[發明專利]一種微波探測設備的整機校零系統

有效

• 申請號: 202010767221.7
• 申請日: 2020-08-03
• 公開（公告）號: CN111856388B
• 公開（公告）日: 2021-03-30
• 發明（設計）人: 郭曉華;王宇;顧敏;魏一平
• 申請（專利權）人: 無錫國芯微電子系統有限公司
• 主分類號: G01S3/02
• 分類號: G01S3/02
• 代理公司: 無錫華源專利商標事務所(普通合伙) 32228
• 代理人: 過顧佳;聶啟新

本發明公開了一種微波探測設備的整機校零系統，涉及微波技術領域，該整機校零系統由上位機進行本振點和信道的劃分，通過信號源控制置于微波暗室中的發射天線循環發射各個本振點對應的各個信道的中心頻率的信號，并獲取微波探測設備根據來波信號得到的校零數據，由此得到相位補償表供微波探測設備在測向時對來波相位差進行相位補償；該系統對每個信道的中心頻率進行校零操作實現超寬帶校零，根據干涉原理對微波探測設備的附帶的相位差進行補償，從而可以消除由微波探測設備自身原因產生的相位差、提高測向精度，而且整機校零而不需要對其內部各個模塊分別校零，因此減少分模塊工作量、提高校零效率。

技術領域

本發明涉及微波技術領域，尤其是一種微波探測設備的整機校零系統。

背景技術

干涉儀測向原理是微波測向較為常用的技術，當從不同方向電波到達測向天線陣時，測向天線陣中各個天線單元接收的相位不同，因而相互間的相位差也不同，通過比較間距一定距離的兩天線單元接收同一信號的相位差，即可確定目標的角坐標。如圖1所示，當輻射源的平面波由與天線視軸夾角為θ的方向傳播而來時，天線單元1和天線單元2所接收的遠場輻射信號之間的相位差為：其中為全相位(可以大于2π)，L為兩個天線單元間的距離(稱為基線)，θ是目標與視軸的夾角，即入射角，λ為接收電磁波的波長。因此通過計算不同天線單元的來波相位差就能測算來波方向。

但來波相位差的測算結果受到各種因素的影響，微波探測設備測量得到的相位差往往不等于來波相位差這是由于中還包括了天線單元的相位差射頻前端通道一致性的相位差和信號處理模塊的相位差因此有：

因此微波探測設備測量得到的并不是實際的來波相位差，測向的精確較差。

發明內容

本發明人針對上述問題及技術需求，提出了一種微波探測設備的整機校零系統，本發明的技術方案如下：

一種微波探測設備的整機校零系統，該整機校零系統包括具有電磁屏蔽功能的微波暗室、上位機、微波探測設備、發射天線和信號源；微波探測設備和發射天線均設置在微波暗室中，上位機連接微波探測設備以及信號源，信號源連接發射天線；

上位機將微波探測設備的工作頻段的射頻帶寬劃分為N個本振點，并將每個本振點對應的中頻信號通過信道化劃分為M個不同的信道，并將配置參數發送給微波探測設備，配置參數包括各個本振點的本振點標識及其對應的本振頻率以及各個信道的信道標識及其對應的信道參數；

上位機控制信號源通過發射天線發射第i個本振點對應的第j個信道的中心頻率的信號，并將對應的本振點標識和信道標識發送給微波探測設備，i和j均為參數且起始位為1；

微波探測設備根據本振點標識和信道標識結合配置參數確定發射天線發射的來波信號，微波探測設備計算得到各個天線通道與參考通道的相位差作為校零數據反饋給上位機；

上位機存儲第i個本振點的本振頻率、第j個信道的信道參數與接收到的校零數據的校零數據對應關系，當檢測到jM時，令j＝j+1并再次執行控制信號源通過發射天線發射第i個本振點對應的第j個信道的中心頻率的信號的步驟；

當檢測到j＝M且iN時，令j＝1、i＝i+1并再次執行控制信號源通過發射天線發射第i個本振點對應的第j個信道的中心頻率的信號的步驟；

當j＝M且i＝N時，上位機根據已存儲的所有校零數據對應關系得到相位補償表并發送給微波探測設備，微波探測設備在測向時根據相位補償表對測得的來波相位差進行相位補償，相位補償表包括各個本振頻率、信道參數及相位補償值之間的對應關系。

其進一步的技術方案為，整機校零系統還包括設置在微波暗室內的二維轉臺，微波探測設備設置在二維轉臺上，上位機連接并控制二維轉臺，二維轉臺帶動微波探測設備水平和/或俯仰向轉動至K個不同的轉臺位置；