎn)P2,以P2到QL為范圍,對(duì)范圍內(nèi)所有像素點(diǎn)在大小為WW*WW矩形范圍內(nèi)與粗邊緣點(diǎn)確定矩陣進(jìn)行內(nèi)積運(yùn)算,得到多個(gè)像素點(diǎn)的邊緣中點(diǎn)判斷值CP,若范圍內(nèi)某個(gè)像素點(diǎn)的邊緣中點(diǎn)判斷值CP小于邊緣判斷閾值差值T,則當(dāng)前像素點(diǎn)為邊緣中點(diǎn)且P2點(diǎn)為黑色粗邊緣點(diǎn);
S32、確定紅色邊緣的粗邊緣點(diǎn)及邊緣顏色:
識(shí)別步驟S2中紅色邊緣初始點(diǎn)P2R,對(duì)每一個(gè)紅色邊緣初始點(diǎn)P2R,以P2R到QRL為范圍,對(duì)范圍內(nèi)所有像素點(diǎn)在大小為WW*WW矩形范圍內(nèi)與粗邊緣點(diǎn)確定矩陣進(jìn)行內(nèi)積運(yùn)算,得到多個(gè)像素點(diǎn)的邊緣中點(diǎn)判斷值CPR,若范圍內(nèi)某個(gè)像素點(diǎn)的邊緣中點(diǎn)判斷值CPR小于邊緣判斷閾值差值TR,則當(dāng)前像素點(diǎn)為紅色邊緣中點(diǎn)且P2R點(diǎn)為紅色斑點(diǎn)粗邊緣點(diǎn);
S33、確定黃色邊緣的粗邊緣點(diǎn)及邊緣顏色:
識(shí)別步驟S2中黃色邊緣初始點(diǎn)P2Y,對(duì)每一個(gè)黃色邊緣初始點(diǎn)P2Y,以P2Y到QYL為范圍,對(duì)范圍內(nèi)所有像素點(diǎn)在大小為WW*WW矩形范圍內(nèi)與粗邊緣點(diǎn)確定矩陣進(jìn)行內(nèi)積運(yùn)算,得到多個(gè)像素點(diǎn)的邊緣中點(diǎn)判斷值CPY,若范圍內(nèi)某個(gè)像素點(diǎn)的邊緣中點(diǎn)判斷值CP小于邊緣判斷閾值差值TY,則當(dāng)前像素點(diǎn)為黃色邊緣中點(diǎn)且P2Y點(diǎn)為黃色斑點(diǎn)粗邊緣點(diǎn);
步驟S4、基于反正切函數(shù)的亞像素表面斑點(diǎn)邊緣檢測(cè),分別確定黑色斑點(diǎn)直徑、紅色斑點(diǎn)直徑以及黃色斑點(diǎn)直徑,具體步驟如下:
S41、獲取黑色斑點(diǎn)直徑:
S411、根據(jù)步驟S3中確定的黑色粗邊緣點(diǎn)P2、邊緣中點(diǎn)和某方向的粗邊緣點(diǎn)確定矩陣,以邊緣中點(diǎn)為中點(diǎn)取一列該方向的邊緣區(qū)域向量的灰度值將該方向內(nèi)WW個(gè)像素進(jìn)行反正切函數(shù)擬合,擬合函數(shù)形式為:
y=a1arctan(a2x+a3)+a4
擬合得到模型中參數(shù)為a1,a2,a3,a4,根據(jù)實(shí)際陶瓷表面斑點(diǎn)邊緣可見位置確定黑色斑點(diǎn)邊緣的亞像素邊緣點(diǎn)位置R;
S412、計(jì)算各邊緣點(diǎn)之間距離,其中邊緣點(diǎn)間的最大距離為斑點(diǎn)直徑,
D為黑色斑點(diǎn)直徑,(xi,yi)、(xj,yj)為R位置;
S42、獲取紅色斑點(diǎn)直徑和黃色斑點(diǎn)直徑:利用上述方法分別確定紅色和黃色斑點(diǎn)邊緣的亞像素邊緣,分別以紅色邊緣中點(diǎn)和黃色邊緣中點(diǎn)為中點(diǎn)取一列該方向的邊緣區(qū)域向量的灰度值將該方向內(nèi)WW個(gè)像素進(jìn)行反正切函數(shù)擬合,根據(jù)上述方法確定紅色斑點(diǎn)直徑DR以及黃色斑點(diǎn)直徑DY;
S5、對(duì)步驟S4得到的黑色斑點(diǎn)直徑、紅色斑點(diǎn)直徑以及黃色斑點(diǎn)直徑進(jìn)行判斷,當(dāng)黑色斑點(diǎn)直徑、紅色斑點(diǎn)直徑或黃色斑點(diǎn)直徑大于設(shè)定的斑點(diǎn)閾值時(shí),則判斷該陶瓷產(chǎn)品為不合格。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于燕山大學(xué),未經(jīng)燕山大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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