[發(fā)明專利]人臉檢測方法和裝置、電子設(shè)備、存儲介質(zhì)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010770580.8 | 申請日: | 2020-08-04 |
| 公開(公告)號: | CN111914757A | 公開(公告)日: | 2020-11-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陶愷 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市英威諾科技有限公司 |
| 主分類號: | G06K9/00 | 分類號: | G06K9/00;G06K9/32 |
| 代理公司: | 深圳市朝聞專利代理事務所(普通合伙) 44454 | 代理人: | 羅仲輝 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南山*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測 方法 裝置 電子設(shè)備 存儲 介質(zhì) | ||
1.一種人臉檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:
獲取原始圖像;
利用MTCNN模型對所述原始圖像進行分析,獲取人臉矯正仿射變換矩陣;
利用所述人臉矯正仿射變換矩陣,對所述原始圖像進行矯正,以獲取人臉正切圖。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的人臉檢測方法,其特征在于,所述利用MTCNN模型對所述原始圖像進行分析,獲取人臉矯正仿射變換矩陣,包括:
獲取利用所述MTCNN模型得到的人臉關(guān)鍵點和平均人臉關(guān)鍵點;
利用所述人臉關(guān)鍵點和所述平均人臉關(guān)鍵點的坐標,求解針對所述原始圖像的所述人臉矯正仿射變換矩陣。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的人臉檢測方法,其特征在于,所述利用所述人臉矯正仿射變換矩陣,對所述原始圖像進行矯正,以獲取人臉正切圖,包括:
利用所述人臉矯正仿射變換矩陣,獲取所述人臉正切圖中每個位置點對應在所述原始圖像中的原始位置;
針對每個所述原始位置,獲取與所述原始位置相鄰的參考位置點及其像素值;
利用所述參考位置點的像素值,獲取目標像素值。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的人臉檢測方法,其特征在于,所述利用所述人臉矯正仿射變換矩陣,獲取所述人臉正切圖中每個位置點對應在所述原始圖像中的原始位置,包括:
獲取所述人臉正切圖的坐標范圍;
根據(jù)所述坐標范圍和所述人臉矯正仿射變換矩陣的逆矩陣,獲取所述原始位置。
5.一種人臉檢測裝置,其特征在于,包括:
獲取模塊,用于獲取原始圖像;
分析模塊,用于利用MTCNN模型對所述原始圖像進行分析,獲取人臉矯正仿射變換矩陣;
矯正模塊,用于利用所述人臉矯正仿射變換矩陣,對所述原始圖像進行矯正,以獲取人臉正切圖。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的人臉檢測裝置,其特征在于,所述分析模塊,具體用于:
獲取利用所述MTCNN模型得到的人臉關(guān)鍵點和平均人臉關(guān)鍵點;
利用所述人臉關(guān)鍵點和所述平均人臉關(guān)鍵點的坐標,求解針對所述原始圖像的所述人臉矯正仿射變換矩陣。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的人臉檢測裝置,其特征在于,所述矯正模塊,具體用于:
利用所述人臉矯正仿射變換矩陣,獲取所述人臉正切圖中每個位置點對應在所述原始圖像中的原始位置;
針對每個所述原始位置,獲取與所述原始位置相鄰的參考位置點及其像素值;
利用所述參考位置點的像素值,獲取目標像素值。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的人臉檢測裝置,其特征在于,所述矯正模塊,具體用于:
獲取所述人臉正切圖的坐標范圍;
根據(jù)所述坐標范圍和所述人臉矯正仿射變換矩陣的逆矩陣,獲取所述原始位置。
9.一種電子產(chǎn)品,其特征在于,包括:
存儲器,用于存儲程序;
處理器,用于通過執(zhí)行所述存儲器存儲的程序以實現(xiàn)如權(quán)利要求1-4中任一項所述的人臉檢測方法。
10.一種計算機可讀存儲介質(zhì),其特征在于,包括程序,所述程序能夠被處理器執(zhí)行以實現(xiàn)如權(quán)利要求1-4中任一項所述的人臉檢測方法。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳市英威諾科技有限公司,未經(jīng)深圳市英威諾科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010770580.8/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類





