[發(fā)明專利]多方位外觀檢測設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010768344.2 | 申請日: | 2020-08-03 |
| 公開(公告)號: | CN112098414A | 公開(公告)日: | 2020-12-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 許劍波;譚豪;湯爾英 | 申請(專利權(quán))人: | 東莞領(lǐng)杰金屬精密制造科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88;G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京商專潤文專利代理事務(wù)所(普通合伙) 11317 | 代理人: | 祖游行 |
| 地址: | 523000 廣東省東莞市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 多方位 外觀 檢測 設(shè)備 | ||
本公開提供了一種多方位外觀檢測設(shè)備,包括旋轉(zhuǎn)工作臺及沿旋轉(zhuǎn)工作臺圓周方向依次排布的上下料機(jī)械手、兩個以上的水平檢測裝置、上檢測裝置和翻轉(zhuǎn)裝置,旋轉(zhuǎn)工作臺包括第一轉(zhuǎn)盤及驅(qū)動第一轉(zhuǎn)盤旋轉(zhuǎn)的第一驅(qū)動機(jī)構(gòu),第一轉(zhuǎn)盤上沿其圓周方向設(shè)置有用于安置產(chǎn)品的定位臺,第一驅(qū)動機(jī)構(gòu)通過行星齒輪傳動機(jī)構(gòu)與定位臺連接,定位臺能夠繞第一轉(zhuǎn)盤的軸心進(jìn)行圓周運動,同時行星齒輪傳動機(jī)構(gòu)能夠驅(qū)動定位臺進(jìn)行自轉(zhuǎn),翻轉(zhuǎn)裝置能夠?qū)⒍ㄎ慌_上的產(chǎn)品取出翻轉(zhuǎn)后并重新放置在定位臺上。本公開操作方便,有效地節(jié)省了人力物力和時間,不易產(chǎn)生誤檢、漏檢等,從而提高了產(chǎn)品的整體質(zhì)量和良率較低,生產(chǎn)效率高,應(yīng)用范圍廣,降低了生產(chǎn)成本。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開涉及檢測設(shè)備,尤其涉及一種多方位外觀檢測設(shè)備。
背景技術(shù)
隨著社會的不斷進(jìn)步和科技的快速發(fā)展,對許多產(chǎn)品的需求量越來越大,要求也越來越高,因此既要保證產(chǎn)品質(zhì)量,又要提高生產(chǎn)效率,才能滿足生產(chǎn)需求,機(jī)械自動化、智能化是必然的發(fā)展趨勢。目前,許多產(chǎn)品對外觀的要求越來越高,比如手機(jī)、相機(jī)、筆記本電腦、藍(lán)牙耳機(jī)等電子產(chǎn)品的一些零部件,這些產(chǎn)品制造過程中,產(chǎn)品表面會出現(xiàn)污點、劃痕、漏銅、壓傷、表面泛白、發(fā)暗等缺陷,合格產(chǎn)品是不允許存在這些缺陷的,所以必須要對產(chǎn)品的外觀進(jìn)行相應(yīng)的檢測。但是,傳統(tǒng)的依靠人工檢測的方式,操作不便,勞動強(qiáng)度高,占用較多的人力物力,耗費大量的時間,長時間工作人眼容易疲勞,尤其是產(chǎn)品的尺寸細(xì)小且數(shù)量較多時,很容易產(chǎn)生誤檢、漏檢等,檢測精度低,從而產(chǎn)品的整體質(zhì)量和良率較低,生產(chǎn)效率低,不利于生產(chǎn)管控,不能滿足生產(chǎn)需求,生產(chǎn)成本高,降低了產(chǎn)品的競爭力。
發(fā)明內(nèi)容
本公開的目的是提出一種多方位外觀檢測設(shè)備,可以解決上述技術(shù)問題中的至少一個,本公開的技術(shù)方案如下:
一種多方位外觀檢測設(shè)備,包括旋轉(zhuǎn)工作臺及沿旋轉(zhuǎn)工作臺圓周方向依次排布的上下料機(jī)械手、兩個以上的水平檢測裝置、上檢測裝置和翻轉(zhuǎn)裝置,旋轉(zhuǎn)工作臺包括第一轉(zhuǎn)盤及驅(qū)動第一轉(zhuǎn)盤旋轉(zhuǎn)的第一驅(qū)動機(jī)構(gòu),第一轉(zhuǎn)盤上沿其圓周方向設(shè)置有用于安置產(chǎn)品的定位臺,第一驅(qū)動機(jī)構(gòu)通過行星齒輪傳動機(jī)構(gòu)與定位臺連接,定位臺能夠繞第一轉(zhuǎn)盤的軸心進(jìn)行圓周運動,同時行星齒輪傳動機(jī)構(gòu)能夠驅(qū)動定位臺進(jìn)行自轉(zhuǎn),翻轉(zhuǎn)裝置能夠?qū)⒍ㄎ慌_上的產(chǎn)品取出翻轉(zhuǎn)后并重新放置在定位臺上,水平檢測裝置和上檢測裝置能夠從不同方向多方位對定位臺上的產(chǎn)品進(jìn)行檢測。
在一些實施方式中,行星齒輪傳動機(jī)構(gòu)包括與第一驅(qū)動機(jī)構(gòu)同軸連接的太陽輪及與太陽輪相配合的行星輪,行星輪與定位臺同軸連接。
在一些實施方式中,定位臺包括與行星輪同軸連接的第一底座,第一轉(zhuǎn)盤上設(shè)置有與第一底座和/或行星輪相配合的第一軸承,第一底座上設(shè)置有用于安置產(chǎn)品的定位治具。
在一些實施方式中,第一轉(zhuǎn)盤的上方設(shè)置有第一固定盤,定位臺位于第一固定盤的外側(cè),第一驅(qū)動機(jī)構(gòu)的旋轉(zhuǎn)中心中空,第一固定盤安裝在第一立柱的頂部,第一轉(zhuǎn)盤上設(shè)置有用于第一立柱穿過的第一通孔,第一立柱能夠穿過第一通孔和第一驅(qū)動機(jī)構(gòu)的旋轉(zhuǎn)中心進(jìn)行安裝。
在一些實施方式中,第一固定盤上設(shè)置有用于與水平檢測裝置相配合的第一光源組件。
在一些實施方式中,水平檢測裝置具有水平設(shè)置的第一相機(jī),上視覺檢測裝置具有能夠位于定位臺上方的第二相機(jī)。
在一些實施方式中,翻轉(zhuǎn)裝置包括夾料機(jī)構(gòu)、驅(qū)動夾料機(jī)構(gòu)旋轉(zhuǎn)的第二驅(qū)動機(jī)構(gòu)及驅(qū)動第二驅(qū)動機(jī)構(gòu)和夾料機(jī)構(gòu)上下運動的第一升降機(jī)構(gòu)。
在一些實施方式中,上下料機(jī)械手前端的驅(qū)動軸上設(shè)置有用于取放產(chǎn)品的取料組件。
在一些實施方式中,兩個上下料機(jī)械手分別進(jìn)行上料和下料,兩個上下料機(jī)械手分別對應(yīng)有自動換料盤裝置。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
- 簽名設(shè)備、檢驗設(shè)備、驗證設(shè)備、加密設(shè)備及解密設(shè)備
- 色彩調(diào)整設(shè)備、顯示設(shè)備、打印設(shè)備、圖像處理設(shè)備
- 驅(qū)動設(shè)備、定影設(shè)備和成像設(shè)備
- 發(fā)送設(shè)備、中繼設(shè)備和接收設(shè)備
- 定點設(shè)備、接口設(shè)備和顯示設(shè)備
- 傳輸設(shè)備、DP源設(shè)備、接收設(shè)備以及DP接受設(shè)備
- 設(shè)備綁定方法、設(shè)備、終端設(shè)備以及網(wǎng)絡(luò)側(cè)設(shè)備
- 設(shè)備、主設(shè)備及從設(shè)備
- 設(shè)備向設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)





