[發明專利]一種抑制視頻泄露對散射測量影響的方法有效
| 申請號： | 202010769111.4 | 申請日： | 2020-08-03 |
| 公開（公告）號： | CN111896811B | 公開（公告）日： | 2023-03-24 |
| 發明（設計）人： | 吳洋;莫崇江;孔德旺;楊景軒 | 申請（專利權）人： | 北京環境特性研究所 |
| 主分類號： | G01R29/08 | 分類號： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京格允知識產權代理有限公司 11609 | 代理人： | 周嬌嬌 |
| 地址： | 100854*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 抑制 視頻 泄露 散射 測量 影響 方法 | ||
本發明涉及一種抑制視頻泄露對散射測量影響的方法，所述方法應用于基于硬件門的目標散射測量系統，所述方法包括以下步驟：根據待測采樣頻率和視頻泄露干擾頻率設置第一采樣頻率和第二采樣頻率；將所述發射模塊的采樣頻率分別設置為所述第一采樣頻率和所述第二采樣頻率，通過所述接收模塊獲取第一采樣數據和第二采樣數據；對所述第一采樣數據和所述第二采樣數據進行插值得到需求采樣數據。本發明中根據待測采樣頻率設置兩個偏移的采樣頻率，分別進行散射測量，并結合插值運算可得到需求采樣數據，由此可解決由于視頻泄露信號對目標散射測試結果造成干擾，影響散射測量結果的問題，能夠實現對硬件門中視頻泄露對測試信號干擾的有效抑制。
技術領域
本發明涉及目標散射測量技術領域，尤其涉及一種抑制視頻泄露對散射測量影響的方法及基于硬件門的目標散射測量系統。
背景技術
在采用硬件門技術進行空間濾波的低頻電磁散射/輻射測量中，由于硬件門中高速開關的時鐘控制信號泄露至測量信號鏈路，對測量信號造成干擾，稱為視頻泄漏干擾。視頻泄漏干擾主要在高速開關的時鐘控制信號頻率及其諧波頻率。
其中硬件門是指通過信號發射端對測試信號進行脈沖調制，在接收端通過脈沖時延進行選通調整，通過發射脈沖和接收脈沖之間的時延調整，實現空間中的濾波效果，從而降低環境雜波對測量影響的一種技術方法。
通過調整硬件門發射/接收的脈沖寬度，發射/接收脈沖間的時延及重復周期，使待測天線測試信號可以落入接收脈沖通帶范圍內，從而獲得正常的測試信號，通過環境干擾的回波信號落入接收脈沖通帶范圍外，從而實現對環境干擾信號的濾除效果，降低環境干擾信號對測試結果的影響。
視頻泄漏干擾是指硬件門中用于產生脈沖的高速開關，其控制用的電平信號耦合入測試鏈路中成為干擾信號，其干擾頻率為電平信號重復周期頻率及其各諧波頻率。視頻泄漏干擾信號一般從電平信號重復周期頻率(一般為幾MHz頻率)至1GHz左右，信號電平較高，對測試造成嚴重干擾。對于弱/小信號測試，其干擾一般可至8GHz左右。
目前針對視頻泄漏干擾的抑制，工程應用中沒有可行方法。因此，針對以上不足，需要提供一種抑制視頻泄露干擾對目標散射測量影響的方法。
發明內容
本發明要解決的技術問題在于，在基于硬件門技術對目標散射測量過程中，視頻泄露干擾嚴重影響測試結果，針對現有技術中的缺陷，提供了一種抑制視頻泄露干擾對目標散射測量影響的方法。
為了解決上述技術問題，本發明提供了一種抑制視頻泄露對散射測量影響的方法，所述方法應用于基于硬件門的目標散射測量系統，該系統包括發射模塊和接收模塊，所述方法包括以下步驟：
根據待測采樣頻率和視頻泄露干擾頻率設置第一采樣頻率和第二采樣頻率；
將所述發射模塊的采樣頻率分別設置為所述第一采樣頻率和所述第二采樣頻率，通過所述接收模塊獲取第一采樣數據和第二采樣數據；
對所述第一采樣數據和所述第二采樣數據進行插值得到需求采樣數據。
優選地，所述第一采樣頻率小于所述待測采樣頻率，且所述第二采樣頻率大于所述待測采樣頻率。
優選地，根據以下公式進行插值：
其中，d0表示需求采樣數據，d1表示第一采樣數據，d2表示第二采樣數據，f0表示待測采樣頻率，f1表示第一采樣頻率，f2表示第二采樣頻率。
優選地，所述第一采樣頻率大于所述待測采樣頻率，且所述第二采樣頻率小于所述待測采樣頻率。
優選地，根據以下公式進行插值：
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