[發明專利]無線設備的無線性能測試方法、裝置、系統、設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202010776620.X
• 申請日: 2020-08-05
• 公開（公告）號: CN111726176A
• 公開（公告）日: 2020-09-29
• 發明（設計）人: 于偉;漆一宏;張輝彬;李俊;沈鵬輝;遲禮東
• 申請（專利權）人: 深圳市通用測試系統有限公司
• 主分類號: H04B17/15
• 分類號: H04B17/15;H04B17/29
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.無線設備的無線性能測試方法，其特征在于，包括：

測試天線在位于所述無線設備的近場輻射距離內的預設掃描面進行掃描，獲得掃描結果；

根據所述掃描結果獲得測試位置；以及

測試天線在所述測試位置對所述無線設備進行測試，獲得測試結果。

2.根據權利要求1所述的測試方法，其特征在于，根據所述掃描結果獲得測試位置的步驟包括：

獲得所述掃描結果中滿足以下條件的合格掃描點：掃描值大于第一預設值，或者，掃描值為所述掃描結果中的最大值；以及

根據所述合格掃描點的位置確定所述測試位置。

3.根據權利要求2所述的測試方法，其特征在于，

根據參考設備的所述掃描結果獲得參考測試位置，其中，所述參考設備為無線性能符合預設要求的無線設備；以及

將與所述無線設備相同的所述參考設備的參考測試位置確定為所述無線設備的所述測試位置。

4.根據權利要求1所述的測試方法，其特征在于，還包括：

將所述測試結果與參考測試結果進行比較，當兩者的差值小于第二預設值時判定為合格，當兩者的差值大于第二預設值時判定為不合格，其中，所述參考測試結果為預設值或通過所述測試天線對無線性能符合預設要求的參考設備在相同的所述測試位置進行測試獲得。

5.根據權利要求1所述的測試方法，其特征在于，通過N個所述測試天線對N個所述無線設備同時進行掃描或測試，其中，至少相鄰的所述測試天線在不同的頻率進行掃描或測試，N大于或等于2。

6.根據權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述近場輻射距離根據以下公式獲得：

，或者

，

其中，R表示所述近場輻射距離，D表示所述無線設備的最大物理尺寸，λ表示所述無線設備發射或接收的無線信號的波長。

7.根據權利要求6所述的測試方法，其特征在于，所述近場輻射距離為5mm至30mm。

8.無線設備的無線性能測試裝置，其特征在于，包括：

掃描模塊，用于控制測試天線在位于所述無線設備的近場輻射距離內的預設掃描面進行掃描，獲得掃描結果；

測試位置獲取模塊，用于根據所述掃描結果獲得測試位置；以及

測試模塊，用于控制所述測試天線在所述測試位置對所述無線設備進行測試，獲得測試結果。

9.根據權利要求8所述的測試裝置，其特征在于，所述測試位置獲取模塊包括：

合格掃描點獲取單元，用于獲得所述掃描結果中滿足以下條件的合格掃描點：掃描值大于第一預設值，或者，掃描值為所述掃描結果中的最大值；以及

第一測試位置獲取單元，用于根據所述合格掃描點的位置確定所述測試位置。

10.根據權利要求9所述的測試裝置，其特征在于，所述測試位置獲取模塊還包括：

參考測試位置獲取單元，用于根據參考設備的所述掃描結果獲得參考測試位置，其中，所述參考設備為無線性能符合預設要求的無線設備；以及

第二測試位置獲取單元，用于將與所述無線設備相同的參考設備的參考測試位置確定為所述無線設備的所述測試位置。

11.無線設備的無線性能測試系統，其特征在于，包括：

屏蔽箱，所述屏蔽箱內設有吸波材料；

放置組件，設置于所述屏蔽箱內，用于放置所述無線設備；

測試天線，設置于所述屏蔽箱內；

移動組件，與所述放置組件和所述測試天線中至少之一相連，用于改變所述無線設備和所述測試天線的相對位置；以及

根據權利要求8-10中任一所述的測試裝置。